上海本地產互感器測試儀

　

 一(yi).設計用途(tu)

設(she)計(ji)用(yong)于(yu)對(dui)保(bao)護類(lei)、計(ji)量(liang)類(lei)CT/PT進行(xing)自動測試，適用(yong)于(yu)實驗室也(ye)適用(yong)于(yu)現場檢(jian)測。

二.參考標準

GB 1207-2006、GB 1208-2006

三.LYFA3000上海本地產互感器測試儀主要特征

• 支(zhi)持(chi)檢測CT和PT

• 滿足 GB1207、GB1208等規程要(yao)求.

• 無需(xu)外接其它(ta)輔助(zhu)設備，單機即(ji)可完(wan)成所有檢(jian)測項目.

• 自帶微型快(kuai)速打(da)印機、可直接現場打(da)印測(ce)試結果.

• 操作簡便，帶有智能提示，使用戶更易上(shang)手操作。

• 大屏(ping)幕(mu)液晶，圖形化顯示接(jie)口.

• 按規程(cheng)自動(dong)給(gei)出CT/PT（勵磁）拐點(dian)值.

• 自(zi)動(dong)給出5%和(he)10%誤(wu)差曲(qu)線.

• 可保存3000組測試資料，掉電后不丟失.

• 支持U盤轉存(cun)資料，可以通過(guo)標準的PC進行讀取(qu)，并生成WORD報告.

• 小巧輕便≤22Kg，非常利于現(xian)場測試.

四、LYFA3000上海本地產互感器測試儀主要測試功能：（見表1）

表1

五、LYFA3000主要技術參數：（見表2）

表2

5.1．工作條件(jian)要求

輸入電壓 220Vac±10%、額定頻率 50Hz；

測試儀(yi)應該由帶有保護接(jie)地(di)的電(dian)源(yuan)(yuan)插座供電(dian)。如果保護地(di)的連(lian)接(jie)有問題，或者電(dian)源(yuan)(yuan)沒有對地(di)的隔(ge)離連(lian)接(jie)，仍然可以(yi)使用測試儀(yi)，但是(shi)我們不保證安全；

參數對應的(de)環境溫度(du)是23℃±5℃；

保證值(zhi)在出廠校驗后(hou)一(yi)年內有效。

六、LYFA3000硬件結構

6.1．面板結構: （圖1）

圖1

6.2．面板注(zhu)釋(shi)：

1 —— 設(she)備接地端子(zi)

2 ——U盤轉(zhuan)存口

3 ——打印機

4 ——液晶顯示(shi)器(qi)

5 ——控制器

6 ——過流保護（功率）開(kai)關

7 ——P1、P2：CT變比(bi)/極性試驗時(shi)，大電流輸(shu)出端口(kou)

8 ——S1、S2：CT變比/極性試驗時，二(er)次側(ce)接入端(duan)口

9 ——K1、K2：CT/PT勵磁(ci)（伏(fu)安）特性試驗時，電(dian)壓輸(shu)出端口

10 ——A、X ：PT變比/極(ji)性(xing)時，一次(ci)側接入端口(kou)

11 ——a、x ：PT變比/極性時，二次側(ce)接入端口(kou)

12 ——D1、D2 ：CT/PT 二次直(zhi)阻(zu)測試時(shi)，二次側接入端口（選配）

13 ——主機電源開關

14 ——主機電(dian)源(yuan)插座

15 、16、17、18、19、20——主(zhu)要(yao)功能接線簡圖(tu)

七、LYFA3000操作方式及主界面介紹

7.1、控制器(qi)使用方法

控(kong)(kong)制器有三種操作狀態：“左旋”，“右旋”，“按下(xia)”。使用(yong)控(kong)(kong)制器的(de)這(zhe)三種操作可以方(fang)便的(de)用(yong)來移動光標、輸入數據和選定項目等。

7.2、主(zhu)菜單 （見圖2）

開機之后(hou)默(mo)認(ren)進(jin)入CT測(ce)試(shi)，CT測(ce)試(shi)主(zhu)菜單(dan)共(gong)有“勵磁”、“負荷(he)”、“直阻”、“變比(bi)極性”、“角差(cha)比(bi)差(cha)”、“交流耐壓”、“一(yi)次通(tong)流” 、“數據(ju)查詢”、“退(tui)磁” 、“PT”10種(zhong)選項，可以(yi)使用旋轉(zhuan)控(kong)制(zhi)器進(jin)行選擇和(he)設置。如圖2所示，當“類型”后(hou)面為帶有灰色背景(jing)的 CT 時，表(biao)示當前為CT測(ce)試(shi)。旋轉(zhuan)光標(biao)到(dao)“PT”并按(an)下，則進(jin)入PT測(ce)試(shi)界(jie)面，如圖3。

PT測試(shi)(shi)主菜單共有“勵磁”、“負荷”、“直阻”、“變比(bi)極性”、“角差(cha)比(bi)差(cha)”、“交流耐壓(ya)”、“數據查詢(xun)”、“退磁” 、“CT”9種選項(xiang)，可以使用旋轉控制器進(jin)行(xing)選擇和設置(zhi)。如(ru)圖(tu)3所(suo)示，當“類(lei)型”后面為(wei)帶(dai)有灰色背景的 PT 時表示當前為(wei)PT測試(shi)(shi)。旋轉光標(biao)到“CT”并按下(xia)，則(ze)進(jin)入CT測試(shi)(shi)界面，如(ru)圖(tu)2。

圖2， CT主界面                         圖3，PT主界面

八、CT測試

進(jin)行電(dian)流互感(gan)器測試時，請移動光(guang)標至CT，并(bing)選擇(ze)相應測試選項(xiang)。

CT勵(li)磁（伏安）特(te)性測試

在CT主(zhu)界(jie)面中(zhong)，選擇(ze)“勵磁” 選項后，即進入測試界(jie)面如圖4。

（1）、參(can)數設置：

勵(li)磁電(dian)流(liu)(liu)：設(she)置范(fan)圍（0—20A）為儀器(qi)輸出的(de)高(gao)設(she)置電(dian)流(liu)(liu)，如果實驗中電(dian)流(liu)(liu)達(da)到(dao)(dao)設(she)定值(zhi)，將(jiang)會自(zi)動停止升流(liu)(liu)，以(yi)免損壞設(she)備。通常(chang)電(dian)流(liu)(liu)設(she)置值(zhi)大(da)于等于1A，就(jiu)可以(yi)測(ce)試(shi)到(dao)(dao)拐點值(zhi)。

勵磁電壓(ya)：設(she)(she)(she)置(zhi)范圍（0—1000V）為儀器輸(shu)出的高(gao)設(she)(she)(she)置(zhi)電壓(ya)，通常電壓(ya)設(she)(she)(she)置(zhi)值稍大于拐點電壓(ya)，這樣可(ke)以使曲(qu)線(xian)顯示的比例(li)更加協(xie)調(diao)，電壓(ya)設(she)(she)(she)置(zhi)過高(gao)，曲(qu)線(xian)貼近(jin)Y軸，電壓(ya)設(she)(she)(she)置(zhi)過低，曲(qu)線(xian)貼近(jin)X軸。如果實驗(yan)中電壓(ya)達(da)到設(she)(she)(she)定值，將(jiang)會(hui)自動停(ting)止升壓(ya)，以免損壞設(she)(she)(she)備(bei)。

（2）、試驗：

接線(xian)圖見（圖5），測試儀的(de)K1、K2為電壓輸(shu)出(chu)端，試驗時將K1、K2分別接互感器(qi)的(de)S1、S2（互感器(qi)的(de)所有端子的(de)連線(xian)都(dou)應斷開）。檢查(cha)接線(xian)無誤后(hou)，合(he)上功率開關，選(xuan)擇(ze)“開始(shi)”選(xuan)項，即(ji)開始(shi)測試。

試驗時，光標在“停止”選項上，并(bing)(bing)不停閃爍，測(ce)試儀(yi)開(kai)始自動升(sheng)壓、升(sheng)流(liu)，當測(ce)試儀(yi)檢測(ce)完畢后，試驗結束并(bing)(bing)描繪出伏安特性曲線圖(tu)（如圖(tu)6）。

注意：圖4中“校準”功能：主要(yao)用于查看設(she)備輸出電壓電流值，不用于互感器功能測試，詳(xiang)情見附錄一。

圖4，CT勵(li)磁特性測試界面             圖5， CT勵(li)磁特性接線圖

圖(tu)6，CT勵磁(ci)曲線(xian)圖(tu)    ;                 圖(tu)7，勵磁(ci)數據圖(tu)

圖(tu)8 ，誤差曲線參數(shu)設置界面                 圖(tu)9，誤差曲線圖(tu)

2）、伏安特性(xing)（勵磁）測(ce)試結果操作說(shuo)明

試(shi)驗結束(shu)后(hou)，屏幕顯示(shi)出伏安(an)特(te)性測試(shi)曲線（見圖6）。該界面上各操作功能如下：

打(da)    印(yin)：控(kong)制(zhi)器選擇(ze)“打(da)印(yin)”后，先后打(da)印(yin)伏安特性（勵磁(ci)）曲線、數據，方便用戶做報告用。同時減少更換打(da)印(yin)紙的(de)頻率，節省時間(jian)，提(ti)高效率。

勵磁數(shu)據：將光標移動(dong)至“勵磁數(shu)據”選(xuan)項選(xuan)定，屏幕(mu)上(shang)將顯示伏(fu)安特性(xing)(xing)試驗的測試數(shu)據列表（見圖7）。按下(xia)“退出”鍵即(ji)退回到伏(fu)安特性(xing)(xing)試驗曲線(xian)界面，控制器即(ji)可實現數(shu)據的上(shang)下(xia)翻(fan)。當頁(ye)(ye)面翻(fan)轉不(bu)動(dong)時，則(ze)已(yi)到達后一頁(ye)(ye)。

保(bao)(bao)    存(cun)：控制(zhi)器移動(dong)至“保(bao)(bao)存(cun)”選項，按下(xia)即可將當前所測(ce)數據(ju)保(bao)(bao)存(cun)，保(bao)(bao)存(cun)成功(gong)后，屏幕(mu)上顯(xian)示“保(bao)(bao)存(cun)完畢”。成功(gong)保(bao)(bao)存(cun)后，用戶(hu)如果(guo)再按下(xia)“保(bao)(bao)存(cun)”鍵，程(cheng)序會自動(dong)分辨，不保(bao)(bao)存(cun)相同的測(ce)試記(ji)錄。并且可在數據(ju)查詢菜單中(zhong)進行查看。

誤(wu)差(cha)曲線(xian)：在圖(tu)6的界面(mian)中，將光標移至“誤(wu)差(cha)曲線(xian)”選定后(hou)，屏上將顯示伏安特性(xing)試驗(yan)的誤(wu)差(cha)曲線(xian)的設置（見圖(tu)8）。選定后(hou)計算出(chu)的誤(wu)差(cha)曲線(xian)如圖(tu)9。

打印(yin)設定：光標移動至此選項(xiang)，按(an)下即進(jin)(jin)入(ru)打印(yin)設置界面（圖(tu)10），可根(gen)據要求選擇(ze)“默認(ren)”（程(cheng)序按(an)照一定步進(jin)(jin)打印(yin)大量電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)流(liu)值），或選擇(ze)“自(zi)設定”（程(cheng)序會按(an)照表格中的10個電(dian)(dian)流(liu)值進(jin)(jin)行打印(yin)）。

以下四項(xiang)為誤差(cha)曲線計算時的設置(zhi)項(xiang)：

額(e)(e)定負(fu)荷(he) ：CT二(er)次側額(e)(e)定負(fu)荷(he)。

額(e)定(ding)二次(ci) ：CT的(de)二次(ci)側(ce)額(e)定(ding)電流(liu)

ALF ：準確限值系數(shu)，如(ru)：被測CT銘(ming)牌為“5P10”，“10”即為限制系數(shu)。

5% ：自動計算出(chu)5%誤(wu)差曲線(xian)數據并顯示誤(wu)差曲線(xian)。

10% ：自動計算出10%誤差(cha)曲(qu)線數據并顯示(shi)誤差(cha)曲(qu)線。

誤差曲線界面中有三個選項：

打(da)印(yin)(yin) ：可打(da)印(yin)(yin)出(chu)誤差(cha)曲線圖及數據；

數據 ：可顯示出誤差曲線(xian)相關數據，查(cha)看方式同伏安特性(xing)數據。

退出(chu) ：可(ke)返回上一層菜單。

圖(tu)10，打印設置界面                 圖(tu)11，退磁(ci)界面

2、退磁(ci)試(shi)驗

1）參數設置：

在CT主界(jie)(jie)面中，選擇“退磁”后，進入測(ce)試界(jie)(jie)面見(jian)圖11，設置(zhi) 二次(ci)側(ce)額定電流： 1A或(huo)5A。

2）試驗：

接(jie)(jie)線圖見(jian)（圖5），測試儀的(de)K1、K2為電壓輸出端，試驗(yan)時將K1、K2分別(bie)接(jie)(jie)互(hu)感器的(de)S1、S2（互(hu)感器的(de)所有端子的(de)連線都應斷開(kai)(kai)(kai)）。檢查接(jie)(jie)線無誤后，合上功率(lv)開(kai)(kai)(kai)關，選擇“開(kai)(kai)(kai)始”選項，即開(kai)(kai)(kai)始退磁。

退(tui)磁過程中(zhong)光標在“開始”選項上(shang)不(bu)停(ting)閃爍，直至試驗完畢(bi)(bi)，裝(zhuang)置會自動停(ting)止，界面(mian)提(ti)示“退(tui)磁完畢(bi)(bi)”。

3、CT變比極性(xing)試驗(yan)

1）參數設置：

在CT主界(jie)面中，選擇“變比(bi)極性”后(hou)，進入測(ce)試界(jie)面見圖12，設置一次側(ce)測(ce)試電(dian)流： 0 ～600A，測(ce)試儀(yi)P1、P2端子(zi)輸出的大電(dian)流；

二次(ci)側額定(ding)電流： 1A或5A。

2）試驗(yan)：

接(jie)(jie)線圖見圖13，CT一次側接(jie)(jie)P1、P2，CT二(er)次側接(jie)(jie)S1、S2，不(bu)檢測的二(er)次繞組要短(duan)接(jie)(jie)，設(she)置二(er)次側額定電流及編號后(hou)，合上(shang)功率開(kai)關，選擇“開(kai)始”選項，按(an)下控(kong)制器，試驗即開(kai)始。

試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)過程(cheng)中(zhong)光標(biao)在(zai)“開始”選(xuan)項上不停閃爍，直至試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)完畢(bi)(bi)退(tui)出(chu)自動測(ce)試(shi)(shi)(shi)界面，或按(an)下(xia)控制器(qi)人為(wei)中(zhong)止試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)，裝置測(ce)試(shi)(shi)(shi)完畢(bi)(bi)后會自動停止試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)，試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)完成后，即顯示變比極性測(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)果。可(ke)以(yi)選(xuan)擇 “保存” 、“打(da)印”及(ji)“退(tui)出(chu)”選(xuan)項進行下(xia)一(yi)步操作。

儀(yi)器本身的同(tong)色端(duan)子為同(tong)相端(duan)，即P1接CT的P1，S1接CT的S1時，極(ji)性的測(ce)試結果為減極(ji)性。

圖12，CT變比極(ji)性(xing)測試界面         圖13，CT變比極(ji)性(xing)（角差(cha)比差(cha)）接(jie)線圖

4、CT角差比差試驗

1）參數(shu)設置：

在CT主(zhu)界面中，選擇“角差(cha)比(bi)差(cha)”后，進入測(ce)試界面（圖14），（注(zhu)：應參照互(hu)感器(qi)銘牌上的實際額定(ding)變比(bi)值設(she)定(ding)）

額定一次(ci)：CT的一次(ci)額定電(dian)流：0～25000A

額定二次： 5A/1A。

額定負荷：互感器容量。

實際負(fu)荷：根據額定負(fu)載(zai)的設定，可自動(dong)計算滿載(zai)與輕(qing)(qing)載(zai)兩種狀態值(zhi)（輕(qing)(qing)載(zai)為滿載(zai)的25％）。

2）試(shi)驗：

接線圖見圖13，CT一(yi)次側(ce)接P1、P2，CT二次側(ce)接S1、S2。設(she)置參數并(bing)檢查接線無誤后，合上功(gong)率開關，選擇“開始(shi)”選項，按下控制(zhi)器，試(shi)驗即開始(shi)。

試驗過(guo)程中通過(guo)按下控制器可終止試驗，測試完畢后自(zi)動(dong)計(ji)算出一次側(ce)與二次側(ce)的相位角差，實(shi)際(ji)測的變比值與用戶設(she)定的額定變比的百分比差（圖15）。可以選擇 “保存” 、“打(da)印”及(ji)“退出”選項進(jin)行下一步操作。

圖(tu)14 ，CT角(jiao)差(cha)(cha)比差(cha)(cha)測(ce)試(shi)界面(mian)         圖(tu)15，CT角(jiao)差(cha)(cha)比差(cha)(cha)測(ce)試(shi)結果界面(mian)

5、CT一次通(tong)流試驗

1）參數設置：

在CT主界面(mian)中，選擇“一(yi)次通流(liu)”后，進入測試界面(mian)（圖16），設置(zhi)好設定(ding)電流(liu)值：0～600A。

2）試驗：

接(jie)線圖見(jian)圖17，CT一(yi)次側接(jie)P1、P2，CT二次側接(jie)二次負載。設置好通流(liu)電流(liu)后(hou)，合上功率開(kai)關(guan)，旋轉控(kong)制器將光標移動至“開(kai)始(shi)(shi)”選項，按下控(kong)制器，試驗即開(kai)始(shi)(shi)，電流(liu)保(bao)(bao)持(chi)時間以進(jin)度條顯示(shi)(0～200A:保(bao)(bao)持(chi)10分(fen)鐘；大于200A～300A：保(bao)(bao)持(chi)2分(fen)鐘;大于300A：保(bao)(bao)持(chi)3秒鐘)。

圖16、CT一次通(tong)流(liu)測(ce)試界(jie)面             圖17、CT一次通(tong)流(liu)接線圖

CT交流耐壓試驗

1）參數(shu)設置：

在CT主界面中，選(xuan)擇“交流耐壓”后，進入測試界面（圖(tu)18），設(she)置好設(she)定電壓值：0～1000V。

2）實驗：

接(jie)線圖見圖19，被測CT二次(ci)側短接(jie)與測試(shi)儀電壓輸出口K2連(lian)接(jie)，電壓輸出口另一(yi)端K1連(lian)接(jie)互感器外殼。檢查接(jie)線完(wan)成后，合(he)上(shang)功率開(kai)關，選擇 “開(kai)始”選項，按下即開(kai)始升壓，電壓保持時(shi)間默認(ren)為1分鐘，測試(shi)過程中，儀器內(nei)部對互感器二次(ci)繞組(zu)與外殼之間的漏電流實時(shi)檢測，如果發(fa)現電流迅速增加，將會自動回零，頁面會顯示“不(bu)合(he)格(ge)”。

圖18，CT交流耐(nai)壓(ya)測試界面           圖19，CT交流耐(nai)壓(ya)接線圖

7、CT負荷試驗

參數設置：

在(zai)CT測試主界(jie)面(mian)中，選(xuan)擇進入(ru)“負荷(he)”試驗界(jie)面(mian)（如圖20），設置二次側額定電流： 1A或5A。

線電阻：只在測試負載箱(xiang)時使用（按照負載箱(xiang)銘(ming)牌設定）

試驗：

測(ce)試(shi)儀的(de)K1、K2為電(dian)壓輸出端，參照圖(tu)21進行接線(xian)，將被測(ce)負荷（負載）接測(ce)試(shi)儀的(de)K1、K2端，檢查接線(xian)無(wu)誤后(hou)，選(xuan)擇“開始”即開始試(shi)驗(yan)(yan)，試(shi)驗(yan)(yan)完(wan)成(cheng)后(hou)，即顯(xian)示(shi)負荷性測(ce)試(shi)結果(guo)，可以選(xuan)擇 “保存” 、“打(da)印(yin)”及“退出”選(xuan)項進行下一步操作(zuo)。

圖20，CT二次(ci)(ci)負(fu)荷測試界(jie)面        圖21，CT二次(ci)(ci)負(fu)荷接線圖

8、直阻測試：

1）、校零：

在CT測(ce)試(shi)主界(jie)(jie)面(mian)中，選(xuan)擇進(jin)入“直(zhi)阻(zu)”試(shi)驗界(jie)(jie)面(mian)（如圖22），試(shi)驗前應先對(dui)測(ce)試(shi)用導線(xian)進(jin)行校(xiao)零(ling)，在CT主界(jie)(jie)面(mian)顯(xian)示菜單上通過控制器選(xuan)中 直(zhi)阻(zu)測(ce)試(shi)項(xiang)，進(jin)入直(zhi)阻(zu)測(ce)試(shi)界(jie)(jie)面(mian)并選(xuan)擇“校(xiao)零(ling)”, 校(xiao)零(ling)前將(jiang)測(ce)試(shi)導線(xian)的線(xian)夾對(dui)接(jie)（測(ce)試(shi)線(xian)短接(jie)）（圖23），然后進(jin)行校(xiao)零(ling)，校(xiao)零(ling)完成后，界(jie)(jie)面(mian)提(ti)示“校(xiao)零(ling)完畢”。

2）、試驗：

校零結束后，參照圖(tu)24接好(hao)測試(shi)(shi)線，測試(shi)(shi)儀(yi)的D1、D2接被測繞組，選(xuan)中 “開始(shi)” 鍵(jian)即開始(shi)測試(shi)(shi)，試(shi)(shi)驗完(wan)成后，即顯(xian)示(shi)直阻測試(shi)(shi)結果，可以選(xuan)擇 “保(bao)存(cun)” 、“打印(yin)”及(ji)“退出”選(xuan)項進行下一(yi)步操作。

圖22，直阻測(ce)試界面                圖23，導(dao)線阻值清零接線圖

圖24，直(zhi)阻(zu)測試(shi)接線圖

9.PT測試

進(jin)行電壓(ya)互感器功能(neng)測試(shi)時，請移動光(guang)標至PT，并選(xuan)擇相應測試(shi)選(xuan)項。

1、PT勵磁特性測試

1)、參數設置

在PT測試(shi)主界面中(zhong)，選擇進入(ru)“勵磁(ci)”試(shi)驗界面（如(ru)圖25），勵磁(ci)電(dian)流(liu)（0～20A）：輸出電(dian)流(liu)為儀(yi)器(qi)輸出的高設置電(dian)流(liu)，如(ru)果試(shi)驗中(zhong)電(dian)流(liu)達(da)到設定值，將會自動停止升流(liu)。通常(chang)1A即可測試(shi)出拐(guai)點值。

勵磁電(dian)壓(ya)：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗：

參照(zhao)圖26接線，測試(shi)儀的(de)為電(dian)壓輸出端，試(shi)驗時將K1、K2分別接互(hu)感器的(de)a、x ，電(dian)壓互(hu)感器的(de)一(yi)次繞組的(de)零位(wei)端接地(di)。檢查(cha)接線無誤后，合上(shang)功率開(kai)關，選項“開(kai)始” 選項后，即(ji)開(kai)始測試(shi)。

試(shi)(shi)驗(yan)時，光(guang)標在“開(kai)始(shi)”選項(xiang)上(shang)，并不停(ting)閃爍，測試(shi)(shi)儀開(kai)始(shi)自動(dong)升(sheng)壓(ya)、升(sheng)流，當(dang)測試(shi)(shi)儀檢測完(wan)畢后(hou)，試(shi)(shi)驗(yan)結束并描繪出伏安特性(xing)曲線圖(tu)。

圖(tu)25，PT勵(li)磁特性參(can)數設置界面            圖(tu)26，PT勵(li)磁特性接線(xian)圖(tu)

3）、PT（勵(li)磁）測試結果操作說明

請參考8頁CT測試結果說明(ming)

PT退(tui)磁試驗

圖27，PT退磁界面

1)、參數設(she)置

在(zai)PT測(ce)試主界面中，選擇進入“退磁(ci)”試驗界面（如圖(tu)27），設置(zhi)額定二次電壓(ya)值：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗(yan)：

參照圖26接線(xian)，測試(shi)儀的為(wei)電壓輸出端(duan)，試(shi)驗時將K1、K2分別接互感器的a、x ，電壓互感器的一次繞組的零位端(duan)接地(di)。檢查接線(xian)無誤后(hou)(hou)，合上功率開(kai)(kai)(kai)關，選項(xiang)“開(kai)(kai)(kai)始” 選項(xiang)后(hou)(hou)，即開(kai)(kai)(kai)始退磁。

退(tui)磁(ci)過程中時，光標(biao)在“開始”選項上，并不停(ting)(ting)閃(shan)爍(shuo)，當測試(shi)儀檢測完畢后，，裝置退(tui)磁(ci)會自(zi)動停(ting)(ting)止(zhi)，界面(mian)提(ti)示(shi)“退(tui)磁(ci)完畢”。

3、PT變比極(ji)性(xing)試驗

1）參(can)數設置(zhi)：測試界面見圖28。

一次：0～1000V。

二次(ci)：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）開(kai)始試驗(yan)：

參(can)照圖29進行(xing)接(jie)線，PT一次側(ce)接(jie)A、X，PT二次側(ce)接(jie)a、x。設置二次側(ce)額定電壓及編號后，合上功率開(kai)關(guan)，選擇 “開(kai)始(shi)(shi)”選項，按下控制器，試驗(yan)即開(kai)始(shi)(shi)。

試驗過程(cheng)中(zhong)(zhong)光標在“開(kai)始”選(xuan)項上不停閃爍，直至試驗完畢退(tui)出測試界(jie)面，或按下控制器人為中(zhong)(zhong)止試驗，試驗完成后，即顯示變比極性(xing)測試結果。可以選(xuan)擇 “保存” 、“打印(yin)”及“退(tui)出”選(xuan)項進行下一步操作。

儀器(qi)本身的(de)(de)同色端子為同相(xiang)端，即A接PT的(de)(de)A，X接PT的(de)(de)X時，極性的(de)(de)測試結果為減(jian)極性。

圖28，PT變(bian)比極性測試(shi)界面     圖29，PT變(bian)比極性（角差比差）接線圖

4、PT角差比(bi)差試驗

1）參數設置：

在PT測試主界面中，選擇進入“角(jiao)差比差”試驗(yan)界面（如(ru)圖30），（注：應參(can)照互(hu)感器銘牌(pai)上的實際額(e)定(ding)變比值設定(ding)）

額定(ding)一次(ci)： 3～500KV

額定二次(ci)： 100V、100/√3、100/3、150V、220V

額定(ding)負荷：互(hu)感器容(rong)量。

實際負荷：根據額定負載(zai)的設定，可自動計算滿載(zai)與輕載(zai)兩種狀(zhuang)態值（輕載(zai)為滿載(zai)的25％）。

2）試驗：

參(can)照圖29進行接線，PT一次(ci)側接A、X，CT二次(ci)側接a、x。設(she)置參(can)數(shu)后，旋轉控制(zhi)器將光標移動至“開(kai)始(shi)”選項(xiang)，按(an)下控制(zhi)器，試驗即開(kai)始(shi)。

試(shi)(shi)驗過(guo)程中通過(guo)按下(xia)控(kong)制器(qi)可(ke)終止試(shi)(shi)驗，測試(shi)(shi)完畢后自動計算出一次側與二次側的(de)相位角差(cha)，實際測的(de)變比值(zhi)與用(yong)戶設定(ding)的(de)額定(ding)變比的(de)百分比差(cha)（圖(tu)31）。按下(xia) “打印”即可(ke)打印出測試(shi)(shi)結果(guo)， “保(bao)存”即可(ke)保(bao)存測試(shi)(shi)結果(guo)， “退(tui)出”可(ke)返(fan)回至參數(shu)設置菜單。如果(guo)顯示均為(wei)9，則說(shuo)明誤差(cha)超出顯示范(fan)圍，請檢查(cha)設定(ding)值(zhi)。

圖30 ，PT角差(cha)比(bi)(bi)差(cha)測試(shi)(shi)界(jie)面(mian)       圖31，PT角差(cha)比(bi)(bi)差(cha)測試(shi)(shi)結果界(jie)面(mian)

5、PT交流耐壓試驗(yan)

1）.參數設置：

在(zai)PT測試(shi)主界(jie)面(mian)中，選(xuan)擇進(jin)入(ru)“交流耐(nai)壓(ya)”試(shi)驗界(jie)面(mian)（如圖32），設置好(hao)設定電壓(ya)值：0～1000V。

2）.實驗：

參照圖33接線，被(bei)測(ce)PT二次(ci)側(ce)短接與測(ce)試(shi)儀(yi)電(dian)壓輸(shu)出(chu)口(kou)(kou)K2連接，電(dian)壓輸(shu)出(chu)口(kou)(kou)另一端K1連接互(hu)感器(qi)外殼。檢查接線完(wan)成后，合上功率開(kai)(kai)關(guan)，選(xuan)擇 “開(kai)(kai)始(shi)”選(xuan)項，按(an)下即開(kai)(kai)始(shi)升(sheng)壓，電(dian)壓保持時間(jian)默認為(wei)1分鐘(zhong)，測(ce)試(shi)過程中，儀(yi)器(qi)內部對互(hu)感器(qi)二次(ci)繞組與外殼之間(jian)的漏電(dian)流(liu)實時檢測(ce)，如果(guo)發現(xian)電(dian)流(liu)迅(xun)速增加，將會(hui)自(zi)動(dong)回零，頁面(mian)會(hui)顯示測(ce)試(shi)異常。

圖32，PT交(jiao)(jiao)流(liu)耐(nai)壓測試(shi)界面              圖33，PT交(jiao)(jiao)流(liu)耐(nai)壓接線圖

6、PT負荷試驗

1）.參數設置：

在PT測試主界面(mian)中，選(xuan)擇進(jin)入(ru)“負荷”試驗界面(mian)（如圖34），設置額(e)定二次電壓值：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）.試驗：

測試儀(yi)的K1、K2為電(dian)壓輸出端，參照圖35進行接線(xian)，將被測負(fu)荷（負(fu)載）接測試儀(yi)的K1、K2端，檢查接線(xian)無誤后，合上功率開關，選(xuan)擇(ze)“開始”即開始試驗，試驗完成后，即顯示負(fu)荷性測試結果，可以選(xuan)擇(ze) “保存” 、“打印(yin)”及“退出”選(xuan)項進行下(xia)一步操作。

圖(tu)34，PT二(er)次(ci)負(fu)荷(he)測試界面            圖(tu)35，PT二(er)次(ci)負(fu)荷(he)接線圖(tu)

7、直(zhi)阻測試：

請(qing)參(can)照第14頁CT直阻(zu)測試。

十.數據查詢

在CT/PT測試(shi)主界(jie)面(mian)中，選(xuan)(xuan)(xuan)擇(ze)進(jin)入(ru)“數(shu)據查詢”試(shi)驗(yan)界(jie)面(mian)（如(ru)圖36），根(gen)據需要選(xuan)(xuan)(xuan)擇(ze)“勵磁”、“負荷”、“直阻”、“變比極(ji)性(xing)”、“角(jiao)差比差”、“退(tui)出”等測試(shi)選(xuan)(xuan)(xuan)項(xiang)，選(xuan)(xuan)(xuan)定測試(shi)項(xiang)目后，進(jin)入(ru)圖39測試(shi)界(jie)面(mian)，顯示儀器中該項(xiang)目下(xia)所保存的的測試(shi)結果，可以選(xuan)(xuan)(xuan)擇(ze) “上頁(ye)” 、“下(xia)頁(ye)”、“轉存”、“退(tui)出”、“清除”選(xuan)(xuan)(xuan)項(xiang)進(jin)行(xing)相應(ying)操作(zuo)。

轉(zhuan)存時(shi)，插上U盤(pan)至測(ce)試(shi)儀通訊口“USB”，在(zai)圖37中，點擊“轉(zhuan)存”則(ze)會將當前頁面(mian)下(xia)所顯示(shi)的測(ce)試(shi)記錄(lu)轉(zhuan)存進入U盤(pan)之中。每條記錄(lu)所用時(shi)間約2秒(miao)鐘，轉(zhuan)存結(jie)束(shu)后，界面(mian)提示(shi)“轉(zhuan)存完畢”。

圖(tu)36                                 圖(tu)37

十一.PC機操(cao)作(zuo)軟件(jian)使用(yong)說明

將配套光盤放(fang)入計算機光驅中，解壓“軟(ruan)件”至C盤根目錄(lu)。

11.2首先，安(an)裝“wic_x86_chs.exe”文件(jian)，其次，安(an)裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件(jian)，默認安(an)裝地址即(ji)可。

11.3安裝完畢(bi)后，打(da)開“伏安特(te)性(xing)”文件夾，選擇打(da)開“VATeXing.exe”操(cao)作(zuo)(zuo)軟件，如圖38即為上位機操(cao)作(zuo)(zuo)軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇(ze)互感器(qi)種(zhong)類(lei)“CT”或(huo)“PT”，應用語言“中文”或(huo)“英文”。

11.5如(ru)需(xu)生成報告格(ge)式文(wen)件(jian)，必須載入試(shi)驗結果數據，具體操作方法如(ru)下：

a）、將存儲試驗數據的U盤連接至計算(suan)機(ji)。

b）、在(zai)圖38中選擇打開(kai)“選擇文件(jian)”，出現圖39操作窗口，在(zai)圖39中可根據需要載(zai)入所(suo)需文件(jian)。

c）、試驗結果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)說明：以“A”為(wei)(wei)開(kai)頭的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)勵磁特性結果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以“B”為(wei)(wei)開(kai)頭的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)變(bian)比極性結果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以“C”為(wei)(wei)開(kai)頭的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)負荷結果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以“D”為(wei)(wei)開(kai)頭的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)直阻結果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)。以“E”為(wei)(wei)開(kai)頭的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)角差比差結果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以“T”為(wei)(wei)開(kai)頭的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)暫(zan)態結果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)。

11.6 載入數據(ju)結(jie)束后(hou)，選(xuan)擇“確定”出現圖(tu)40界面，在此(ci)界面右(you)上方設(she)置相應(ying)參數后(hou)，選(xuan)擇“生成誤差曲線”則完成所有(you)試驗結(jie)果的載入。

11.7 載入全部(bu)完(wan)成后，可根據需要選擇“保存”或打(da)印(yin)結果數據。

11.8  選擇“保存”選項，則以WORD的形式(shi)顯示(shi)結(jie)果如(ru)圖41。

11.9  如(ru)需繼續加載試驗結(jie)果數據(ju)，請先清(qing)除上次載入的數據(ju)。

圖38

圖39

圖40

圖(tu)41

附  錄

附(fu)錄一、 “校(xiao)準”測試方法（以(yi)CT為例）

圖42，校(xiao)準測試主界(jie)面               圖43，電壓校(xiao)準接線圖

圖44，電流校準接(jie)線圖

1）參數設置：

進入(ru)CT“勵(li)(li)磁(ci)”測試界面后，選(xuan)擇進入(ru)“校準”試驗(yan)界面（如圖(tu)42），設定好勵(li)(li)磁(ci)電(dian)流(liu)值：0.1A ～ 5A;勵(li)(li)磁(ci)電(dian)壓值：1V～1000V。

2）開(kai)始：

電(dian)(dian)壓(ya)校準試(shi)驗(yan)(yan)參照圖(tu)43進行接(jie)線；設(she)置好被測電(dian)(dian)壓(ya)后，合上功率開(kai)(kai)關，選(xuan)擇 “開(kai)(kai)始”選(xuan)項，按(an)下控制(zhi)器(qi)，試(shi)驗(yan)(yan)即開(kai)(kai)始，試(shi)驗(yan)(yan)到(dao)達設(she)定值(zhi)后將保持輸出電(dian)(dian)壓(ya)/電(dian)(dian)流值(zhi)用于(yu)檢測，檢測完畢后，按(an)下控制(zhi)器(qi)，試(shi)驗(yan)(yan)返(fan)回(hui)圖(tu)42界面。

電(dian)流(liu)(liu)校準(zhun)試(shi)驗參照(zhao)圖44進行接線，電(dian)壓設定(ding)值(zhi)(zhi)(zhi)略高(gao)于(yu)【電(dian)流(liu)(liu)設定(ding)值(zhi)(zhi)(zhi)（A）*負載（Ω）】，設置好被測電(dian)流(liu)(liu)/電(dian)壓值(zhi)(zhi)(zhi)后(hou)，合上(shang)功率開(kai)關，選擇 “開(kai)始”選項，按下(xia)控制器，試(shi)驗即開(kai)始，試(shi)驗到達設定(ding)值(zhi)(zhi)(zhi)后(hou)將保持(chi)輸出電(dian)流(liu)(liu)/電(dian)壓值(zhi)(zhi)(zhi)用于(yu)檢測，檢測完畢后(hou)，按下(xia)控制器，試(shi)驗返回圖42界面(mian)。

附錄二、售后服務承諾 ，本產品保修一年，終身維護。
附錄三、誤差曲線說明

根(gen)據互感(gan)器(qi)二次側(ce)的(de)勵磁電(dian)流和電(dian)壓計算出的(de)電(dian)流倍數(shu)（M）與允許二次負荷(he)（ZII）之間的(de)5%、10%誤差曲線的(de)數(shu)據中也可判(pan)斷互感(gan)器(qi)保護繞組是否合格：

1）在(zai)接近理論電流倍數下所測量(liang)的(de)實際負荷大于互(hu)(hu)感器銘牌上理論負荷值，說明(ming)該互(hu)(hu)感器合格如圖45數據(ju)說明(ming)；

2）在(zai)接近理論負荷下(xia)所測量的實際電流倍(bei)數(shu)(shu)大于互(hu)感器(qi)銘牌上的理論電流倍(bei)數(shu)(shu),也(ye)說明該互(hu)感器(qi)合(he)格如圖45數(shu)(shu)據說明；

保(bao)(bao)護(hu)(hu)用電(dian)(dian)流(liu)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)二(er)次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)(he)應(ying)滿(man)足(zu)5%誤(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)的(de)(de)(de)(de)要(yao)求，只要(yao)電(dian)(dian)流(liu)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)二(er)次(ci)(ci)實(shi)際負(fu)荷(he)(he)(he)小(xiao)于5%誤(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)允(yun)(yun)(yun)許的(de)(de)(de)(de)負(fu)荷(he)(he)(he)，在額(e)定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)下，合(he)格(ge)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)的(de)(de)(de)(de)測量誤(wu)差(cha)即在5%以內。二(er)次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)(he)越(yue)大(da)(da)，電(dian)(dian)流(liu)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)鐵心(xin)就(jiu)(jiu)越(yue)容(rong)易飽和，所(suo)(suo)允(yun)(yun)(yun)許的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)就(jiu)(jiu)越(yue)小(xiao)。因(yin)此，5%誤(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)即n/ZL曲(qu)線(xian)為(wei)(wei)圖(tu)9所(suo)(suo)示(shi)曲(qu)線(xian)。在圖(tu)45中(zhong)例所(suo)(suo)示(shi)（所(suo)(suo)測保(bao)(bao)護(hu)(hu)用CT為(wei)(wei)5P10 20VA）：其中(zhong)5為(wei)(wei)準確(que)級(ji)（誤(wu)差(cha)極(ji)限為(wei)(wei)5％），P為(wei)(wei)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)形式（保(bao)(bao)護(hu)(hu)級(ji)），10為(wei)(wei)準確(que)限值系數(shu)(shu)（10倍(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)），20VA表示(shi)額(e)定(ding)(ding)二(er)次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)(he)（容(rong)量）。電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)為(wei)(wei)10.27倍(bei)(bei)（接(jie)近(jin)(jin)10倍(bei)(bei)）時(shi)，所(suo)(suo)允(yun)(yun)(yun)許的(de)(de)(de)(de)二(er)次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)(he)為(wei)(wei)27.19Ω,大(da)(da)于該(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)(ding)負(fu)荷(he)(he)(he)20VA(20VA/1=20Ω),通(tong)過該(gai)(gai)數(shu)(shu)據可判(pan)斷該(gai)(gai)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)合(he)格(ge)。另外，在二(er)次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)(he)為(wei)(wei)19.58Ω(接(jie)近(jin)(jin)20Ω) 所(suo)(suo)允(yun)(yun)(yun)許的(de)(de)(de)(de)二(er)次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)(he)為(wei)(wei)27.19Ω,大(da)(da)于該(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)(ding)負(fu)荷(he)(he)(he)20VA(20VA/1=20Ω),通(tong)過該(gai)(gai)數(shu)(shu)據可判(pan)斷該(gai)(gai)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)合(he)格(ge)。另外，在二(er)次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)(he)為(wei)(wei)19.58Ω(接(jie)近(jin)(jin)20Ω)時(shi)，所(suo)(suo)允(yun)(yun)(yun)許的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)為(wei)(wei)12.85倍(bei)(bei)，大(da)(da)于該(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)（10倍(bei)(bei)），通(tong)過該(gai)(gai)數(shu)(shu)據也(ye)可判(pan)斷該(gai)(gai)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)合(he)格(ge)。其實(shi)，只要(yao)找(zhao)出(chu)這(zhe)兩個(ge)關鍵點中(zhong)的(de)(de)(de)(de)任意一個(ge)，即可判(pan)斷所(suo)(suo)測互感(gan)(gan)(gan)器(qi)是否合(he)格(ge)。

如果10％誤差不符合要求(qiu)一般的(de)做法有：

增(zeng)大二次(ci)電纜界(jie)面(mian)積(ji)（減少(shao)二次(ci)阻(zu)抗）

串接同型同變比(bi)電流(liu)(liu)互感器（減少互感器勵(li)磁(ci)電流(liu)(liu)）

改(gai)用(yong)伏安特性較高的繞(rao)組（勵磁阻抗增大(da)）

提高電流互感器變(bian)比（增大勵磁阻抗）

圖(tu)45

誤差曲線計算公(gong)式：

M =（I*P）/N                   ZII =（U-（I*Z2））/(K*I)

I 電(dian)流(liu)                         U 電(dian)壓(ya)

N=1  (1A 額定電(dian)流)    ;         I 電(dian)流

N=5  (5A 額定電流)             Z2 CT二次側阻(zu)抗

P=20 （5％誤差曲(qu)線(xian) ）          K=19（5％誤差曲(qu)線(xian).1A 5A 額定電流）

P=10 （10％誤差曲線 ）         K=9 （10％誤差曲線.1A 5A 額定電(dian)流(liu)）

附錄四、時間設(she)置說明

開機前(qian)先(xian)按(an)(an)下(xia)(xia)旋(xuan)轉(zhuan)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)不要松開，打開電源(yuan)，當進(jin)度條進(jin)完后(hou)停3秒之后(hou)，松開旋(xuan)轉(zhuan)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)，此(ci)時(shi)可看(kan)到如圖46的界面(mian)，此(ci)時(shi)旋(xuan)轉(zhuan)“控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)”把前(qian)兩(liang)(liang)個99設(she)置(zhi)為01，按(an)(an)下(xia)(xia)“控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)”。光標移動到后(hou)兩(liang)(liang)位的99，再次旋(xuan)轉(zhuan)“控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)”，把后(hou)兩(liang)(liang)位也設(she)置(zhi)為01，按(an)(an)下(xia)(xia)“控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)”。此(ci)時(shi)可進(jin)入(ru)到界面(mian)47，在此(ci)界面(mian)中可設(she)置(zhi)時(shi)間，設(she)置(zhi)方式是先(xian)按(an)(an)下(xia)(xia)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)，再旋(xuan)轉(zhuan)設(she)置(zhi)數字，設(she)置(zhi)完畢后(hou)再次按(an)(an)下(xia)(xia)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)表示確(que)認(ren)，光標會進(jin)入(ru)到下(xia)(xia)個選項。

圖46                                圖47

附錄五、智(zhi)能提示說(shuo)明

在做各種測試時(shi)，新(xin)上手的(de)用戶(hu)可能會對接線及操(cao)作(zuo)不熟練(lian)，導致實驗數據(ju)出現錯誤(wu)的(de)結果。在這種情況(kuang)下，會讓(rang)您無所適從(cong)，基于此我們加上了(le)一(yi)些簡單的(de)智能提示，使新(xin)用戶(hu)更易上手，使老用戶(hu)減(jian)少誤(wu)操(cao)作(zuo)。

如圖48到圖51，舉例說明了伏安特(te)性(xing)與變(bian)比極(ji)性(xing)測試(shi)時易(yi)出現(xian)的一(yi)些問題(ti)。

伏安特性測試(shi)時空開（功(gong)率(lv)開關）忘記打開的提示。

伏安(an)特性(xing)測試時接(jie)(jie)線錯誤的提示。（CT的二次繞組(zu)應接(jie)(jie)在K1/K2,有(you)時用戶會(hui)誤接(jie)(jie)在S1/S2）。

變比極(ji)性測試時空開忘記打開或者一次電流線沒(mei)有接上。

變比極性測試(shi)時CT二次的接線沒(mei)有(you)接對。

圖(tu)48      ;                          圖(tu)49

圖(tu)50                                  圖(tu)51