全自動便攜互感器測試儀

　

 一.互感器測試(shi)儀設計(ji)用途

設計(ji)用(yong)(yong)于對保護類(lei)、計(ji)量類(lei)CT/PT進行(xing)自(zi)動測(ce)試(shi)，適用(yong)(yong)于實驗室(shi)也(ye)適用(yong)(yong)于現場檢測(ce)。

二.互感(gan)器(qi)測試(shi)儀(yi)參考標準

GB 1207-2006、GB 1208-2006

三.LYFA3000全自動便攜互感器測試儀主要特征

• 支持檢(jian)測CT和PT

• 滿足 GB1207、GB1208等規程要求(qiu).

• 無需外接(jie)其它輔助設備，單機即可(ke)完(wan)成所有檢(jian)測項目.

• 自帶微型快速(su)打(da)印(yin)機、可直接現場打(da)印(yin)測試結(jie)果.

• 操作簡(jian)便，帶有智能提(ti)示，使用(yong)戶更易(yi)上手操作。

• 大屏幕(mu)液晶，圖形化顯示接口.

• 按(an)規程自動(dong)給出(chu)CT/PT（勵磁）拐點值.

• 自(zi)動給出(chu)5%和10%誤差曲線.

• 可保存3000組測試資(zi)料，掉電后不丟失.

• 支持(chi)U盤轉存(cun)資(zi)料(liao)，可以通過標準的PC進行讀(du)取，并生成WORD報告.

• 小(xiao)巧輕便(bian)≤22Kg，非常利(li)于現場測試.

四、LYFA3000全自動便攜互感器測試儀主要測試功能：（見表1）

表1

五、LYFA3000主要技術參數：（見表2）

表2

5.1．工作條件要(yao)求

輸入電壓 220Vac±10%、額定頻率 50Hz；

測試儀應該(gai)由帶有(you)保護(hu)接(jie)地(di)(di)的(de)電源插座供電。如(ru)果保護(hu)地(di)(di)的(de)連(lian)接(jie)有(you)問題，或(huo)者電源沒(mei)有(you)對(dui)地(di)(di)的(de)隔(ge)離連(lian)接(jie)，仍然可以使用(yong)測試儀，但是我(wo)們不(bu)保證(zheng)安全；

參(can)數對(dui)應的(de)環境溫度是23℃±5℃；

保證值(zhi)在(zai)出廠校驗后一年內有效。

六、LYFA3000硬件結構

6.1．面板結構: （圖(tu)1）

圖1

6.2．面板注釋(shi)：

1 —— 設備接地端子

2 ——U盤轉存口

3 ——打(da)印機

4 ——液晶(jing)顯示器

5 ——控制器

6 ——過流保護(hu)（功率）開關

7 ——P1、P2：CT變比/極性試驗時(shi)，大電流輸出端(duan)口

8 ——S1、S2：CT變比(bi)/極性試驗時，二(er)次側(ce)接入端口

9 ——K1、K2：CT/PT勵(li)磁（伏安(an)）特性試驗(yan)時，電壓輸出(chu)端(duan)口(kou)

10 ——A、X ：PT變(bian)比/極性時，一次側接入端(duan)口(kou)

11 ——a、x ：PT變比(bi)/極性(xing)時，二次側接(jie)入端(duan)口

12 ——D1、D2 ：CT/PT 二(er)次直阻測(ce)試(shi)時，二(er)次側接入端口（選配）

13 ——主機電源(yuan)開關

14 ——主機電源插(cha)座(zuo)

15 、16、17、18、19、20——主要功(gong)能接線(xian)簡圖

七、LYFA3000操作方式及主界面介紹

7.1、控制器使用方法

控制(zhi)器有三(san)種操(cao)作狀(zhuang)態：“左(zuo)旋(xuan)”，“右旋(xuan)”，“按下”。使用(yong)(yong)控制(zhi)器的這(zhe)三(san)種操(cao)作可以方便(bian)的用(yong)(yong)來(lai)移動(dong)光標、輸入數據和選定項目(mu)等。

7.2、主菜單 （見(jian)圖(tu)2）

開機之后(hou)默認進入(ru)CT測(ce)(ce)試(shi)(shi)，CT測(ce)(ce)試(shi)(shi)主菜(cai)單(dan)共有“勵(li)磁(ci)”、“負荷”、“直阻(zu)”、“變比(bi)極性”、“角(jiao)差比(bi)差”、“交流耐壓”、“一(yi)次通流” 、“數據查(cha)詢”、“退(tui)磁(ci)” 、“PT”10種選(xuan)(xuan)項，可以(yi)使用旋轉控制(zhi)器進行選(xuan)(xuan)擇和設置。如圖(tu)(tu)2所示(shi)，當“類(lei)型”后(hou)面(mian)為帶有灰色背景的 CT 時，表(biao)示(shi)當前為CT測(ce)(ce)試(shi)(shi)。旋轉光標到“PT”并按下，則進入(ru)PT測(ce)(ce)試(shi)(shi)界面(mian)，如圖(tu)(tu)3。

PT測(ce)試(shi)(shi)主(zhu)菜單共有“勵磁”、“負荷”、“直阻”、“變(bian)比(bi)極性”、“角差比(bi)差”、“交(jiao)流(liu)耐壓”、“數據查詢”、“退磁” 、“CT”9種選項，可以使用旋(xuan)轉控制器進(jin)行選擇和設置。如圖3所示，當“類(lei)型(xing)”后面為帶有灰色背景的 PT 時(shi)表示當前為PT測(ce)試(shi)(shi)。旋(xuan)轉光(guang)標(biao)到(dao)“CT”并按(an)下，則進(jin)入CT測(ce)試(shi)(shi)界面，如圖2。

圖2， CT主界面                         圖3，PT主界面

八(ba)、CT測試

進(jin)行電流互感器測試時，請移動光標(biao)至CT，并(bing)選擇相應測試選項。

CT勵磁（伏安）特性測試

在CT主(zhu)界(jie)面中，選(xuan)擇“勵磁” 選(xuan)項后，即進(jin)入測試界(jie)面如圖(tu)4。

（1）、參數設置：

勵磁電(dian)流：設置(zhi)(zhi)范圍（0—20A）為儀器輸(shu)出的高設置(zhi)(zhi)電(dian)流，如果實驗中電(dian)流達(da)到(dao)設定值(zhi)，將會自動停止升流，以(yi)免損壞設備。通常電(dian)流設置(zhi)(zhi)值(zhi)大于等于1A，就可以(yi)測(ce)試(shi)到(dao)拐點(dian)值(zhi)。

勵磁電(dian)壓(ya)：設(she)(she)置(zhi)范圍（0—1000V）為(wei)儀器輸出的高設(she)(she)置(zhi)電(dian)壓(ya)，通常電(dian)壓(ya)設(she)(she)置(zhi)值(zhi)稍大于拐點電(dian)壓(ya)，這(zhe)樣可以使曲(qu)線(xian)(xian)顯示(shi)的比(bi)例(li)更加協(xie)調，電(dian)壓(ya)設(she)(she)置(zhi)過高，曲(qu)線(xian)(xian)貼近Y軸，電(dian)壓(ya)設(she)(she)置(zhi)過低(di)，曲(qu)線(xian)(xian)貼近X軸。如果實驗中電(dian)壓(ya)達到設(she)(she)定值(zhi)，將會自動停止升壓(ya)，以免(mian)損壞設(she)(she)備。

（2）、試(shi)驗(yan)：

接(jie)線(xian)圖見（圖5），測試(shi)(shi)儀(yi)的K1、K2為電壓輸出端，試(shi)(shi)驗時將K1、K2分別接(jie)互感(gan)器(qi)(qi)的S1、S2（互感(gan)器(qi)(qi)的所有(you)端子的連(lian)線(xian)都應斷開(kai)）。檢查接(jie)線(xian)無誤(wu)后，合上功率(lv)開(kai)關，選擇“開(kai)始”選項(xiang)，即(ji)開(kai)始測試(shi)(shi)。

試(shi)(shi)驗時(shi)，光標在(zai)“停(ting)止”選(xuan)項上，并不停(ting)閃爍，測(ce)試(shi)(shi)儀開始自動(dong)升壓、升流，當(dang)測(ce)試(shi)(shi)儀檢測(ce)完畢后(hou)，試(shi)(shi)驗結束并描繪(hui)出伏安(an)特性(xing)曲線圖（如圖6）。

注(zhu)意：圖4中“校準”功能：主要用(yong)于查看(kan)設備輸(shu)出電(dian)壓(ya)電(dian)流值，不用(yong)于互感器功能測試，詳情見附錄一。

圖4，CT勵(li)(li)磁(ci)特性測試界面             圖5， CT勵(li)(li)磁(ci)特性接線圖

圖(tu)6，CT勵磁(ci)曲線圖(tu)                ;     圖(tu)7，勵磁(ci)數據圖(tu)

圖(tu)8 ，誤(wu)差(cha)曲(qu)線參數設置(zhi)界面                 圖(tu)9，誤(wu)差(cha)曲(qu)線圖(tu)

2）、伏安特性（勵磁）測試結果操作說(shuo)明

試驗結(jie)束(shu)后，屏(ping)幕顯示(shi)出伏安特(te)性測(ce)試曲線（見(jian)圖6）。該界面上各(ge)操(cao)作功能如下：

打    印(yin)：控(kong)制器(qi)選擇“打印(yin)”后(hou)，先后(hou)打印(yin)伏(fu)安特性（勵(li)磁）曲線、數據，方便用戶(hu)做報告用。同時(shi)減少更換打印(yin)紙的頻率(lv)，節省時(shi)間，提高效率(lv)。

勵磁數(shu)據(ju)：將光標移動至“勵磁數(shu)據(ju)”選(xuan)(xuan)項選(xuan)(xuan)定，屏幕上將顯示伏安特性試驗的(de)測試數(shu)據(ju)列(lie)表（見圖7）。按下(xia)“退出(chu)”鍵即退回到伏安特性試驗曲線界面(mian)，控制器(qi)即可(ke)實現數(shu)據(ju)的(de)上下(xia)翻。當頁面(mian)翻轉(zhuan)不動時，則(ze)已到達后一頁。

保(bao)(bao)(bao)    存：控(kong)制器移動至“保(bao)(bao)(bao)存”選項(xiang)，按(an)下即可將當前(qian)所測(ce)(ce)數據(ju)保(bao)(bao)(bao)存，保(bao)(bao)(bao)存成功(gong)后，屏幕上顯示(shi)“保(bao)(bao)(bao)存完畢”。成功(gong)保(bao)(bao)(bao)存后，用戶(hu)如果(guo)再按(an)下“保(bao)(bao)(bao)存”鍵，程序會自(zi)動分辨，不保(bao)(bao)(bao)存相同的測(ce)(ce)試記錄。并且可在數據(ju)查(cha)詢菜單中進行查(cha)看(kan)。

誤(wu)差曲(qu)(qu)線(xian)：在圖6的(de)界面中(zhong)，將光標移至“誤(wu)差曲(qu)(qu)線(xian)”選定后，屏上將顯示伏(fu)安特性(xing)試(shi)驗的(de)誤(wu)差曲(qu)(qu)線(xian)的(de)設置（見圖8）。選定后計(ji)算出(chu)的(de)誤(wu)差曲(qu)(qu)線(xian)如圖9。

打印(yin)(yin)設定：光標移動(dong)至此選項，按(an)下(xia)即進入打印(yin)(yin)設置(zhi)界面（圖10），可根據(ju)要求選擇(ze)“默認(ren)”（程(cheng)序(xu)按(an)照一(yi)定步進打印(yin)(yin)大量電壓電流值），或選擇(ze)“自設定”（程(cheng)序(xu)會按(an)照表格中的10個電流值進行打印(yin)(yin)）。

以下四項為誤差曲線(xian)計算時的設(she)置項：

額定負(fu)(fu)荷 ：CT二次側額定負(fu)(fu)荷。

額定(ding)二(er)次(ci) ：CT的(de)二(er)次(ci)側(ce)額定(ding)電流(liu)

ALF ：準確限(xian)值系數，如：被(bei)測(ce)CT銘牌為“5P10”，“10”即為限(xian)制系數。

5% ：自(zi)動計算出5%誤差(cha)曲線(xian)數據并(bing)顯示誤差(cha)曲線(xian)。

10% ：自動計算出10%誤差曲線數據(ju)并顯示誤差曲線。

誤差曲(qu)線界面中(zhong)有三個(ge)選項：

打(da)印(yin)(yin) ：可(ke)打(da)印(yin)(yin)出(chu)誤差曲線圖及數(shu)據；

數據(ju)(ju) ：可顯示出誤差(cha)曲線(xian)相(xiang)關數據(ju)(ju)，查看方(fang)式同伏安特(te)性數據(ju)(ju)。

退出 ：可(ke)返回上一層菜單(dan)。

圖(tu)10，打印設置界面                 圖(tu)11，退磁(ci)界面

2、退磁試驗

1）參數設置：

在CT主界面中(zhong)，選擇(ze)“退磁(ci)”后，進入測試(shi)界面見(jian)圖11，設置 二次側額定電(dian)流： 1A或5A。

2）試(shi)驗：

接線(xian)圖(tu)見(jian)（圖(tu)5），測試儀的(de)K1、K2為電壓輸出(chu)端，試驗時將(jiang)K1、K2分別接互感(gan)(gan)器的(de)S1、S2（互感(gan)(gan)器的(de)所有端子的(de)連(lian)線(xian)都應斷開）。檢查接線(xian)無誤后，合上功率開關(guan)，選擇“開始”選項(xiang)，即開始退(tui)磁。

退磁(ci)過程中光(guang)標在“開始(shi)”選(xuan)項上不停(ting)閃爍(shuo)，直(zhi)至試驗(yan)完畢(bi)，裝置會自動停(ting)止，界(jie)面提示“退磁(ci)完畢(bi)”。

3、CT變比極(ji)性試驗

1）參數設置：

在CT主界面中，選擇“變比極性”后，進入測試界面見圖12，設置(zhi)一次(ci)側測試電流： 0 ～600A，測試儀P1、P2端子輸出(chu)的大電流；

二次側(ce)額(e)定電流： 1A或5A。

2）試驗：

接線圖見圖13，CT一次(ci)側(ce)接P1、P2，CT二(er)次(ci)側(ce)接S1、S2，不檢測(ce)的二(er)次(ci)繞(rao)組(zu)要短接，設置二(er)次(ci)側(ce)額定(ding)電流(liu)及編號后，合上功率開(kai)關(guan)，選擇“開(kai)始”選項，按(an)下控制器，試驗即開(kai)始。

試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)過程中(zhong)光(guang)標在(zai)“開始(shi)”選項上不停閃爍，直至試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)完(wan)(wan)(wan)畢退出(chu)自(zi)動測(ce)試(shi)(shi)界面，或按下控制器人為中(zhong)止試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)，裝置測(ce)試(shi)(shi)完(wan)(wan)(wan)畢后會自(zi)動停止試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)，試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)完(wan)(wan)(wan)成后，即顯示變(bian)比極性測(ce)試(shi)(shi)結(jie)果。可以選擇 “保(bao)存” 、“打印”及“退出(chu)”選項進(jin)行下一步操作。

儀器本身的(de)同色端子(zi)為(wei)(wei)同相端，即(ji)P1接CT的(de)P1，S1接CT的(de)S1時，極性的(de)測(ce)試結(jie)果為(wei)(wei)減極性。

圖12，CT變(bian)比極性測試界(jie)面         圖13，CT變(bian)比極性（角差(cha)比差(cha)）接線圖

4、CT角差(cha)比差(cha)試驗

1）參數(shu)設置：

在CT主界面中(zhong)，選擇“角差比差”后，進入測試界面（圖14），（注(zhu)：應參照(zhao)互感器(qi)銘牌(pai)上的(de)實際(ji)額定變比值設定）

額定(ding)一(yi)次：CT的一(yi)次額定(ding)電流：0～25000A

額定二次： 5A/1A。

額定負荷：互感器容量。

實際負(fu)荷：根(gen)據額(e)定負(fu)載(zai)的(de)設(she)定，可自動計算滿載(zai)與輕載(zai)兩種狀態值（輕載(zai)為滿載(zai)的(de)25％）。

2）試驗：

接(jie)線圖見(jian)圖13，CT一次側接(jie)P1、P2，CT二次側接(jie)S1、S2。設置參數并檢查接(jie)線無誤后，合(he)上(shang)功率開(kai)關，選(xuan)擇(ze)“開(kai)始”選(xuan)項，按(an)下(xia)控制器，試驗即開(kai)始。

試驗過程中通過按下控(kong)制器可終止(zhi)試驗，測試完畢后自(zi)動計算(suan)出一次側與二(er)次側的(de)(de)相位角差(cha)，實際測的(de)(de)變比值與用(yong)戶設(she)定的(de)(de)額定變比的(de)(de)百分比差(cha)（圖15）。可以選擇 “保(bao)存” 、“打印(yin)”及“退出”選項進(jin)行(xing)下一步操作。

圖14 ，CT角差(cha)比(bi)差(cha)測試界面         圖15，CT角差(cha)比(bi)差(cha)測試結果界面

5、CT一次(ci)通流試驗

1）參數(shu)設置：

在CT主界(jie)面中，選(xuan)擇“一次通流”后，進入測(ce)試界(jie)面（圖16），設(she)置好設(she)定電流值：0～600A。

2）試(shi)驗：

接(jie)線圖(tu)見圖(tu)17，CT一次側接(jie)P1、P2，CT二(er)次側接(jie)二(er)次負載。設置(zhi)好通(tong)流電流后，合上功(gong)率開(kai)關，旋轉控制器將光標移動至“開(kai)始”選項(xiang)，按下控制器，試驗即開(kai)始，電流保(bao)持時(shi)間以(yi)進度條顯示(shi)(0～200A:保(bao)持10分(fen)鐘(zhong)；大于200A～300A：保(bao)持2分(fen)鐘(zhong);大于300A：保(bao)持3秒鐘(zhong))。

圖16、CT一次通(tong)流(liu)測(ce)試界(jie)面(mian)             圖17、CT一次通(tong)流(liu)接線圖

CT交流耐壓試驗

1）參數設置：

在CT主界面(mian)中，選擇“交(jiao)流耐(nai)壓(ya)(ya)”后(hou)，進(jin)入測試界面(mian)（圖(tu)18），設置好設定電壓(ya)(ya)值：0～1000V。

2）實驗：

接(jie)(jie)線(xian)圖(tu)見(jian)圖(tu)19，被測CT二次(ci)側(ce)短接(jie)(jie)與測試儀電壓輸(shu)出(chu)口K2連(lian)接(jie)(jie)，電壓輸(shu)出(chu)口另一端K1連(lian)接(jie)(jie)互感器(qi)(qi)外(wai)殼。檢查接(jie)(jie)線(xian)完成后，合(he)上功率開關，選擇(ze) “開始”選項(xiang)，按下即開始升壓，電壓保持時(shi)間默認為1分鐘，測試過程(cheng)中(zhong)，儀器(qi)(qi)內部(bu)對互感器(qi)(qi)二次(ci)繞組與外(wai)殼之間的漏電流實時(shi)檢測，如(ru)果發現(xian)電流迅速(su)增加，將會自(zi)動(dong)回零，頁面會顯示“不合(he)格”。

圖(tu)18，CT交流耐壓測試界面           圖(tu)19，CT交流耐壓接線圖(tu)

7、CT負荷試驗(yan)

參數設置(zhi)：

在(zai)CT測(ce)試主界面(mian)中，選擇進入“負荷”試驗(yan)界面(mian)（如圖20），設置二(er)次側額定電流(liu)： 1A或5A。

線電阻：只在測試負(fu)(fu)載箱時使用（按照負(fu)(fu)載箱銘(ming)牌設定）

試驗：

測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)的K1、K2為電壓(ya)輸出端，參照圖21進行(xing)接(jie)線(xian)，將被測(ce)(ce)負(fu)荷（負(fu)載）接(jie)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)的K1、K2端，檢查接(jie)線(xian)無(wu)誤后，選擇(ze)“開(kai)始”即開(kai)始試(shi)驗，試(shi)驗完成后，即顯示負(fu)荷性測(ce)(ce)試(shi)結果，可以選擇(ze) “保存” 、“打印”及“退出”選項進行(xing)下(xia)一步操(cao)作。

圖(tu)20，CT二(er)次負(fu)荷(he)測試界面        圖(tu)21，CT二(er)次負(fu)荷(he)接線(xian)圖(tu)

8、直阻(zu)測試：

1）、校零：

在CT測(ce)試(shi)(shi)主界面(mian)(mian)(mian)中，選擇進入“直阻(zu)”試(shi)(shi)驗(yan)界面(mian)(mian)(mian)（如圖(tu)22），試(shi)(shi)驗(yan)前應先對(dui)測(ce)試(shi)(shi)用導(dao)線(xian)進行校(xiao)零(ling)，在CT主界面(mian)(mian)(mian)顯(xian)示菜(cai)單(dan)上(shang)通(tong)過(guo)控制器選中 直阻(zu)測(ce)試(shi)(shi)項，進入直阻(zu)測(ce)試(shi)(shi)界面(mian)(mian)(mian)并選擇“校(xiao)零(ling)”, 校(xiao)零(ling)前將測(ce)試(shi)(shi)導(dao)線(xian)的線(xian)夾對(dui)接(jie)(jie)（測(ce)試(shi)(shi)線(xian)短接(jie)(jie)）（圖(tu)23），然后(hou)進行校(xiao)零(ling)，校(xiao)零(ling)完成后(hou)，界面(mian)(mian)(mian)提示“校(xiao)零(ling)完畢”。

2）、試驗：

校(xiao)零結束后，參照圖24接好測試(shi)(shi)(shi)(shi)線，測試(shi)(shi)(shi)(shi)儀的D1、D2接被測繞組，選(xuan)中 “開始” 鍵即(ji)開始測試(shi)(shi)(shi)(shi)，試(shi)(shi)(shi)(shi)驗完成后，即(ji)顯(xian)示直阻測試(shi)(shi)(shi)(shi)結果，可以(yi)選(xuan)擇 “保(bao)存” 、“打印(yin)”及“退出”選(xuan)項進(jin)行下(xia)一步操(cao)作。

圖22，直阻(zu)測試界面(mian)                圖23，導線阻(zu)值清零(ling)接線圖

圖24，直阻測試接線(xian)圖

9.PT測(ce)試(shi)

進(jin)行電壓互感(gan)器(qi)功能測試(shi)時，請移(yi)動光標至PT，并選(xuan)(xuan)擇相應測試(shi)選(xuan)(xuan)項。

1、PT勵磁特性測試

1)、參數設置(zhi)

在PT測試(shi)主(zhu)界面中(zhong)，選擇進入“勵磁”試(shi)驗(yan)界面（如圖25），勵磁電(dian)流(liu)(liu)(liu)（0～20A）：輸出電(dian)流(liu)(liu)(liu)為儀器輸出的高設置電(dian)流(liu)(liu)(liu)，如果試(shi)驗(yan)中(zhong)電(dian)流(liu)(liu)(liu)達(da)到設定值，將會自動停止升流(liu)(liu)(liu)。通常1A即(ji)可測試(shi)出拐點(dian)值。

勵磁電壓：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗：

參照圖26接線(xian)，測(ce)試儀的(de)為電(dian)壓輸出(chu)端，試驗時(shi)將K1、K2分別接互感器的(de)a、x ，電(dian)壓互感器的(de)一次繞(rao)組的(de)零(ling)位端接地。檢查接線(xian)無(wu)誤后，合上功率開(kai)關(guan)，選項(xiang)“開(kai)始(shi)” 選項(xiang)后，即開(kai)始(shi)測(ce)試。

試(shi)(shi)驗(yan)時，光標在“開始(shi)”選項上(shang)，并不停(ting)閃(shan)爍，測試(shi)(shi)儀開始(shi)自動(dong)升(sheng)壓、升(sheng)流，當測試(shi)(shi)儀檢(jian)測完(wan)畢(bi)后，試(shi)(shi)驗(yan)結(jie)束(shu)并描繪出伏安特(te)性曲(qu)線圖。

圖(tu)(tu)25，PT勵(li)磁特(te)性參數設置界面(mian)            圖(tu)(tu)26，PT勵(li)磁特(te)性接線(xian)圖(tu)(tu)

3）、PT（勵磁(ci)）測試結果操作說(shuo)明

請參考8頁(ye)CT測(ce)試結果(guo)說明

PT退磁試驗

圖27，PT退(tui)磁界(jie)面

1)、參數(shu)設置

在PT測試主(zhu)界面中，選擇(ze)進入“退磁”試驗界面（如圖27），設置額定二次電壓值：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試(shi)驗：

參照圖26接(jie)線，測試儀的(de)(de)為電壓(ya)輸出(chu)端(duan)，試驗(yan)時將K1、K2分別接(jie)互感器(qi)的(de)(de)a、x ，電壓(ya)互感器(qi)的(de)(de)一次繞組(zu)的(de)(de)零位(wei)端(duan)接(jie)地。檢(jian)查接(jie)線無誤后(hou)(hou)，合(he)上功率(lv)開關，選項(xiang)“開始(shi)” 選項(xiang)后(hou)(hou)，即開始(shi)退磁。

退磁過程中時，光(guang)標(biao)在“開始”選項上，并(bing)不停閃爍，當(dang)測試(shi)儀檢(jian)測完(wan)(wan)畢(bi)后，，裝(zhuang)置退磁會自動停止，界面(mian)提示“退磁完(wan)(wan)畢(bi)”。

3、PT變比極性試驗

1）參數設(she)置：測試界面見圖(tu)28。

一次(ci)：0～1000V。

二次：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）開(kai)始試驗：

參照圖29進(jin)行接線，PT一次側(ce)接A、X，PT二(er)次側(ce)接a、x。設置二(er)次側(ce)額定電壓及編號(hao)后，合(he)上(shang)功(gong)率開(kai)關，選(xuan)擇 “開(kai)始”選(xuan)項，按下控(kong)制器，試驗即開(kai)始。

試(shi)驗(yan)過程(cheng)中光標在“開始(shi)”選(xuan)(xuan)項上不(bu)停閃(shan)爍，直至試(shi)驗(yan)完(wan)畢退出測(ce)試(shi)界面，或按下控制器(qi)人(ren)為中止試(shi)驗(yan)，試(shi)驗(yan)完(wan)成后，即(ji)顯(xian)示變(bian)比極性測(ce)試(shi)結(jie)果。可以選(xuan)(xuan)擇(ze) “保存” 、“打印(yin)”及“退出”選(xuan)(xuan)項進行(xing)下一步(bu)操作。

儀器(qi)本身(shen)的(de)同色端子為(wei)同相端，即A接PT的(de)A，X接PT的(de)X時(shi)，極性的(de)測試結果為(wei)減極性。

圖(tu)(tu)28，PT變(bian)比(bi)(bi)極性測試界(jie)面     圖(tu)(tu)29，PT變(bian)比(bi)(bi)極性（角(jiao)差比(bi)(bi)差）接線圖(tu)(tu)

4、PT角差(cha)比差(cha)試驗

1）參數設置：

在(zai)PT測試(shi)主界(jie)面(mian)中，選擇進入“角差(cha)比差(cha)”試(shi)驗界(jie)面(mian)（如圖30），（注：應參照互感器銘牌上的實(shi)際額定變(bian)比值設(she)定）

額定一次： 3～500KV

額定(ding)二(er)次(ci)： 100V、100/√3、100/3、150V、220V

額定負荷：互感器容量(liang)。

實(shi)際負(fu)荷：根據額定負(fu)載(zai)的(de)設定，可自動計算滿載(zai)與輕載(zai)兩種(zhong)狀(zhuang)態值（輕載(zai)為滿載(zai)的(de)25％）。

2）試驗(yan)：

參照圖(tu)29進行接線，PT一次側接A、X，CT二(er)次側接a、x。設置參數后，旋轉控(kong)制(zhi)器將光標移(yi)動至“開始(shi)”選項，按下控(kong)制(zhi)器，試驗即開始(shi)。

試(shi)驗過(guo)程中通過(guo)按下控(kong)制器(qi)可終止(zhi)試(shi)驗，測(ce)試(shi)完畢后自動(dong)計算出(chu)一次(ci)側(ce)與二次(ci)側(ce)的相位角差，實際測(ce)的變比(bi)值(zhi)與用戶設(she)定的額定變比(bi)的百(bai)分比(bi)差（圖(tu)31）。按下 “打印”即(ji)可打印出(chu)測(ce)試(shi)結(jie)果， “保(bao)存(cun)”即(ji)可保(bao)存(cun)測(ce)試(shi)結(jie)果， “退出(chu)”可返回至參數(shu)設(she)置菜單。如(ru)果顯(xian)示(shi)均為9，則說明(ming)誤差超出(chu)顯(xian)示(shi)范圍，請(qing)檢查(cha)設(she)定值(zhi)。

圖(tu)30 ，PT角差(cha)(cha)比(bi)差(cha)(cha)測試界面    ;   圖(tu)31，PT角差(cha)(cha)比(bi)差(cha)(cha)測試結果界面

5、PT交流耐壓試驗

1）.參數設置(zhi)：

在PT測(ce)試(shi)主界(jie)面(mian)中，選擇(ze)進(jin)入“交(jiao)流耐壓”試(shi)驗界(jie)面(mian)（如圖32），設(she)(she)置好(hao)設(she)(she)定電(dian)壓值：0～1000V。

2）.實驗：

參照圖33接線(xian)，被測(ce)PT二(er)次(ci)側短接與(yu)測(ce)試儀電(dian)(dian)壓輸出口K2連接，電(dian)(dian)壓輸出口另一端K1連接互(hu)感器(qi)外殼(ke)。檢(jian)查接線(xian)完(wan)成后，合上(shang)功率開關(guan)，選擇 “開始”選項，按下(xia)即開始升壓，電(dian)(dian)壓保(bao)持時間默認為1分鐘(zhong)，測(ce)試過程中，儀器(qi)內部(bu)對互(hu)感器(qi)二(er)次(ci)繞組與(yu)外殼(ke)之間的漏電(dian)(dian)流實時檢(jian)測(ce)，如果發(fa)現電(dian)(dian)流迅速增加，將會(hui)自動回零，頁面會(hui)顯示測(ce)試異常。

圖32，PT交流耐(nai)壓(ya)測(ce)試界面              圖33，PT交流耐(nai)壓(ya)接線圖

6、PT負荷試驗

1）.參數設(she)置(zhi)：

在PT測試主界面中(zhong)，選擇(ze)進(jin)入“負荷”試驗界面（如圖34），設(she)置額定二次電壓值(zhi)：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）.試驗：

測(ce)試(shi)儀的(de)K1、K2為電壓輸出端，參照圖35進(jin)行(xing)接(jie)線，將被(bei)測(ce)負(fu)荷（負(fu)載(zai)）接(jie)測(ce)試(shi)儀的(de)K1、K2端，檢查(cha)接(jie)線無誤后，合上功率(lv)開(kai)關，選(xuan)擇(ze)“開(kai)始”即開(kai)始試(shi)驗(yan)，試(shi)驗(yan)完成后，即顯示負(fu)荷性(xing)測(ce)試(shi)結果，可以選(xuan)擇(ze) “保(bao)存” 、“打印”及“退出”選(xuan)項(xiang)進(jin)行(xing)下(xia)一步操作(zuo)。

圖34，PT二(er)次負(fu)荷(he)測(ce)試界面(mian)            圖35，PT二(er)次負(fu)荷(he)接(jie)線圖

7、直阻測(ce)試：

請參照第14頁(ye)CT直阻測試。

十.數據查詢

在CT/PT測(ce)試主界(jie)(jie)面中，選(xuan)擇進入“數據(ju)查(cha)詢”試驗(yan)界(jie)(jie)面（如圖(tu)36），根據(ju)需要選(xuan)擇“勵磁”、“負(fu)荷”、“直阻”、“變比極性”、“角差比差”、“退(tui)出”等測(ce)試選(xuan)項(xiang)，選(xuan)定測(ce)試項(xiang)目(mu)(mu)后，進入圖(tu)39測(ce)試界(jie)(jie)面，顯示儀器中該項(xiang)目(mu)(mu)下所(suo)保存的的測(ce)試結果(guo)，可以選(xuan)擇 “上頁(ye)” 、“下頁(ye)”、“轉存”、“退(tui)出”、“清除(chu)”選(xuan)項(xiang)進行相應操作。

轉存時(shi)，插上U盤至測試儀通訊口“USB”，在圖37中，點擊“轉存”則會(hui)將當前頁(ye)面(mian)下所顯示(shi)的測試記錄(lu)轉存進入U盤之(zhi)中。每條記錄(lu)所用時(shi)間約2秒鐘，轉存結束(shu)后，界(jie)面(mian)提示(shi)“轉存完畢”。

圖36                                 圖37

十一.PC機操作軟件使用說(shuo)明(ming)

將配套光盤放(fang)入計(ji)算機光驅中，解壓“軟件”至C盤根目錄。

11.2首先，安(an)(an)裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安(an)(an)裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默(mo)認(ren)安(an)(an)裝地址即可。

11.3安裝完畢后，打(da)開(kai)“伏(fu)安特性”文件夾，選擇打(da)開(kai)“VATeXing.exe”操(cao)作(zuo)軟件，如圖38即為上位機操(cao)作(zuo)軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟(ruan)件中(zhong)，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應用語(yu)言“中(zhong)文(wen)”或“英文(wen)”。

11.5如需生成報告格式文(wen)件，必須載入試驗結果數據，具體操作方法如下：

a）、將存儲試(shi)驗數據的U盤連(lian)接至計算機。

b）、在圖(tu)38中選擇打開“選擇文(wen)(wen)件(jian)”，出現(xian)圖(tu)39操作窗口，在圖(tu)39中可根據需(xu)要(yao)載入(ru)所需(xu)文(wen)(wen)件(jian)。

c）、試驗(yan)結(jie)(jie)果(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)說(shuo)明：以(yi)“A”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭(tou)(tou)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)勵磁特性(xing)結(jie)(jie)果(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)，以(yi)“B”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭(tou)(tou)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)變(bian)比極性(xing)結(jie)(jie)果(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)，以(yi)“C”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭(tou)(tou)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)負荷結(jie)(jie)果(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)，以(yi)“D”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭(tou)(tou)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)直(zhi)阻(zu)結(jie)(jie)果(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)。以(yi)“E”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭(tou)(tou)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)角差比差結(jie)(jie)果(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)，以(yi)“T”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭(tou)(tou)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)暫態(tai)結(jie)(jie)果(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)。

11.6 載(zai)入(ru)數據結(jie)束后(hou)，選擇“確定(ding)”出現圖40界面(mian)，在此界面(mian)右上方(fang)設置相應(ying)參(can)數后(hou)，選擇“生(sheng)成(cheng)誤差曲線”則完成(cheng)所有試驗結(jie)果的(de)載(zai)入(ru)。

11.7 載入(ru)全部完(wan)成后，可根據(ju)需(xu)要選擇“保存”或打印結果數據(ju)。

11.8  選(xuan)擇“保存”選(xuan)項(xiang)，則以WORD的(de)形式(shi)顯示結果如圖41。

11.9  如需繼續(xu)加載(zai)試驗結果數據，請先(xian)清除(chu)上次載(zai)入的數據。

圖38

圖39

圖(tu)40

圖41

附  錄

附錄一、 “校準”測試方(fang)法（以CT為例）

圖42，校(xiao)準測試主界面               圖43，電壓校(xiao)準接(jie)線圖

圖44，電流校準接線(xian)圖

1）參數(shu)設置：

進入(ru)CT“勵(li)磁(ci)”測(ce)試界面后，選擇進入(ru)“校(xiao)準”試驗(yan)界面（如圖42），設定好勵(li)磁(ci)電流值(zhi)：0.1A ～ 5A;勵(li)磁(ci)電壓值(zhi)：1V～1000V。

2）開始：

電(dian)壓校準(zhun)試(shi)驗參照圖(tu)43進(jin)行接線；設置好被測電(dian)壓后，合上功率(lv)開關，選擇 “開始”選項(xiang)，按(an)下控制器，試(shi)驗即(ji)開始，試(shi)驗到(dao)達設定值后將(jiang)保持輸出電(dian)壓/電(dian)流值用于檢測，檢測完畢(bi)后，按(an)下控制器，試(shi)驗返回圖(tu)42界面(mian)。

電(dian)流(liu)校準試(shi)驗參(can)照圖(tu)44進行接線(xian)，電(dian)壓(ya)設(she)定值略高于(yu)【電(dian)流(liu)設(she)定值（A）*負載(zai)（Ω）】，設(she)置好(hao)被測(ce)電(dian)流(liu)/電(dian)壓(ya)值后(hou)，合上功率開關，選(xuan)擇 “開始”選(xuan)項(xiang)，按下控制器(qi)，試(shi)驗即(ji)開始，試(shi)驗到達設(she)定值后(hou)將保持輸出電(dian)流(liu)/電(dian)壓(ya)值用于(yu)檢(jian)測(ce)，檢(jian)測(ce)完畢后(hou)，按下控制器(qi)，試(shi)驗返(fan)回圖(tu)42界(jie)面。

附錄二、售后服務承諾 ，本產品保修一年，終身維護。
附錄三、誤差曲線說明

根(gen)據互感(gan)器(qi)二次側(ce)的勵磁(ci)電流(liu)和電壓計算(suan)出的電流(liu)倍數（M）與(yu)允許二次負荷（ZII）之(zhi)間的5%、10%誤差(cha)曲線的數據中也可判斷互感(gan)器(qi)保護繞組是否合格(ge)：

1）在接近理論(lun)(lun)電流(liu)倍數(shu)下所測量的實際負(fu)荷大于互(hu)感器(qi)銘(ming)牌上理論(lun)(lun)負(fu)荷值，說明(ming)該(gai)互(hu)感器(qi)合格如圖45數(shu)據說明(ming)；

2）在接近理(li)論負荷下所(suo)測量(liang)的(de)實際電流(liu)倍(bei)數大(da)于(yu)互感器(qi)銘牌上的(de)理(li)論電流(liu)倍(bei)數,也(ye)說明該(gai)互感器(qi)合格如圖(tu)45數據(ju)說明；

保(bao)護(hu)(hu)用電(dian)流互(hu)(hu)感器二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)應滿足5%誤(wu)差(cha)曲線的(de)(de)(de)(de)(de)要(yao)(yao)求，只(zhi)要(yao)(yao)電(dian)流互(hu)(hu)感器二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)實際負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)小于(yu)5%誤(wu)差(cha)曲線允(yun)許(xu)的(de)(de)(de)(de)(de)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)，在額(e)(e)(e)定(ding)電(dian)流倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)數(shu)(shu)下，合(he)格的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)流互(hu)(hu)感器的(de)(de)(de)(de)(de)測量誤(wu)差(cha)即在5%以內。二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)越(yue)大(da)，電(dian)流互(hu)(hu)感器鐵(tie)心就(jiu)越(yue)容(rong)易飽和，所(suo)(suo)允(yun)許(xu)的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)流倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)數(shu)(shu)就(jiu)越(yue)小。因(yin)此，5%誤(wu)差(cha)曲線即n/ZL曲線為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)圖9所(suo)(suo)示曲線。在圖45中例(li)所(suo)(suo)示（所(suo)(suo)測保(bao)護(hu)(hu)用CT為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)5P10 20VA）：其(qi)中5為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)準確級（誤(wu)差(cha)極限為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)5％），P為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)互(hu)(hu)感器形式（保(bao)護(hu)(hu)級），10為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)準確限值系(xi)數(shu)(shu)（10倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)額(e)(e)(e)定(ding)電(dian)流），20VA表示額(e)(e)(e)定(ding)二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)（容(rong)量）。電(dian)流倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)數(shu)(shu)為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)10.27倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)（接(jie)近10倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)）時(shi)，所(suo)(suo)允(yun)許(xu)的(de)(de)(de)(de)(de)二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)27.19Ω,大(da)于(yu)該(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)(de)額(e)(e)(e)定(ding)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)20VA(20VA/1=20Ω),通過該(gai)(gai)數(shu)(shu)據可(ke)判斷該(gai)(gai)互(hu)(hu)感器合(he)格。另外(wai)，在二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)19.58Ω(接(jie)近20Ω) 所(suo)(suo)允(yun)許(xu)的(de)(de)(de)(de)(de)二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)27.19Ω,大(da)于(yu)該(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)(de)額(e)(e)(e)定(ding)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)20VA(20VA/1=20Ω),通過該(gai)(gai)數(shu)(shu)據可(ke)判斷該(gai)(gai)互(hu)(hu)感器合(he)格。另外(wai)，在二(er)(er)(er)次(ci)(ci)(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)(he)(he)(he)為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)19.58Ω(接(jie)近20Ω)時(shi)，所(suo)(suo)允(yun)許(xu)的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)流倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)數(shu)(shu)為(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)12.85倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)，大(da)于(yu)該(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)(de)額(e)(e)(e)定(ding)電(dian)流倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)數(shu)(shu)（10倍(bei)(bei)(bei)(bei)(bei)），通過該(gai)(gai)數(shu)(shu)據也可(ke)判斷該(gai)(gai)互(hu)(hu)感器合(he)格。其(qi)實，只(zhi)要(yao)(yao)找出這兩個關鍵點中的(de)(de)(de)(de)(de)任意一(yi)個，即可(ke)判斷所(suo)(suo)測互(hu)(hu)感器是否合(he)格。

如果10％誤差(cha)不符合要求一般的做(zuo)法(fa)有：

增(zeng)大二次電纜界面積（減少二次阻抗）

串(chuan)接同型同變比(bi)電流(liu)互感器（減少互感器勵(li)磁電流(liu)）

改用伏安特性較高的(de)繞組（勵(li)磁(ci)阻抗增大）

提(ti)高電(dian)流互感器變比（增大勵磁阻抗(kang)）

圖45

誤(wu)差曲(qu)線(xian)計算公(gong)式：

M =（I*P）/N                   ZII =（U-（I*Z2））/(K*I)

I 電(dian)流                    ;     U 電(dian)壓

N=1  (1A 額定(ding)電流)             I 電流

N=5  (5A 額(e)定(ding)電流)      ;       Z2 CT二次側阻抗

P=20 （5％誤差曲線(xian) ）          K=19（5％誤差曲線(xian).1A 5A 額定電流(liu)）

P=10 （10％誤差(cha)曲線 ）         K=9 （10％誤差(cha)曲線.1A 5A 額定電流）

附錄四、時間設置(zhi)說明

開(kai)機前(qian)先按下旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)不要松開(kai)，打(da)開(kai)電源，當(dang)進(jin)度條進(jin)完后(hou)(hou)停(ting)3秒之后(hou)(hou)，松開(kai)旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)，此時(shi)可(ke)(ke)看到如圖46的界(jie)面，此時(shi)旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)“控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)”把前(qian)兩(liang)個99設(she)(she)置(zhi)為(wei)01，按下“控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)”。光(guang)標移動到后(hou)(hou)兩(liang)位的99，再(zai)(zai)次旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)“控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)”，把后(hou)(hou)兩(liang)位也(ye)設(she)(she)置(zhi)為(wei)01，按下“控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)”。此時(shi)可(ke)(ke)進(jin)入(ru)到界(jie)面47，在此界(jie)面中可(ke)(ke)設(she)(she)置(zhi)時(shi)間，設(she)(she)置(zhi)方式是先按下控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)，再(zai)(zai)旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)設(she)(she)置(zhi)數字，設(she)(she)置(zhi)完畢后(hou)(hou)再(zai)(zai)次按下控(kong)(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)表示(shi)確認，光(guang)標會進(jin)入(ru)到下個選項。

圖(tu)46          ;                      圖(tu)47

附(fu)錄五、智(zhi)能提(ti)示說明(ming)

在做各(ge)種測試時，新(xin)上(shang)手的(de)用(yong)戶可能(neng)會對接線及操作(zuo)不熟(shu)練，導致實驗(yan)數(shu)據出現錯誤(wu)的(de)結果(guo)。在這種情況下，會讓您無所適從，基于此我們加上(shang)了一些(xie)簡單的(de)智(zhi)能(neng)提(ti)示，使(shi)新(xin)用(yong)戶更易(yi)上(shang)手，使(shi)老用(yong)戶減少誤(wu)操作(zuo)。

如圖48到圖51，舉例說明了伏安特性與變比極性測試(shi)時易(yi)出現的一些問題。

伏安特(te)性(xing)測(ce)試(shi)時空開(kai)（功率開(kai)關）忘記打(da)開(kai)的提示。

伏安特性測試時接(jie)線錯誤的提(ti)示。（CT的二(er)次繞組應接(jie)在(zai)K1/K2,有時用戶會(hui)誤接(jie)在(zai)S1/S2）。

變比極性測試(shi)時空開忘記打開或者一次電流(liu)線沒有接上。

變比極性測試時CT二次的(de)接線沒有接對。

圖(tu)48                                圖(tu)49

圖50                                  圖51