CT伏安特性綜合試驗儀

　

*章 LYFA3300CT伏安特性綜合試驗儀使用范圍與技術指標

1.1 功(gong)能(neng)與使用場合

用于電流互感器的以下(xia)試驗：

1）勵磁(ci)特(te)性試驗

2）匝(za)數比檢(jian)測

3）比差(cha)與(yu)角差(cha)校驗

4）極性校驗(yan)

5）二次繞(rao)組電阻測量

6）二(er)次負荷(he)測量

7）5%和(he)10%誤差曲(qu)線測量(liang)

8）CT暫態特性測試與分(fen)析

9）CT銘牌自動推(tui)斷(duan)

10）拐點(dian)電壓/電流(liu)、準(zhun)確限值系數(shu)、儀(yi)表保(bao)安系數(shu)、二(er)次(ci)時間常數(shu)、剩磁系數(shu)、準(zhun)確級、飽和(he)與不(bu)飽及(ji)電感，拐點(dian)電動勢(shi)，極限電動勢(shi)和(he)面積(ji)系數(shu)等CT 參(can)數(shu)的測(ce)量(liang)

11）電流互感器鐵芯磁滯回線測(ce)量

還(huan)可用于電壓互感器的以(yi)下試(shi)驗：

1）PT匝(za)數比檢測

2）PT極性校驗

3）PT二次(ci)繞組電阻(zu)測量

4）PT二次負(fu)荷測量

5) PT勵磁特(te)性測量

裝置的(de)應用場合主要有：

1） CT銘(ming)牌(pai)的參(can)數校驗

2） CT接入當前負荷時參(can)數校驗(yan)

3） 分析CT的暫態特性對繼(ji)電保(bao)護(hu)裝置的影響。

4） PT的銘牌參數校(xiao)驗

5） PT二次負(fu)荷(he)校(xiao)驗

1.2 CTPT分析(xi)儀技術(shu)指標(biao)

1 測試標準依據：

IEC60044-1, IEC60044-2, IEC60044-5, IEC60044-6, GB1207, GB1208,GB16847, GBT4703, C57.13

2 輸入電(dian)源電(dian)壓： AC220V±10%，50Hz/60Hz±10%

3 輸出(chu)電(dian)壓： 0.1~180V(AC)

4 輸出電(dian)流： 0.001~5A(RMS)

5 輸(shu)出功(gong)率：500VA

6 高(gao)等效拐點電壓：45KV

7 電流測量： 范圍：0~10A(自動(dong)量程0.1/0.4/2/10A)

誤差<±0.1%+0.01%FS

8 電(dian)壓測量： 范(fan)圍(wei)：0~200 V (自動量程(cheng)1/10/70/200V)

誤差< ±0.1%+0.01%FS

9 匝數比(bi)測量： 范圍(wei)：1~35000，

1~2000 誤差<0.05%

2000~5000 誤差<0.1%

5000~35000 誤(wu)差<0.2%

10 相位測(ce)量： 精度(du)：±2min，分(fen)辨率：0.01min

11 二次繞組電阻(zu)測量范(fan)圍(wei)： 范(fan)圍(wei)：0~8KΩ(自動量程2/20/80Ω/800Ω/8kΩ)

誤差< 0.2%RDG+0.02%FS， 大分辨(bian)率(lv)：0.1mΩ

12&nbsp;溫(wen)度(du)測量：-50~100度(du)， 誤差(cha)<3度(du)

13 CT二次負荷測量： 0～160ohm(2/20/80ohm/160ohm)

*.2%RDG+0.02%FS大分辨率(lv)0.001ohm

14 PT二(er)次負荷測量： 0～80kohm(800ohm/8kohm/80kohm)

*.2%RDG+0.02%FS大分辨率0.1ohm

15 PT匝數比測量： 范圍(wei)：1~30000，

1~5000 誤差<0.2%

5000~30000 誤差<0.5%

16 能夠按照(zhao)所選擇(ze)的標準，對(dui)測(ce)試結果(guo)進行自(zi)動評(ping)估，判斷互(hu)感器是(shi)否合格

17 能夠同時(shi)檢(jian)測額定負荷和操作負荷下電流互感的比差(cha)與角差(cha)

18 具有自動(dong)生成WORD試驗報告功能

19 具備批量制作WORD試驗報(bao)告功能，一次可以(yi)將選擇的所有試驗文件制作成(cheng)格式規范的WORD報(bao)告

20 能夠將勵磁曲線與存儲的(de)歷史曲線進行自(zi)動對比

21 數(shu)據存儲組數(shu)：大于1000組

22 工作條件： 溫度：-10℃～50℃， 濕度：≤90%

23 尺寸(cun)：485mm×356mm×183mm

24 重量：15Kg

第二章 LYFA3300CT伏安特性綜合試驗儀硬件裝置

2.1 概述(shu)

外形和各部分的描(miao)述如圖2.1所(suo)示

2.2電源連接

電(dian)源輸入(ru)插座在(zai)儀器面板的右側，如圖2.2所示。電(dian)源輸入(ru)范圍(wei)是AC220±10% ;，50/60Hz±10%，電(dian)源插座內部安裝有5A保險(xian)。

2.3輸入(ru)與輸出

測試接口有3組：功率(lv)輸出，CT二次側/PT一次側輸入，CT一次側/PT二次側輸入。

功率(lv)輸(shu)出(chu)(chu)端(duan)子：功率(lv)輸(shu)出(chu)(chu)接口，輸(shu)出(chu)(chu)電壓(ya)范圍(wei)是(shi)AC 0~180V，輸(shu)出(chu)(chu)電流(liu)AC0~5A

CT二次側(ce)/PT一(yi)次側(ce)輸入(ru)端子：

CT二次(ci)(ci)繞(rao)組(zu)/PT一次(ci)(ci)繞(rao)組(zu)電(dian)壓測量輸入(ru)接(jie)口，輸入(ru)信號的(de)電(dian)壓范(fan)圍(wei)是(shi)AC0~180V

CT一次(ci)(ci)(ci)側(ce)/PT二次(ci)(ci)(ci)側(ce)輸(shu)入(ru)端(duan)子(zi)：CT一次(ci)(ci)(ci)側(ce)/PT二次(ci)(ci)(ci)側(ce)繞(rao)組電壓測(ce)量(liang)輸(shu)入(ru)接(jie)口，輸(shu)入(ru)信號的電壓范圍(wei)是AC0~5V

2.4硬件部分原理框圖

結構原理如圖2.3所示，其中的(de)恒(heng)(heng)壓(ya)恒(heng)(heng)流(liu)變頻(pin)電(dian)源模塊與AC220V電(dian)源輸入是*隔離的(de)。通過DSP數據(ju)采集系統完成對恒(heng)(heng)壓(ya)恒(heng)(heng)流(liu)模塊的(de)控(kong)制，可以使電(dian)源輸出AC0~180V正(zheng)弦電(dian)壓(ya)信(xin)(xin)號或者AC0~1A的(de)正(zheng)弦電(dian)流(liu)信(xin)(xin)號。

DSP數(shu)(shu)據采(cai)集系(xi)統(tong)的(de)(de)主要功能是(shi)完(wan)成對變頻電源(yuan)控(kong)制和(he)試驗過(guo)程的(de)(de)數(shu)(shu)據采(cai)集。所有的(de)(de)數(shu)(shu)據分析，存(cun)儲(chu)(chu)(chu)和(he)界面顯示都由工控(kong)機(ji)系(xi)統(tong)完(wan)成，工控(kong)機(ji)內(nei)置(zhi)了(le)嵌入式XPE系(xi)統(tong)，并對系(xi)統(tong)的(de)(de)C盤進行(xing)的(de)(de)自恢復保(bao)護(hu)，這樣(yang)可以有效的(de)(de)避免(mian)軟件系(xi)統(tong)故障(zhang)和(he)病毒(du)攻(gong)擊。儀器(qi)內(nei)部存(cun)儲(chu)(chu)(chu)空(kong)間(jian)>6G，大(da)存(cun)儲(chu)(chu)(chu)數(shu)(shu)據>1000組。

2.5鍵盤(pan)

面板帶有(you)一個16鍵的小鍵盤用于(yu)數據輸入，鍵盤的外形如(ru)圖2.4所示，其中各個按鍵的定(ding)義如(ru)下(xia)：

1）0~9 數字輸入鍵

2）∧向上(shang)選(xuan)擇方向鍵

3) ∨向(xiang)下選(xuan)擇(ze)方向(xiang)鍵

4）＜刪除(chu)數據鍵

5）. 小(xiao)數點(dian)輸入鍵

6）ESC 取(qu)消選擇鍵

7）確定選擇(ze)或輸入鍵(jian)

第三章 LYFA3300試驗連線

3.1 CT二次負(fu)荷

在(zai)進行CT二次(ci)負荷測(ce)量(liang)時請按照圖3.1連接分析儀和(he)被測(ce)CT

具(ju)體接線步驟和說明如下(xia)：

1）將接(jie)(jie)地柱連接(jie)(jie)到保護地PE

2）將按(an)照圖3.1所示，斷(duan)開CT二次側和二次回路的(de)連接(jie)

3）功率輸出和CT二(er)(er)次側/PT一次側的黑色端子連接至二(er)(er)次負(fu)荷一側，參(can)見圖3.1

4）功率輸(shu)出和CT二次(ci)側(ce)/PT一次(ci)側(ce)的紅色端子連接至二次(ci)負荷的另(ling)一側(ce)

5）為了消除接(jie)觸電阻的影(ying)響，在(zai)連接(jie)端子時，CT二次(ci)側的連接(jie)端子應保持在(zai)功(gong)率輸出(chu)端子的內(nei)側，如圖3.2。

注意：在進(jin)行(xing)CT二(er)(er)次(ci)負(fu)荷(he)測量時，必(bi)須(xu)要斷開(kai)被(bei)測CT二(er)(er)次(ci)側與負(fu)載的(de)連(lian)接(jie)，否則測量的(de)結果將(jiang)是CT二(er)(er)次(ci)側與二(er)(er)次(ci)負(fu)荷(he)的(de)并聯阻(zu)抗，這(zhe)將(jiang)導致儀器獲得(de)錯誤的(de)試驗(yan)結果。并且在進(jin)行(xing)二(er)(er)次(ci)負(fu)荷(he)測量時儀器不進(jin)行(xing)退(tui)磁處理，因(yin)此如果CT二(er)(er)次(ci)側未斷開(kai)將(jiang)會導致CT進(jin)入(ru)飽和(he)狀態。

3.2 CT分析，變比(bi)，極性(xing)試驗接(jie)線圖

在進行CT分析，變比或極性試驗時請按照(zhao)圖3.3連接分析儀和被測CT，這三個試驗項目的(de)接線方式是*的(de)

具體接線(xian)步驟和說明如下(xia)：

1）斷開(kai)電力(li)線與CT一(yi)次側(ce)的連接(jie)，未接(jie)地(di)的電力(li)線較長，會給CT一(yi)次側(ce)的測量引入較大干擾，參見(jian)圖3.4。

3）將CT一(yi)次(ci)側一(yi)端連接至(zhi)分(fen)析儀CT一(yi)次(ci)側/PT二次(ci)側黑色端子

4）將CT一次側另一端連(lian)接至分析儀(yi)CT一次側/PT二次側紅色端子

5）將分析儀的接地柱(zhu)連接到保護地PE

6）將按照圖3.3所(suo)示，斷(duan)開(kai)被測CT二(er)次側和二(er)次負荷的(de)連接(jie)

7）功率輸出(chu)和CT二次側(ce)/PT一(yi)次側(ce)的(de)黑(hei)色(se)端(duan)子連接至CT二次側(ce)的(de)一(yi)端(duan)，參(can)見圖3.3

8）功率輸出和CT二(er)次(ci)側/PT一次(ci)側的紅色端子連接至CT二(er)次(ci)側另一端

9）為了消除接觸電(dian)阻對線圈電(dian)阻測量的(de)(de)影響，在連接分析儀的(de)(de)端子(zi)(zi)時，CT二次側(ce)/PT一(yi)次側(ce)的(de)(de)連接端子(zi)(zi)應保持在功率輸(shu)出端子(zi)(zi)的(de)(de)內側(ce)，如(ru)圖3.4。

注意：在對變比值相同的多繞(rao)組電流互(hu)感器進行CT分析或CT比差角(jiao)差測試時，沒(mei)有測試的二次繞(rao)組應全部短接，否則測試誤差將會偏大

例如同時含有測(ce)量0.5級，保護10P10，暫態TPY三個繞(rao)(rao)組的2000/1的CT，進行0.5級繞(rao)(rao)組的比差角(jiao)差測(ce)量時應按照(zhao)圖3.4.1進行接線

3.3 CT線(xian)圈電阻測(ce)量接線(xian)圖

在測量CT線圈(quan)的直(zhi)流電阻(zu)時，請(qing)按照圖(tu)3.5連接儀器和被測CT。

1）將CTPT分(fen)析儀的(de)接(jie)地柱連接(jie)到保護(hu)地PE

2）按照圖3.5所(suo)示，斷(duan)開被測(ce)CT二次(ci)側和(he)二次(ci)負荷的連接

3）功(gong)率輸出和CT二(er)次側/PT一次側的(de)黑色端(duan)子連接至CT二(er)次側的(de)一端(duan)，參(can)見圖3.5

4）功率(lv)輸出和(he)CT二次側/PT一(yi)(yi)次側的紅(hong)色端(duan)子連接至CT二次側另一(yi)(yi)端(duan)

5）為了消(xiao)除接(jie)觸電阻(zu)對(dui)線圈電阻(zu)測量的影響，在(zai)連(lian)接(jie)分析儀的端(duan)(duan)子(zi)時，CT二次側/PT一次側的連(lian)接(jie)端(duan)(duan)子(zi)應保持在(zai)功率(lv)輸(shu)出(chu)端(duan)(duan)子(zi)的內側，如圖(tu)3.4。

3.4 PT二次負荷

在進行PT二次負荷測(ce)(ce)量時請(qing)按照圖(tu)3.6連接(jie)CTPT分析儀和被測(ce)(ce)PT

具體接線(xian)步(bu)驟和說明如下(xia)：

1）接(jie)地(di)柱(zhu)連接(jie)到保護(hu)地(di)PE

2）將按照(zhao)圖3.6所示(shi)，斷(duan)開PT二次(ci)側(ce)和二次(ci)回(hui)路(lu)的連接

3）功率輸出和CT二次側/PT一次側的黑(hei)色端子連接(jie)至二次負荷的一端，參見(jian)圖3.6

4）將CTPT分析功率輸出和CT二次側/PT一次側的紅(hong)色端子連接至二次負荷的另一端

5）為了消除接觸(chu)電阻的影響，在連接端子(zi)時，CT二次側/PT一(yi)次側的連接端子(zi)應保持在功率輸出端子(zi)的內側，如圖3.2。

3.5 PT線圈電阻測量接線圖

在測量PT線(xian)圈的直流電阻時(shi)，請按照(zhao)圖3.7連接儀器(qi)和被測PT。

1）接(jie)地(di)(di)柱連接(jie)到保護地(di)(di)PE

2）按(an)照圖3.7所示，斷開被測PT二次(ci)側(ce)和二次(ci)負荷的(de)連接(jie)，或是(shi)斷開PT一次(ci)側(ce)與PT一次(ci)線路的(de)連接(jie)

3）功率輸出和CT二次側(ce)(ce)/PT一(yi)次側(ce)(ce)的(de)(de)黑色端(duan)子連接至PT二次側(ce)(ce)(或(huo)PT一(yi)次側(ce)(ce))的(de)(de)一(yi)端(duan)，參見圖3.7

4）將CTPT分析功率輸出和(he)CT二(er)(er)次側/PT一(yi)(yi)次側的紅(hong)色端(duan)子連接至PT二(er)(er)次側（或PT一(yi)(yi)次側）另一(yi)(yi)端(duan)

5）為(wei)了消除接觸電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測量的影響(xiang)，在連接端(duan)子時，CT二次側(ce)/PT一次側(ce)的連接端(duan)子應(ying)保持(chi)在功(gong)率輸出(chu)端(duan)子的內側(ce)，如圖3.4。

3.6 PT匝數比，極(ji)性(xing)試驗接線圖

在進行(xing)PT變比或極性試(shi)(shi)驗時請按照圖3.9連接CTPT分析儀和被測PT，這兩個試(shi)(shi)驗項目的接線(xian)方式是(shi)*的

具體接線步驟和(he)說明(ming)如下：

1）將PT二次(ci)(ci)側(ce)的一端(duan)連接至分析儀CT一次(ci)(ci)側(ce)/PT二次(ci)(ci)側(ce)黑色(se)端(duan)子

2）將(jiang)PT二次(ci)側另一端連接至分析儀(yi)CT一次(ci)側/PT二次(ci)側紅色(se)端子

3）接(jie)地(di)柱連接(jie)到保護地(di)PE

4）將按(an)照圖3.9所示，斷(duan)開被測PT二(er)次側和二(er)次負(fu)荷的連接

5）功率輸(shu)出和CT二次(ci)(ci)側(ce)/PT一(yi)次(ci)(ci)側(ce)的黑色(se)端(duan)子連接至PT一(yi)次(ci)(ci)側(ce)的一(yi)端(duan)，參見圖3.9

6）將CTPT分析功(gong)率輸出(chu)和CT二次(ci)側(ce)/PT一次(ci)側(ce)的紅色端子連接至PT一次(ci)側(ce)另一端

7）為了(le)消除接(jie)觸電阻對線圈(quan)電阻測(ce)量的(de)影響，在(zai)連接(jie)分析儀(yi)的(de)端子時，CT二次側/PT一(yi)次側的(de)連接(jie)端子應保(bao)持在(zai)功率輸出端子的(de)內側，如圖3.4。

3.7 PT勵(li)磁(ci)試驗接線(xian)圖(tu)

在進行PT勵(li)磁(ci)試驗時請按照(zhao)圖3.10連接分析儀和被(bei)測(ce)PT。

執(zhi)行PT勵磁試(shi)驗(yan)時，需要(yao)外接PT勵磁試(shi)驗(yan)模塊(kuai)，以防止(zhi)發生高頻振蕩，造成測試(shi)結(jie)果的電流(liu)過(guo)大(da)

具體接線步驟和說明如下：

1）將PT二(er)次(ci)側(ce)(ce)的一端連接至(zhi)CTPT分析儀CT二(er)次(ci)側(ce)(ce)/PT一次(ci)側(ce)(ce)黑色端子

2）將PT二次(ci)側另一端連(lian)接(jie)至CTPT分(fen)析儀CT二次(ci)側/PT一次(ci)側紅色(se)端子(zi)

3）將PT勵(li)磁模塊的黃色/黑(hei)色線連接(jie)至分析儀的功率輸出

4）將PT二次側(ce)的一端連接至(zhi)PT勵磁模(mo)塊(kuai)的紅色插座

5）將PT二次側的(de)另(ling)外一端連接至PT勵(li)磁模(mo)塊的(de)黑色(se)插座

6）接(jie)地柱連接(jie)到保護地PE

7）將按照圖3.10所示，斷開被(bei)測PT二(er)次側和(he)二(er)次負(fu)荷的(de)連接(jie)

8）為了消除接(jie)觸電(dian)阻(zu)對線圈電(dian)阻(zu)測量(liang)的影響，在(zai)連(lian)接(jie)分析儀(yi)的端子(zi)(zi)(zi)時，CT二次(ci)側/PT一次(ci)側的連(lian)接(jie)端子(zi)(zi)(zi)應(ying)保持在(zai)功率輸出端子(zi)(zi)(zi)的內側，如圖3.4。

注意：PT勵磁試驗完成后，PT一(yi)(yi)次側可(ke)能有高壓殘留(liu)，一(yi)(yi)定要對PT一(yi)(yi)次側進行放電，否則將一(yi)(yi)次側再(zai)連接(jie)到儀器時，可(ke)能造成儀器損耗

第四章 LYFA3300用戶界面

4.1 儀器運行界(jie)面

軟件(jian)系統定義了(le)6種(zhong)運(yun)行狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)，這(zhe)6種(zhong)運(yun)行狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)分(fen)別為(wei)“等待新建試(shi)驗(yan)”，“等待查看(kan)歷史(shi)結(jie)果(guo)”，“等待試(shi)驗(yan)”，“運(yun)行”，“查看(kan)結(jie)果(guo)”和(he)“查看(kan)歷史(shi)結(jie)果(guo)”。不(bu)同的狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)下(xia)軟件(jian)顯(xian)示界(jie)面(mian)是(shi)不(bu)一樣的，但是(shi)整個(ge)軟件(jian)界(jie)面(mian)都是(shi)被劃分(fen)為(wei)5個(ge)區域，其(qi)劃分(fen)方式如圖(tu)4.1所示，5個(ge)區域分(fen)別為(wei)工具(ju)欄，儀器主(zhu)工作(zuo)區（在(zai)等待試(shi)驗(yan)界(jie)面(mian)顯(xian)示為(wei)試(shi)驗(yan)項(xiang)目選擇和(he)操作(zuo)命(ming)令選擇，如圖(tu)4.1），儀器狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)信息欄，當前試(shi)驗(yan)參數(shu)欄和(he)試(shi)驗(yan)控制欄。儀器處于不(bu)同的運(yun)行狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)時，僅僅是(shi)在(zai)主(zhu)工作(zuo)區對顯(xian)示界(jie)面(mian)進行切換。

4.2 儀器軟(ruan)件(jian)工具(ju)欄(lan)

工具欄包含了對儀(yi)器(qi)操作的各個命令按鈕，其中包括“新建(jian)試驗”，“保存”，“讀取(qu)”，“儀(yi)器(qi)設(she)置”，“語(yu)言(yan)選擇”，“互感器(qi)設(she)置”，“數據導出”和“使用幫助(zhu)”等，各個儀(yi)器(qi)控制命令的詳(xiang)細(xi)解釋如下。

4.2.1新(xin)建試驗

新(xin)建試驗是指結束當(dang)前(qian)的試驗窗口，軟件返回至“等待新(xin)建試驗狀(zhuang)態(tai)(tai)”，在該(gai)(gai)狀(zhuang)態(tai)(tai)下圖4.1所(suo)示界(jie)面被(bei)加載(zai)，可(ke)以在該(gai)(gai)窗體中選擇將(jiang)要進行的試驗項目(mu)，該(gai)(gai)窗體中的試驗項目(mu)包(bao)括“CT分析”，“CT比(bi)(bi)差角差測量(liang)”，“CT二次(ci)負荷(he)”，“CT極(ji)性檢(jian)查”，“CT線圈(quan)電(dian)(dian)阻測量(liang)”， “PT變比(bi)(bi)”，“PT二次(ci)負荷(he)”，“PT極(ji)性檢(jian)查”和“PT線圈(quan)電(dian)(dian)阻”，也可(ke)以在該(gai)(gai)狀(zhuang)態(tai)(tai)下重新(xin)啟動軟件或是關閉(bi)系(xi)統。

4.2.2 保(bao)存

保(bao)存(cun)(cun)按(an)(an)鈕是(shi)在(zai)完成(cheng)試驗(yan)以(yi)后，保(bao)存(cun)(cun)儀器試驗(yan)結(jie)果和(he)數據。在(zai)查看歷史結(jie)果時(shi)，如果用戶修(xiu)改(gai)(gai)當前(qian)的顯示模式（標(biao)準或互(hu)感(gan)器等(deng)級(ji)改(gai)(gai)變），可(ke)以(yi)通過此按(an)(an)鈕保(bao)存(cun)(cun)修(xiu)改(gai)(gai)后的結(jie)果。

儀器在保存試驗結果時文件的名稱(cheng)是按照如下格式進行組織的：

年(nian)-月-日(ri) 時(shi)：分：秒(miao) 互感器編號 試驗(yan)名稱.cta

例(li)如 2011-04-08 11：12：30 CT分析.cta

其中時間(jian)部分是取自試驗(yan)(yan)啟動瞬間(jian)的系(xi)統時間(jian)，因此在查看歷史結果(guo)狀態修(xiu)改試驗(yan)(yan)顯示(shi)模式后保(bao)存試驗(yan)(yan)結果(guo)，此時儀(yi)器將自動覆蓋原來的文件，而不會重(zhong)新(xin)為(wei)此文件創(chuang)建一個副本。

4.2.3讀取(qu)

讀取按鈕的功能是重新(xin)導(dao)入(ru)已保(bao)存的歷(li)史數據(ju)，當用戶(hu)點擊讀取按鈕以后圖(tu)4.2所示窗(chuang)體將會被加載。

在試驗(yan)讀取界(jie)面，窗體的(de)(de)(de)左(zuo)邊(bian)列出了當前儀器所保存(cun)的(de)(de)(de)所有(you)試驗(yan)文(wen)(wen)件(jian)名(ming)稱；右邊(bian)是(shi)對保存(cun)文(wen)(wen)件(jian)的(de)(de)(de)操(cao)作命令選(xuan)擇(ze)；右上角(jiao)是(shi)儀器當前存(cun)儲的(de)(de)(de)文(wen)(wen)件(jian)計數(shu)，其內容包括當前選(xuan)擇(ze)的(de)(de)(de)文(wen)(wen)件(jian)索引和當前存(cun)儲的(de)(de)(de)文(wen)(wen)件(jian)總數(shu)。

文件讀取(qu)窗體中的命令(ling)按鈕包括

1)“上一頁(ye)” 對文件顯示列表中的內(nei)容進行向上翻頁(ye)

2)“下一頁” 對文件(jian)顯示列表中的內容(rong)進行向下翻頁

3)“刪除(chu)(chu)所(suo)有文(wen)件”刪除(chu)(chu)當(dang)前存儲在(zai)儀(yi)器中的(de)所(suo)有試驗(yan)文(wen)件

4)“刪(shan)除(chu)文件(jian)”刪(shan)除(chu)當前所選擇的文件(jian)

5)“取(qu)消”退出文件讀取(qu)窗體

6)讀取當前所(suo)選擇的文件(jian)，儀器進入“查(cha)看歷史結果界面”，

4.2.4 儀器設置

儀(yi)器設(she)(she)置按(an)鈕(niu)用于設(she)(she)置儀(yi)器的(de)(de)運(yun)行(xing)參數，點擊儀(yi)器設(she)(she)置按(an)鈕(niu)圖(tu)4.3所示的(de)(de)窗體(ti)會(hui)被(bei)加載。

儀(yi)器設置界(jie)面中(zhong)的系統運行參數只會反(fan)映在儀(yi)器生成的試驗報告(gao)中(zhong)，與試驗的流程控(kong)制無關，其中(zhong)的各個參數詳細定義(yi)如表4.1

表4.1 系統運行參數

參數(shu)名稱	含義(yi)
儀器ID	儀(yi)器的(de)出廠識(shi)別號，所有的(de)儀(yi)器都具有*的(de)ID
軟件ID	儀器的DSP軟(ruan)件系統版本號
操作人員	生成WORD試驗報告(gao)時，報告(gao)中顯示的操作(zuo)人員名字
試驗單位	生(sheng)成WORD試(shi)驗(yan)報告時，報告中顯示(shi)的試(shi)驗(yan)單(dan)位
試驗地點	生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)(yan)報告(gao)時，報告(gao)中顯示(shi)的試驗(yan)(yan)地點(dian)
報告頁眉	生(sheng)成(cheng)WORD試驗報(bao)告時，報(bao)告頁眉(mei)部分的內容(rong)
報(bao)告(gao)頁腳	生成WORD試驗報告時，報告頁腳部分的內(nei)容(rong)
生(sheng)成 報告時(shi)含磁(ci)滯回路(lu)曲線	在(zai)完成(cheng)(cheng)CT分析(xi)試驗后，將(jiang)磁滯回線包含在(zai)所生成(cheng)(cheng)的WORD報告中
在誤差曲線中(zhong)使用整數(shu)一(yi)次電流倍數(shu)	在生成誤差曲(qu)線數(shu)據時只顯示(shi)一(yi)次電流整數(shu)倍數(shu)的數(shu)值

其余參數均與(yu)試(shi)(shi)驗過程的控制有關，但(dan)是只涉及CT測(ce)試(shi)(shi)時的試(shi)(shi)驗流程，與(yu)PT試(shi)(shi)驗沒有關系(xi)，其詳細(xi)含義如表4.2所示

參數名(ming)稱	含義
自動評估設置	如果設(she)為“關閉(bi)自動評(ping)估”，在CT分析試驗結束后，儀器(qi)給出(chu)各個參數數值，不(bu)會自動判定當前的試驗結果是否符(fu)合所選標準(zhun)的要求。 如果設置(zhi)僅對操作負荷(he)進行評估，在CT分析試驗(yan)結束后(hou)，儀器除給出試驗(yan)各參數(shu)的數(shu)值外，還(huan)會(hui)依據CT所(suo)連接(jie)負荷(he)為當前操作負荷(he)時，自動判(pan)斷(duan)各項指(zhi)標是否符合所(suo)選標準(zhun)要求(qiu) 如果設(she)置(zhi)對(dui)額定和操作負荷(he)(he)進行評估，在CT分析試驗結束后，儀器除給出試驗各參數(shu)的數(shu)值外，還會分別對(dui)CT所(suo)連(lian)接負荷(he)(he)為操作負荷(he)(he)和額定負荷(he)(he)時，自(zi)動判(pan)斷各項指(zhi)標是否符合(he)所(suo)選標準要求
勵磁試驗控(kong)制	默認情(qing)況下，系統設置為自(zi)動獲取(qu)(qu)(qu)系統的(de)飽和(he)(he)電(dian)壓(ya)點，此參數用于(yu)對CT進(jin)行勵(li)磁(ci)試驗時的(de)流程控制，儀器會根據獲取(qu)(qu)(qu)的(de)飽和(he)(he)電(dian)壓(ya)自(zi)動選取(qu)(qu)(qu)合適的(de)試驗頻(pin)率。如果選擇“自(zi)動獲取(qu)(qu)(qu)”則儀器在進(jin)行勵(li)磁(ci)試驗之前會自(zi)動測量所(suo)連接(jie)CT的(de)飽和(he)(he)電(dian)壓(ya)，否則儀器以(yi)設定的(de)飽和(he)(he)電(dian)壓(ya)為準進(jin)行勵(li)磁(ci)試驗。 注意(yi)：只有在(zai)“自動獲取”無法正確(que)獲得儀器的(de)飽(bao)(bao)和(he)電(dian)壓或者互感器的(de)飽(bao)(bao)和(he)電(dian)壓大于8KV時才將儀器設(she)(she)為人工(gong)設(she)(she)定模式，因為人工(gong)設(she)(she)定模式可(ke)能(neng)(neng)會導致不能(neng)(neng)獲得精細的(de)勵磁曲線
顯示簡化的勵磁數(shu)據(ju)	選中時(shi)勵磁(ci)曲線(xian)數據(ju)(ju)(ju)欄目將顯示(shi)多30個數據(ju)(ju)(ju)點，分別為拐點前(qian)15個數據(ju)(ju)(ju)點和(he)拐點后15個數據(ju)(ju)(ju)點，這(zhe)些數據(ju)(ju)(ju)點都是從勵磁(ci)曲線(xian)上(shang)等步長(chang)截取獲得的(de)，顯示(shi)簡化數據(ju)(ju)(ju)時(shi)可以加快生成WORD文檔的(de)速(su)度(du) 未選中時儀器顯示實(shi)際獲(huo)取的勵(li)磁數據點數，通常(chang)會大于100個點
1A/5A類型(xing)互感器判(pan)斷閾值	此(ci)參(can)數適用于(yu)銘牌自動(dong)推(tui)(tui)測工作(zuo)模式，當用戶選擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)(tui)測銘牌，并且互(hu)(hu)感(gan)(gan)器二次額定電(dian)流未知時，儀器以此(ci)閾(yu)值(zhi)來判(pan)斷互(hu)(hu)感(gan)(gan)器類型(xing)，線圈電(dian)阻(zu)小于(yu)此(ci)閾(yu)值(zhi)則認為是5A互(hu)(hu)感(gan)(gan)器，否則為1A互(hu)(hu)感(gan)(gan)器
1A互(hu)感(gan)器測量和保護類(lei)型判(pan)斷閾(yu)值	此(ci)參數適(shi)用于(yu)(yu)銘牌自動(dong)推測(ce)(ce)(ce)工作模式，當用戶選擇了自動(dong)推測(ce)(ce)(ce)銘牌，并且互(hu)感器(qi)(qi)等級未知(zhi)時，儀器(qi)(qi)以(yi)此(ci)閾值(zhi)來判斷1A的(de)互(hu)感器(qi)(qi)保(bao)護(hu)和(he)測(ce)(ce)(ce)量(liang)類型，飽和(he)電壓(ya)小(xiao)于(yu)(yu)此(ci)閾值(zhi)則(ze)認為是測(ce)(ce)(ce)量(liang)1A互(hu)感器(qi)(qi)，否則(ze)為保(bao)護(hu)1A互(hu)感器(qi)(qi)
5A互感器測量和保(bao)護類型判斷閾(yu)值	此(ci)參數適用于銘(ming)牌自(zi)動推測(ce)(ce)工作模(mo)式，當用戶選擇了自(zi)動推測(ce)(ce)銘(ming)牌，并且互感(gan)器等(deng)級未知(zhi)時，儀器以(yi)此(ci)閾值來判斷5A的互感(gan)器保護和測(ce)(ce)量類型，飽(bao)和電壓小于此(ci)閾值則認(ren)為是測(ce)(ce)量5A互感(gan)器，否則為保護5A互感(gan)器
勵(li)磁數據查(cha)找(zhao)條件	設置為通過電(dian)壓查找(zhao)電(dian)流時 在勵(li)磁(ci)(ci)曲線數據欄目中，輸入勵(li)磁(ci)(ci)電壓數值儀器自動查找對(dui)應的勵(li)磁(ci)(ci)電流(liu)數值 位置為(wei)通過電(dian)流查找電(dian)壓時 在勵磁(ci)曲線數據(ju)欄目中，輸入勵磁(ci)電(dian)流數值儀器自動查找對應(ying)的勵磁(ci)電(dian)壓數值

4.2.5 語言選擇(ze)

CT分析儀支持漢語和英文兩種語言，此按鈕用于系統語言的選擇和切換。點擊此按鈕后圖4.4所示窗體被加載。選擇簡體中文后儀器的工作語言為中文，選擇English則儀器的工作語言變成英文

4.2.6 CT參數設置

互感器設(she)置按鈕用于設(she)置被(bei)測CT銘牌參(can)數(shu)和CT分析(xi)試驗，變比試驗的流程控(kong)制參(can)數(shu)。點擊此(ci)按鈕后圖(tu)4.5所示窗體(ti)被(bei)加載。此(ci)窗體(ti)中各(ge)參(can)數(shu)的詳細(xi)定(ding)義請參(can)見(jian)第5.2節(jie)參(can)數(shu)設(she)置

4.2.7 數據導出

數據導出按鈕用于導出已(yi)保存在儀器上(shang)的(de)試(shi)驗數據，WORD報(bao)告等文件。點(dian)擊此按鈕后圖4.6所示(shi)的(de)窗(chuang)體被加載。

左邊的列(lie)表框(kuang)展示(shi)的是當前存儲在(zai)(zai)(zai)(zai)儀器(qi)(qi)上文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)列(lie)表，在(zai)(zai)(zai)(zai)文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)類型(xing)(xing)選擇下拉框(kuang)中選擇不同(tong)的文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)類型(xing)(xing)，則在(zai)(zai)(zai)(zai)左邊列(lie)表框(kuang)中將(jiang)展示(shi)相應的文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)，文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)類型(xing)(xing)包括“*.Cta“格(ge)式數(shu)(shu)據文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)，WORD試驗報告文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)和Jpg圖(tu)片文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)。文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)索引和文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)總數(shu)(shu)計數(shu)(shu)器(qi)(qi)展示(shi)儀器(qi)(qi)中存儲的當前類型(xing)(xing)文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)總數(shu)(shu)和現(xian)在(zai)(zai)(zai)(zai)所(suo)選擇的文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)索引，通過鼠標點擊可(ke)以同(tong)時選擇多個文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)，文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)被選擇時顯示(shi)為藍色(se)底色(se)。

數據導出窗體中的操作命令按鈕包括：

1)“上一頁” 對文件顯示列表(biao)中的內容進行向上翻頁

2)“下一(yi)頁&rdquo; 對文件顯示列表中(zhong)的內容(rong)進行向下翻頁

3)“清(qing)空(kong)存儲器(qi)(qi)&rdquo;，指刪(shan)除插(cha)入儀器(qi)(qi)的(de)U盤中“試驗(yan)數據”目錄(lu)下的(de)所有文(wen)件

4)“刪除所有文件”刪除當前存儲在儀器中的所有試驗(yan)文件

5)“刪除文件”刪除存儲在儀器(qi)中當前所選(xuan)擇的文件

6)“導(dao)出所(suo)有文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)”，將當前左(zuo)邊(bian)窗體中(zhong)(zhong)的(de)(de)所(suo)有試(shi)(shi)驗文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)導(dao)出至U盤(pan)中(zhong)(zhong)。如(ru)(ru)果(guo)當前選(xuan)擇的(de)(de)是(shi)“*.Cta”，則(ze)(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)(zhong)的(de)(de)所(suo)有“*.Cta”文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)都(dou)會被(bei)導(dao)出至U盤(pan)的(de)(de)“試(shi)(shi)驗數據(ju)(ju)(ju)儀器試(shi)(shi)驗數據(ju)(ju)(ju)”文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)目錄(lu)下(xia)，如(ru)(ru)果(guo)當前選(xuan)擇的(de)(de)是(shi)“.Doc”文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)，則(ze)(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)(zhong)的(de)(de)所(suo)有“*.Doc”文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)都(dou)會被(bei)導(dao)出至U盤(pan)的(de)(de)“試(shi)(shi)驗數據(ju)(ju)(ju)WORD試(shi)(shi)驗報告”目錄(lu)下(xia)。如(ru)(ru)果(guo)當前選(xuan)擇的(de)(de)是(shi)“.Jpg”文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)，則(ze)(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)(zhong)的(de)(de)所(suo)有“*.Jpg”文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)都(dou)會被(bei)導(dao)出至U盤(pan)的(de)(de)“試(shi)(shi)驗數據(ju)(ju)(ju)Jpg圖形文(wen)(wen)件(jian)(jian)(jian)(jian)”目錄(lu)下(xia)

7)“導出文(wen)件(jian)”，將當前所選擇的(de)文(wen)件(jian)導出至U盤對(dui)應的(de)目錄(lu)下(xia)。

8)“取消”退(tui)出(chu)文件(jian)導出(chu)窗體

4.2.8 使(shi)用(yong)幫助

此按鈕(niu)可以打(da)開儀器(qi)的使用(yong)幫助(zhu)文(wen)檔(dang)，使用(yong)幫助(zhu)文(wen)檔(dang)以“*.Pdf”的文(wen)件格式(shi)存儲在(zai)儀器(qi)中，當用(yong)戶(hu)點(dian)擊此按鈕(niu)后使用(yong)幫助(zhu)文(wen)檔(dang)會被打(da)開。

4.3 主(zhu)工作區

位于軟(ruan)件中部(bu)的所有區域是軟(ruan)件的主(zhu)工(gong)(gong)作區，儀(yi)器(qi)處于不同試驗狀態(tai)時(shi)主(zhu)工(gong)(gong)作區的內容會(hui)被切(qie)換，例(li)如當儀(yi)器(qi)處于“等(deng)(deng)待新建試驗狀態(tai)”時(shi)儀(yi)器(qi)主(zhu)工(gong)(gong)作區顯示試驗選(xuan)擇按鈕(niu)等(deng)(deng)如圖(tu)4.1. 當儀(yi)器(qi)處于&ldquo;查看結果”或“查看歷史結果”時(shi)，并且選(xuan)擇了當前展(zhan)示模式為勵磁曲線(xian)時(shi)，儀(yi)器(qi)顯示如圖(tu)4.7所示

4.4 儀器運(yun)行狀態信息(xi)欄(lan)

儀器狀態信(xin)息(xi)欄展示的信(xin)息(xi)有：

1）儀器的當前運行狀態(tai)，如“等(deng)待(dai)(dai)新建試驗(yan)”，“等(deng)待(dai)(dai)試驗(yan)”，“查(cha)(cha)看結(jie)果(guo)(guo)”，“查(cha)(cha)看歷史結(jie)果(guo)(guo)”，“運行”，“等(deng)待(dai)(dai)查(cha)(cha)看歷史結(jie)果(guo)(guo)”等(deng)。

2）除(chu)了儀器的運行狀態(tai)外還有對(dui)儀器內部的工(gong)控機(ji)(ji)與(yu)DSP之(zhi)(zhi)間(jian)通信(xin)的標識，如(ru)果DSP與(yu)工(gong)控機(ji)(ji)之(zhi)(zhi)間(jian)通信(xin)成功則(ze)儀器在(zai)狀態(tai)信(xin)息欄顯示聯機(ji)(ji)，否則(ze)儀器顯示為脫機(ji)(ji)狀態(tai)。

3）當(dang)前(qian)試驗(yan)項目，其內容為(wei)當(dang)前(qian)所選擇(ze)的試驗(yan)項目名稱(cheng)，如“CT分(fen)析”，“比差角差測量(liang)”等

4）系(xi)統(tong)日期和時間，當(dang)儀器處(chu)于聯機非(fei)運行(xing)狀態時，此欄目(mu)會(hui)顯示當(dang)前的(de)系(xi)統(tong)日期，系(xi)統(tong)時間和當(dang)前面板處(chu)的(de)環境溫度

5）環(huan)(huan)境(jing)(jing)溫(wen)度(du)。儀(yi)器每(mei)隔2分鐘會更新一次環(huan)(huan)境(jing)(jing)溫(wen)度(du)測(ce)量，所測(ce)得的環(huan)(huan)境(jing)(jing)溫(wen)度(du)將會被用(yong)于計算75攝氏(shi)度(du)的參考線圈電阻

4.5 試驗控制欄

試驗(yan)(yan)控(kong)制(zhi)欄里具有(you)“試驗(yan)(yan)參(can)數設(she)(she)置(zhi)(zhi)”和(he)“開(kai)始試驗(yan)(yan)”按(an)鈕，當儀器處于等待試驗(yan)(yan)狀(zhuang)態(tai)時點(dian)擊“試驗(yan)(yan)參(can)數設(she)(she)置(zhi)(zhi)”按(an)鈕，儀器將會顯示對應的(de)(de)試驗(yan)(yan)參(can)數設(she)(she)置(zhi)(zhi)窗體，在(zai)這些窗體中(zhong)用戶可以設(she)(she)置(zhi)(zhi)當前試驗(yan)(yan)的(de)(de)控(kong)制(zhi)參(can)數。

“開(kai)始試(shi)(shi)(shi)驗(yan)”按(an)(an)鈕(niu)(niu)用(yong)于(yu)啟動和停止(zhi)當(dang)前的試(shi)(shi)(shi)驗(yan)，當(dang)用(yong)戶從“等待試(shi)(shi)(shi)驗(yan)”或“查(cha)看(kan)結(jie)果(guo)”狀(zhuang)態點擊(ji)“開(kai)始試(shi)(shi)(shi)驗(yan)”按(an)(an)鈕(niu)(niu)后(hou)，儀(yi)器進入“運行”狀(zhuang)態，對(dui)應(ying)的試(shi)(shi)(shi)驗(yan)會(hui)被啟動，該按(an)(an)鈕(niu)(niu)的標識(shi)變成“停止(zhi)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)”，再(zai)次點擊(ji)該按(an)(an)鈕(niu)(niu)或試(shi)(shi)(shi)驗(yan)自(zi)動完成后(hou)，儀(yi)器進入“查(cha)看(kan)結(jie)果(guo)”狀(zhuang)態，對(dui)應(ying)的結(jie)果(guo)參(can)數被自(zi)動計算(suan)并展示。

注意：當儀器(qi)處(chu)于(yu)“查看(kan)歷(li)史結(jie)果”時，如果需要運(yun)行試驗(yan)必須首先(xian)點擊新建(jian)試驗(yan)，讓儀器(qi)進入到(dao)“等(deng)待試驗(yan)界面”，然后按照“等(deng)待新建(jian)試驗(yan)”->“等(deng)待試驗(yan)”->“運(yun)行”->“查看(kan)結(jie)果”的流(liu)程完成(cheng)試驗(yan)項目(mu)。

4.6 儀(yi)器的啟動與(yu)關(guan)閉

打開儀(yi)器(qi)面板的(de)電源后，儀(yi)器(qi)的(de)軟(ruan)件系(xi)統被(bei)自(zi)動加載，儀(yi)器(qi)進入“等待新建試(shi)驗”狀態(tai)，開機過(guo)程完成。

如(ru)果要關閉儀(yi)器，請(qing)首先通(tong)過軟件界面的(de)“關閉系統(tong)”按鈕(niu)關閉儀(yi)器。等(deng)待儀(yi)器顯示屏上提示“It is safe to shutdown now”時再切斷儀(yi)器的(de)電源。

注意(yi)：緊急(ji)情況時，請直接(jie)切(qie)斷儀器的(de)供電電源

第五章 LYFA3300試驗操作

5.1 試驗運(yun)行的(de)一般流程(cheng)

如第四章中的(de)描(miao)述儀器的(de)軟件運(yun)(yun)行可(ke)以分為“等(deng)(deng)待新建試驗”，“等(deng)(deng)待試驗&rdquo;，“查看結果”，“運(yun)(yun)行”，“查看歷史結果”和“等(deng)(deng)待查看歷史結果”6種狀態(tai)。軟件運(yun)(yun)行的(de)幾種常見的(de)流程如下(xia)：

1） 儀(yi)器開機以后進入“等(deng)待新建試驗”

“等待(dai)新建試(shi)驗”->“等待(dai)試(shi)驗”->&ldquo;運行”->“查(cha)看結果”

此流程的描述為儀器(qi)首先進(jin)入“等(deng)待新(xin)建試(shi)驗(yan)”狀(zhuang)態(tai)(tai)，用戶在此狀(zhuang)態(tai)(tai)選擇要進(jin)行的試(shi)驗(yan)，如CT分析(xi)，然(ran)后設置CT分析(xi)試(shi)驗(yan)的各個(ge)參數，儀器(qi)轉而進(jin)入“等(deng)待試(shi)驗(yan)”狀(zhuang)態(tai)(tai)，用戶再點擊“開(kai)始試(shi)驗(yan)按鈕(niu)”，試(shi)驗(yan)被啟動，等(deng)待試(shi)驗(yan)完成(cheng)后自動停(ting)止，儀器(qi)自動計算各個(ge)參數，并(bing)進(jin)入“查看結果”狀(zhuang)態(tai)(tai)。

2）從(cong)“查看(kan)結果”狀態開始(shi)另一項試驗

“查看結果”->&ldquo;等(deng)待新建試(shi)驗(yan)”->“等(deng)待試(shi)驗(yan)”->“運行”->“查看結果”

儀器在完成(cheng)一項試驗(yan)后需要進(jin)行(xing)另外一個試驗(yan)項目，則此(ci)流按照此(ci)流程進(jin)行(xing)。在“查(cha)看結(jie)果”狀態點擊“新建(jian)試驗(yan)”按鈕，儀器進(jin)入(ru)“等待新建(jian)試驗(yan)狀態”，后面的過(guo)程同第1項描述(shu)*

重復當前(qian)的試驗

“查(cha)看(kan)結果(guo)”->“運(yun)行”->“查(cha)看(kan)結果(guo)&rdquo;

完(wan)成一(yi)項(xiang)試(shi)驗后(hou)，以相同的參數(shu)重復這(zhe)一(yi)試(shi)驗項(xiang)目，則在“查看結果”狀態(tai)直(zhi)接點擊“開始試(shi)驗”按(an)鈕即可。

5.2 CT分析

5.2.1 CT分(fen)析(xi)試驗參數設(she)置(zhi)

CT分(fen)析試(shi)驗(yan)項目的(de)(de)參數(shu)設置(zhi)(zhi)界面如圖5.1所示(shi)。CT分(fen)析試(shi)驗(yan)和比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)試(shi)驗(yan)的(de)(de)參數(shu)設置(zhi)(zhi)界面是*的(de)(de)，比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)試(shi)驗(yan)所有需設置(zhi)(zhi)的(de)(de)參數(shu)項目在CT分(fen)析中也需要(yao)設置(zhi)(zhi)。

CT分析的(de)(de)(de)參(can)數(shu)(shu)設置分為2部分：與互感(gan)器(qi)等級(ji)相關(guan)的(de)(de)(de)參(can)數(shu)(shu)和與互感(gan)器(qi)等級(ji)無關(guan)的(de)(de)(de)參(can)數(shu)(shu)。其中表5.1描(miao)述了與互感(gan)器(qi)等級(ji)無關(guan)的(de)(de)(de)各參(can)數(shu)(shu)。表5.2至(zhi)表5.8所列出的(de)(de)(de)試驗參(can)數(shu)(shu)，是針對于不同等級(ji)的(de)(de)(de)互感(gan)器(qi)需(xu)要額外配置的(de)(de)(de)參(can)數(shu)(shu)。

注意(yi)：當互感器的飽(bao)和(he)電(dian)壓(ya)大于8KV時(shi)，請在(zai)系統參(can)數設置界面選擇人工(gong)設定勵磁試驗飽(bao)和(he)電(dian)壓(ya)，詳情(qing)見系統參(can)數設置

5.2.2 CT分析試(shi)驗流(liu)程

進(jin)行CT分析試驗時，用(yong)戶需要按照如下(xia)步(bu)驟進(jin)行：

1)在(zai)遵(zun)循安全規則的(de)前提下，按(an)照CT分(fen)析的(de)接線圖，完成(cheng)儀器和互感器的(de)連(lian)接

2)在(zai)軟件(jian)上選(xuan)擇“CT分析”試驗項目

3)完(wan)成互(hu)感器的各種試驗參數設置

4)啟(qi)動(dong)試(shi)驗(yan)，等待(dai)試(shi)驗(yan)完成

5)查(cha)看結(jie)果

注(zhu)意：對于(yu)飽和電壓很高的(de)互感(gan)器，儀器將會以很低(di)的(de)頻(pin)率檢測互感(gan)器的(de)勵磁特性（可能低(di)至0.25Hz），因此此時完成整個(ge)試(shi)(shi)驗(yan)所需(xu)的(de)時間可能較長(chang)（長(chang)會達(da)到半個(ge)小時），請(qing)耐心等待。嚴(yan)禁(jin)在試(shi)(shi)驗(yan)過程中斷開測試(shi)(shi)線的(de)連(lian)接

在執(zhi)行CT分析試(shi)驗時，儀(yi)器會按照如下過程完成整個試(shi)驗：

線圈電阻檢(jian)測(ce)(ce)->一次消磁(ci)->二次消磁(ci)->精細調(diao)壓測(ce)(ce)量(liang)(liang)比差(cha)角差(cha)->粗調(diao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)比差(cha)角差(cha)->測(ce)(ce)量(liang)(liang)互感(gan)器勵磁(ci)曲線

1)如果用戶選擇(ze)的工作模式是非自動獲取飽和(he)電壓則一次(ci)消磁過(guo)(guo)程將被(bei)跳過(guo)(guo)

2)如果互感(gan)器(qi)的飽和電壓較(jiao)低，則粗調測量比差角(jiao)差的流程將被跳過

在試(shi)驗過程中，左下角會(hui)提示(shi)當(dang)前(qian)儀器(qi)的功率(lv)輸出和試(shi)驗運行狀態。

在參(can)數(shu)設置(zhi)界面，如果選(xuan)擇(ze)“快速試驗”，儀器(qi)的記錄(lu)點數(shu)較少且升壓過程中電壓步進(jin)值較大，因(yin)此(ci)對于剩磁系數(shu)高，且飽和(he)電壓低(di)（<250V）的互感器(qi)勵磁曲線會出現不(bu)平(ping)滑現象，此(ci)時因(yin)選(xuan)擇(ze)標準試驗。

選擇(ze)標準試(shi)(shi)驗(yan)時(shi)儀器記(ji)錄的數據(ju)點多，勵磁(ci)曲線以及計算參數更(geng)，但是選擇(ze)標準試(shi)(shi)驗(yan)時(shi)，試(shi)(shi)驗(yan)時(shi)長是快速試(shi)(shi)驗(yan)的2倍以上。

圖5.1 CT分析試驗參數設(she)置

參數(shu)名稱	參數說(shuo)明
是否推測信息	用于(yu)CT分析(xi)和變比試(shi)驗項目控(kong)制，如(ru)果選(xuan)擇(ze)(ze)為(wei)輸入已知銘(ming)牌，則(ze)儀器(qi)不會(hui)自(zi)動推測(ce)銘(ming)牌信(xin)息，如(ru)果選(xuan)擇(ze)(ze)為(wei)自(zi)動猜測(ce)銘(ming)牌則(ze)儀器(qi)會(hui)根據(ju)缺損的信(xin)息自(zi)動推測(ce)“額定一次(ci)電(dian)流(liu)(liu)”，“額定二次(ci)電(dian)流(liu)(liu)”和“互感(gan)器(qi)等級”
生產廠(chang)家	此項(xiang)目僅用于生成WORD試驗(yan)報告(gao)時對(dui)互感器進(jin)行標(biao)識，與試驗(yan)流程無關
互感器型(xing)號(hao)	此項(xiang)目僅(jin)用于生成WORD試驗(yan)(yan)報告時對(dui)互感(gan)器進行標識(shi)，與試驗(yan)(yan)流(liu)程無關
互感器編號	此項目(mu)僅(jin)用于生成WORD試(shi)驗(yan)(yan)(yan)報告時(shi)對互感器進行(xing)標識和(he)保存(cun)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)時(shi)組成保存(cun)的文件名稱(cheng)，與試(shi)驗(yan)(yan)(yan)流程無關
額(e)定一次電流(liu)	設置互感器(qi)的額定(ding)一次(ci)電流(liu)值(zhi)，如果選擇了自動推測銘牌且額定(ding)一次(ci)電流(liu)設為未知，儀器(qi)將自動猜測額定(ding)一次(ci)電流(liu)值(zhi)
額定(ding)二次電流	設置互感器的額定二(er)(er)次電流(liu)(liu)值，如果選擇了自(zi)動推(tui)測銘牌(pai)且額定二(er)(er)次電流(liu)(liu)設為未知，儀器將自(zi)動猜測額定二(er)(er)次電流(liu)(liu)值
額定頻率	額定頻率選項用于比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)測(ce)量(liang)(liang)試驗項目的(de)控制，如果(guo)選擇(ze)了50Hz，儀(yi)器(qi)將(jiang)以50Hz的(de)頻率測(ce)量(liang)(liang)互(hu)感器(qi)的(de)比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)，如果(guo)選擇(ze)60Hz則儀(yi)器(qi)以60Hz頻率測(ce)量(liang)(liang)互(hu)感器(qi)的(de)比(bi)差(cha)和角(jiao)差(cha)
誤差(cha)曲(qu)線計算點(dian)	對于IEC60044-1的保護類(lei)型互感器，儀器將計算此點處的誤差曲線
測試(shi)標準選(xuan)擇	選擇(ze)不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)的(de)測試標準(zhun)，儀器將獲得不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)的(de)測試結(jie)果參數，對于相同(tong)(tong)的(de)結(jie)果參數其定義也可能不(bu)(bu)(bu)一樣(yang)，例如拐點電(dian)壓和拐點電(dian)流(liu)
互感器等級	在選(xuan)擇(ze)了測(ce)試標準后，選(xuan)擇(ze)互(hu)感器在此標準下(xia)的等(deng)級定義(yi)。
二次負荷	CT分析和(he)比(bi)差角(jiao)差試驗(yan)的(de)(de)計算參(can)數與所接負(fu)荷有關，所以不同的(de)(de)負(fu)荷值會(hui)得到不同的(de)(de)測試參(can)數，因此儀器的(de)(de)計算結(jie)果會(hui)給出互感器的(de)(de)額定(ding)負(fu)荷條件和(he)操(cao)作(zuo)負(fu)荷條件下的(de)(de)兩種結(jie)果。 額定負荷(he)：是(shi)指(zhi)互感器銘牌上所標識的大允許負荷(he)值 操作(zuo)負荷：是互感器當前所接負荷的實(shi)測值 負荷范圍：0~100.00，功率(lv)因數范圍：0~1.00
75攝氏度線圈(quan)電阻	銘牌上所標識的互感器(qi)在75攝(she)氏度時線圈電阻值，電阻范圍(wei)0~100.000

圖5.2 IEC60044-1/GB1208計量(liang)類(lei)電流(liu)互感器的參(can)數定義

名稱	參(can)數(shu)說明(ming)
儀器保(bao)安系數FS	的(de)儀(yi)器(qi)保護系數(shu)，此參(can)數(shu)影響自動評估的(de)結(jie)果，參(can)數(shu)范圍(wei)1~300
擴展電(dian)流計算點(dian)Ext	需(xu)要額外(wai)計算比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)的電流點(dian)，此計算結(jie)果在比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)試驗結(jie)果中展示，參數范(fan)圍0%~400%

圖5.3 IEC60044-1/GB1208 的5P/10P/5PR/10PR類(lei)電流互感(gan)器的參數(shu)定義

名(ming)稱	參數說明
準確(que)限值(zhi)系數ALF	的(de)準確限值系數，此參數影響自動評估的(de)結果，參數范圍：1~300
大短(duan)路電流	互(hu)感(gan)器(qi)一次側(ce)所在回路可能(neng)發生的(de)大短路電流

圖5.4 IEC60044-1/GB1208 的(de)PX類(lei)電流互(hu)感(gan)器的(de)參數定(ding)義

名稱(cheng)	參數說明
準確限值系數ALF	的(de)準確限(xian)值系數，此(ci)參數影(ying)響(xiang)自動評估(gu)的(de)結果，參數范圍：1~300
面(mian)積系數	的(de)面積增(zeng)大系數(shu)，此參數(shu)影(ying)響自動評(ping)估的(de)結(jie)果，參數(shu)范(fan)圍：1~300
準(zhun)確限制(zhi)電壓	銘牌標識的準確限制電壓，此參(can)數影響(xiang)自動(dong)評估結果，參(can)數范圍0~10000.00
準(zhun)確限制電流(liu)	準(zhun)確限制電流，此參數影響(xiang)自動評(ping)估結果(guo)，參數范圍0~9.9999A

圖5.5 IEC60044-6 TPS互感器參數設(she)置

名(ming)稱	參(can)數說明
對稱(cheng)短(duan)路電流系數(shu)Kssc	的對稱短路電(dian)流系數(shu)Kssc，此參(can)(can)數(shu)影響結果參(can)(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結果，參(can)(can)數(shu)范(fan)圍(wei)：1~300
暫(zan)態面積系(xi)數(shu)Ktd	的暫態(tai)面積系數(shu)Ktd，此參數(shu)影響結(jie)果參數(shu)計算(suan)和自動評估(gu)結(jie)果，參數(shu)范圍(wei)：1~300
一次時間常數Tp	的(de)一次時間(jian)常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響結(jie)果參(can)數(shu)計算和(he)自動評估(gu)結(jie)果，參(can)數(shu)范圍：0~10000ms
準確限制電壓(ya)Val	銘牌(pai)標識的準(zhun)確限制電(dian)壓，此參(can)數影響結果(guo)參(can)數計算和自動評估結果(guo)，參(can)數范圍：0~10000V
準確限制電流Ial	銘牌標識的準確限制(zhi)電流(liu)，此參(can)(can)數影(ying)響結果(guo)參(can)(can)數計算和自動(dong)評(ping)估結果(guo)，參(can)(can)數范圍：0~9.9999A

圖5.6 IEC60044-6 TPX/TPY互感器參(can)數(shu)設置

名稱	參數(shu)說明
對(dui)稱(cheng)短(duan)路電流系數Kssc	的對(dui)稱短路電流系(xi)數(shu)(shu)Kssc，此參(can)數(shu)(shu)影(ying)響結(jie)果參(can)數(shu)(shu)計算和自動(dong)評估(gu)結(jie)果，參(can)數(shu)(shu)范圍：1~300
暫態面(mian)積系數(shu) Ktd	的暫態面積系數Ktd，此參(can)數影響結果(guo)參(can)數計算(suan)和自(zi)動評(ping)估結果(guo)，參(can)數范圍：1~300
一次(ci)時(shi)間(jian)常(chang)數 Tp	的一次時間(jian)常數(shu)，此(ci)參數(shu)影響(xiang)結果參數(shu)計算(suan)和自動評估結果，參數(shu)范圍：0~10000ms
二次時間常數Ts	的二次(ci)時間常數(shu)(shu)(shu)，此參(can)數(shu)(shu)(shu)影(ying)響(xiang)自動(dong)評估(gu)的結果，參(can)數(shu)(shu)(shu)范圍：0~100000ms
工作循環選擇	選(xuan)擇工作循(xun)環C-O或C-O-C-O，此參數影(ying)響結(jie)果參數計算和自動評估結(jie)果
*次電流(liu)時限(xian) t1	的準確限值(zhi)在t-al1 時間(jian)內不能達到，范(fan)圍：0～10000ms，此參數影(ying)響結果(guo)參數計算和自動評估結果(guo)
第二次電流時限(xian) t2	的準確(que)限值在t-al2 時(shi)間內不能達到(dao)，范圍：0～10000ms，此(ci)參數(shu)影響結果(guo)參數(shu)計算和(he)自動評估結果(guo)
*次工作(zuo)循環的準確限值的允(yun)許時間 t-al1	范(fan)圍：0～10000ms，此參數影(ying)響結果(guo)參數計算和自動評估結果(guo)
第二次工(gong)作循環的準確限值的允許時間(jian)t-al2	范圍(wei)：0～5000ms，此參數(shu)影響結(jie)果參數(shu)計(ji)算(suan)和(he)自動評估結(jie)果
*次打開和重合閘的(de)延(yan)時 tfr	范圍：0～5000ms，此參數(shu)影響結果參數(shu)計算和自動評(ping)估結果

圖5.7 IEC60044-6 TPZ互感(gan)器參數設置

名稱	參數說明
對稱短路電(dian)流系數(shu)Kssc	的對稱短路電流系數Kssc，此參(can)數影(ying)響(xiang)結果參(can)數計(ji)算和自動評(ping)估(gu)結果，參(can)數范圍：1~300
暫態(tai)面積系數 Ktd	的暫(zan)態面積系數Ktd，此(ci)參(can)數影響結(jie)果(guo)參(can)數計算和自動評估結(jie)果(guo)，參(can)數范(fan)圍(wei)：1~300
一(yi)次時間常數 Tp	的一次時間常數(shu)，此參(can)數(shu)影響結果參(can)數(shu)計算和自動評估結果，參(can)數(shu)范圍：0~10000ms
二(er)次時(shi)間(jian)常數Ts	的二次(ci)時(shi)間(jian)常(chang)數(shu)(shu)，此參數(shu)(shu)影(ying)響自動評估(gu)的結果，參數(shu)(shu)范圍：0~100000ms

圖5.8 C57.13 互感器參數設置

名稱	參數(shu)說明
額定熱電流系數RF	銘牌標識的(de)(de)額定(ding)二次熱(re)電流系數(shu)(shu)(shu)，如果(guo)此參(can)數(shu)(shu)(shu)不為0，將計(ji)算(suan)額定(ding)電流乘以此系數(shu)(shu)(shu)后所得測量點的(de)(de)比差(cha)和(he)角差(cha)，此參(can)數(shu)(shu)(shu)影響結果(guo)計(ji)算(suan)和(he)自(zi)動評估。參(can)數(shu)(shu)(shu)范圍：0~10.00
額定二次端電壓(ya)VB	銘牌標識的額定(ding)二次端電壓，此參(can)數(shu)(shu)影響參(can)數(shu)(shu)計(ji)算和(he)自(zi)動評估(gu)結果。參(can)數(shu)(shu)范圍：0~10000.0V

5.2.3 CT分(fen)析試(shi)試(shi)驗結果

當CT分(fen)析試驗(yan)完(wan)成后圖4.7所示的勵磁曲線將會被首先顯示，通過圖中的試驗(yan)結果項目切換(huan)按(an)鈕(niu)，可(ke)以更換(huan)當前的試驗(yan)結果內容，各(ge)個(ge)按(an)鈕(niu)的說明(ming)如下：

1 磁滯(zhi)回線與數據

點(dian)擊磁(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回(hui)線(xian)(xian)按鈕(niu)后(hou)，被測(ce)互(hu)感(gan)器鐵芯(xin)的(de)(de)(de)飽和(he)(he)(he)磁(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回(hui)線(xian)(xian)將會顯示在(zai)屏幕上如圖5.2.1所(suo)(suo)示，該(gai)(gai)曲(qu)線(xian)(xian)為(wei)被測(ce)互(hu)感(gan)器在(zai)某測(ce)試頻(pin)率(lv)下(xia)所(suo)(suo)獲得的(de)(de)(de)飽和(he)(he)(he)磁(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回(hui)路(lu)曲(qu)線(xian)(xian)，測(ce)試頻(pin)率(lv)顯示在(zai)界面(mian)的(de)(de)(de)左側，曲(qu)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)橫軸(zhou)為(wei)瞬(shun)時(shi)電(dian)流(liu)(liu)，縱(zong)軸(zhou)為(wei)該(gai)(gai)電(dian)流(liu)(liu)下(xia)對(dui)應(ying)的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)（單位是韋伯(bo)），磁(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回(hui)線(xian)(xian)由上升曲(qu)線(xian)(xian)和(he)(he)(he)下(xia)降曲(qu)線(xian)(xian)組成(cheng)，點(dian)擊“啟(qi)動數(shu)據(ju)分析(xi)”可以獲取曲(qu)線(xian)(xian)上某一電(dian)流(liu)(liu)點(dian)對(dui)應(ying)的(de)(de)(de)上升曲(qu)線(xian)(xian)數(shu)據(ju)和(he)(he)(he)下(xia)降曲(qu)線(xian)(xian)數(shu)據(ju)，點(dian)擊磁(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回(hui)線(xian)(xian)數(shu)據(ju)可以查看所(suo)(suo)有測(ce)量(liang)(liang)點(dian)的(de)(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)值和(he)(he)(he)磁(ci)(ci)通量(liang)(liang)數(shu)值

2 磁化曲(qu)線數據

點(dian)擊(ji)磁(ci)化(hua)(hua)(hua)(hua)曲線數(shu)(shu)據后(hou)，圖5.2所示的(de)(de)(de)(de)界面將(jiang)(jiang)會被加載。磁(ci)化(hua)(hua)(hua)(hua)曲線所對(dui)(dui)應的(de)(de)(de)(de)磁(ci)化(hua)(hua)(hua)(hua)數(shu)(shu)據點(dian)將(jiang)(jiang)在(zai)(zai)本(ben)窗體中展現，拖(tuo)動(dong)列表(biao)框的(de)(de)(de)(de)滑(hua)動(dong)條或按鍵盤的(de)(de)(de)(de)方向鍵，可以瀏(liu)覽所有(you)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)化(hua)(hua)(hua)(hua)曲線數(shu)(shu)據。在(zai)(zai)界面的(de)(de)(de)(de)下(xia)方是自動(dong)計算得到的(de)(de)(de)(de)磁(ci)化(hua)(hua)(hua)(hua)曲線的(de)(de)(de)(de)拐點(dian)電(dian)壓(ya)和(he)拐點(dian)電(dian)流。磁(ci)化(hua)(hua)(hua)(hua)曲線數(shu)(shu)顯示界面還支持勵(li)(li)磁(ci)電(dian)流查詢(xun)功能，只(zhi)要輸入不超過大勵(li)(li)磁(ci)電(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)(de)一個(ge)數(shu)(shu)值(zhi)在(zai)(zai)勵(li)(li)磁(ci)電(dian)壓(ya)文本(ben)框中，分析儀自動(dong)計算并顯示其對(dui)(dui)應的(de)(de)(de)(de)勵(li)(li)磁(ci)電(dian)流值(zhi)。

3 磁化(hua)曲線

磁化曲線的(de)界面(mian)如圖4.7所示，展示的(de)內容包括(kuo)，自動(dong)計算的(de)拐點電壓，拐點電流，磁化曲線圖，通過“拐點顯(xian)示”復選框，可以顯(xian)示和隱藏拐點在磁化曲線上的(de)位(wei)置。

在磁化(hua)曲線(xian)展示(shi)界(jie)面(mian)選(xuan)擇“啟動數(shu)據(ju)分析”后，可(ke)以通過定位(wei)(wei)線(xian)獲(huo)取當前位(wei)(wei)置對應的磁化(hua)電流和(he)磁化(hua)電壓值，通過“<<左(zuo)移”，“>>右移”和(he)“鼠標(biao)(biao)點擊”可(ke)以改變定位(wei)(wei)線(xian)的位(wei)(wei)置。“鼠標(biao)(biao)點擊”是指在“啟動數(shu)據(ju)分析”后通過鼠標(biao)(biao)或(huo)者觸(chu)摸屏點擊磁化(hua)曲線(xian)展示(shi)區域(yu)，則定位(wei)(wei)線(xian)會移動至(zhi)點擊處的X坐標(biao)(biao)。

點擊(ji)曲(qu)線對比，還可以實現當前(qian)曲(qu)線和存儲(chu)的歷(li)史(shi)曲(qu)線對比，顯示界面(mian)如圖(tu)5.3所示。曲(qu)線比較功能可以用來對同一互(hu)感器不同時期(qi)的測量(liang)曲(qu)線進行對比，也可以用來對三相互(hu)感器的勵磁(ci)特性曲(qu)線進行對比。曲(qu)線對比窗口各按鈕的定義(yi)如下：

讀取(qu)參考(kao)曲線1

從存儲的歷史數據中讀取1條參考勵磁曲(qu)線與當前曲(qu)線進行對比

讀取參考(kao)曲線2

從存(cun)儲的歷史數(shu)據中讀(du)取1條參考勵磁曲(qu)線與當前曲(qu)線進行對比

清除(chu)參考曲線(xian)

清除(chu)當前(qian)對(dui)比窗口中所(suo)有(you)的(de)參考(kao)曲線(xian)

復制圖像(xiang)

將當前對比曲線圖形窗口復制成為(wei)JPG文(wen)件并保(bao)(bao)存，保(bao)(bao)存的Jpg文(wen)件可以通過U盤(pan)導(dao)出(chu)

退出

關閉曲線(xian)對比窗口

X坐標設置

調整(zheng)曲(qu)線對比圖(tu)形窗(chuang)口(kou)的X坐標范圍，此參(can)數可以改變(bian)圖(tu)形的X軸縮(suo)放比例

Y坐標(biao)設置

調(diao)整曲線對比圖(tu)形窗口的Y坐標范圍(wei)，此參數可以(yi)改(gai)變圖(tu)形的Y軸(zhou)縮放比例

數據(ju)分析

點(dian)擊(ji)啟動數據分析(xi)后，示波窗(chuang)口中(zhong)會出現1條定位(wei)線，通過定位(wei)線的(de)(de)移(yi)動可(ke)以(yi)讀取對應X軸位(wei)置的(de)(de)Y坐標值。可(ke)以(yi)通過“左移(yi)”，“右移(yi)”或者鼠標點(dian)擊(ji)改變(bian)定位(wei)線的(de)(de)位(wei)置

4 誤差曲線數據與誤差曲線

當選擇互(hu)感器(qi)是IEC60044-1的(de)保護類型時，CT分析試驗還會繪制(zhi)互(hu)感器(qi)的(de)誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線，并列出誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線數(shu)據(ju)(ju)，誤差(cha)展示方式如圖5.4. 誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線數(shu)據(ju)(ju)展示如圖5.2，但(dan)是展示誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線數(shu)據(ju)(ju)時沒有拐點(dian)電壓和(he)拐點(dian)電流項目顯示，誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線窗(chuang)口(kou)中的(de)曲(qu)(qu)(qu)線對(dui)比功能(neng)和(he)磁化(hua)曲(qu)(qu)(qu)線窗(chuang)口(kou)中的(de)曲(qu)(qu)(qu)線對(dui)比功能(neng)*，詳細說(shuo)明見(jian)磁化(hua)曲(qu)(qu)(qu)線的(de)曲(qu)(qu)(qu)線對(dui)比說(shuo)明。

5 比差(cha)角差(cha)試驗結果(guo)

在CT分(fen)析試驗完(wan)成后，互感(gan)器的比(bi)差(cha)(cha)(cha)(cha)，角(jiao)差(cha)(cha)(cha)(cha)，匝(za)數(shu)比(bi)，匝(za)數(shu)比(bi)誤(wu)差(cha)(cha)(cha)(cha)，極性也會被(bei)顯示(shi)，點(dian)擊“比(bi)差(cha)(cha)(cha)(cha)與(yu)角(jiao)差(cha)(cha)(cha)(cha)”，則比(bi)差(cha)(cha)(cha)(cha)與(yu)角(jiao)差(cha)(cha)(cha)(cha)的試驗結果顯示(shi)如圖5.5所示(shi)。

比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)結果展(zhan)示界(jie)面中，各參數(shu)定(ding)義如表5.9所示。

表5.9 CT分析試驗比(bi)差(cha)與(yu)角(jiao)差(cha)展(zhan)示

參數	參數說明
額定一次電流(liu)	啟動(dong)試(shi)驗前所設置的互感器參數(shu)，用于匝(za)數(shu)比誤差計算
額定二次(ci)電流(liu)	啟動試驗前(qian)所設置(zhi)的互感器參(can)數，用于(yu)匝數比(bi)誤(wu)差計算
標準	啟動試(shi)驗前所(suo)設(she)置(zhi)的互感器參數，比差角(jiao)差檢測是(shi)按照此(ci)標準進行(xing)的
頻(pin)率	啟動試(shi)驗前所設置的互感(gan)器參數，比差(cha)角(jiao)差(cha)結果在(zai)此頻(pin)率下(xia)檢測(ce)得到
匝數(shu)比	實測的互感器(qi)匝數比
匝數比誤(wu)差(cha)	實測的匝(za)數(shu)(shu)比(bi)與額(e)(e)定電流(liu)比(bi)之間(jian)的誤差，計算公式為(wei)：（實測匝(za)數(shu)(shu)比(bi)-額(e)(e)定電流(liu)比(bi)）/額(e)(e)定電流(liu)比(bi)。其中額(e)(e)定電流(liu)比(bi)為(wei)：（額(e)(e)定一次(ci)電流(liu)/額(e)(e)定二次(ci)電流(liu)）
極性	實(shi)測的電流互感器當前接(jie)線極(ji)性，顯示為(wei)同極(ji)性（即(ji)-極(ji)性）或反極(ji)性（即(ji)+極(ji)性）
額定負荷	啟動試驗前所設(she)置的互感器(qi)參(can)數，用于比差(cha)角差(cha)計(ji)算
額定功(gong)率因(yin)數	啟動試驗(yan)前所設置的(de)互感器參數，用于比(bi)差角差計算
額定負荷比差角差	當互(hu)感器連接負荷為額(e)定負荷時的比差(cha)和(he)角度差(cha)數據
操(cao)作負荷	啟動試驗前所設置(zhi)的互(hu)感器參數，用于(yu)比差(cha)角差(cha)計(ji)算(suan)
操作功(gong)率因(yin)數	啟(qi)動試驗前所設置(zhi)的互感器參數，用于比差角差計算
操作負(fu)荷比差角差	當互感器連接負(fu)荷為操作負(fu)荷時(shi)的比差和角度(du)差數據

6 線圈電阻

CT分析(xi)試驗(yan)完(wan)成(cheng)后(hou)，點(dian)擊線圈電阻按鈕則圖5.6所示(shi)的(de)線圈電阻實測(ce)參數窗體會被加載。

7 誤(wu)差曲線數據(ju)與(yu)誤(wu)差曲線

當選擇(ze)互感器是IEC60044-1的保護(hu)類型(xing)時，CT分析(xi)試驗還會繪制互感器的誤差曲(qu)線(xian)(xian)，并列出誤差曲(qu)線(xian)(xian)數據(ju)，誤差曲(qu)線(xian)(xian)展(zhan)示(shi)方式如圖5.4. 誤差曲(qu)線(xian)(xian)數據(ju)展(zhan)示(shi)如圖5.2，但是展(zhan)示(shi)誤差曲(qu)線(xian)(xian)數據(ju)時沒(mei)有拐點(dian)電壓和(he)拐點(dian)電流(liu)項目顯示(shi)。

8 比(bi)差角差試(shi)驗結果

在CT分析試(shi)驗完成后，互感器的(de)比(bi)差(cha)(cha)，角(jiao)差(cha)(cha)，匝數比(bi)，匝數比(bi)誤(wu)差(cha)(cha)，極(ji)性也會被顯(xian)示(shi)，點擊“比(bi)差(cha)(cha)與(yu)(yu)角(jiao)差(cha)(cha)”，則比(bi)差(cha)(cha)與(yu)(yu)角(jiao)差(cha)(cha)的(de)試(shi)驗結(jie)果顯(xian)示(shi)如圖5.5所(suo)示(shi)。

在線圈電阻實測(ce)參(can)數展示(shi)界面(mian)中各個項目(mu)的定義如表5.10所示(shi)。

圖(tu)5.10 線圈電阻(zu)界面參數(shu)說明

名(ming)稱(cheng)	參數(shu)說明
測試(shi)電(dian)流	測試時加載到二次繞組(zu)上的實際電流值
測試(shi)溫(wen)度	測(ce)試時的實際環境(jing)溫度值(zhi)
測(ce)試電壓	測試(shi)時二次繞(rao)組上所檢測到的電(dian)壓值
線(xian)圈電阻	當前環(huan)境(jing)溫度(du)所檢測到的線圈(quan)電阻值
參考溫度	按照(zhao)標準需要換算到的溫(wen)度(du)
線圈電阻(zu)	按照公(gong)式所換算(suan)得到的線圈電(dian)阻值(zhi)，其中Kcopper使(shi)用的是銅(tong)材料的電(dian)阻溫度系數(shu)

9 勵磁參數與測試評估(gu)

在(zai)CT分析(xi)試(shi)驗(yan)結(jie)果(guo)展(zhan)示(shi)界面中點擊“勵(li)(li)磁參(can)數(shu)與(yu)測(ce)(ce)試(shi)評(ping)(ping)估”結(jie)果(guo)按(an)鈕，則根(gen)據(ju)(ju)勵(li)(li)磁特性所測(ce)(ce)量(liang)得到的(de)(de)勵(li)(li)磁參(can)數(shu)和自動評(ping)(ping)估結(jie)果(guo)將(jiang)會以圖5.7的(de)(de)形式展(zhan)示(shi)。勵(li)(li)磁參(can)數(shu)計算項目根(gen)據(ju)(ju)所選互感器等級不(bu)同(tong)而不(bu)同(tong)，詳細的(de)(de)參(can)數(shu)說明參(can)見第6章自動評(ping)(ping)估與(yu)銘牌推(tui)測(ce)(ce)。

圖5.7界面的(de)(de)下方是自(zi)動評(ping)(ping)估(gu)結(jie)果，自(zi)動評(ping)(ping)估(gu)結(jie)果包括單項評(ping)(ping)估(gu)項目(mu)，評(ping)(ping)估(gu)標準和終(zhong)評(ping)(ping)估(gu)結(jie)果。如果單項評(ping)(ping)估(gu)通過則(ze)列(lie)表的(de)(de)后一(yi)列(lie)顯示合格(ge)，否(fou)則(ze)顯示不合格(ge)并且(qie)該項的(de)(de)顏色會(hui)變成(cheng)紅色。詳細的(de)(de)評(ping)(ping)估(gu)說(shuo)明和評(ping)(ping)估(gu)條件請參見“第6章自(zi)動評(ping)(ping)估(gu)與(yu)銘(ming)牌推測”。

5.3 CT比差角差測量(liang)

5.3.1 比差(cha)角差(cha)測(ce)量試驗參(can)數設置(zhi)

比差角差測量試驗的參數設(she)置界(jie)面(mian)與CT分析參數設(she)置界(jie)面(mian)和設(she)置項目*，詳(xiang)情請參見(jian)5.2.1CT分析參數設(she)置章節(jie)

5.3.2比差角差試(shi)驗(yan)流(liu)程

進(jin)行比差(cha)角差(cha)測量試(shi)驗時，試(shi)驗的步(bu)驟與(yu)CT分析*，詳情請參照5.2.2CT分析試(shi)驗流程章(zhang)節。CT比差(cha)角差(cha)測量時典型的試(shi)驗流程如下(xia)“

線(xian)圈(quan)電阻檢測->一(yi)次消(xiao)磁->二次消(xiao)磁->精細調壓(ya)測量(liang)比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)->粗調測量(liang)比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)

1）如果用戶選(xuan)擇的工作模(mo)式是非自動獲取飽和(he)電壓則一次(ci)消磁(ci)過(guo)程將(jiang)被跳過(guo)

2）如(ru)果互感器的(de)飽和電壓(ya)較(jiao)低，則(ze)粗調(diao)測量(liang)比差角(jiao)差的(de)流(liu)程將(jiang)被跳過

在試(shi)驗過程(cheng)中，左下(xia)角會(hui)提示當前儀器的(de)功(gong)率(lv)輸(shu)出和(he)試(shi)驗運行狀態(tai)。

5.3.3 比(bi)差(cha)角差(cha)試驗結果(guo)展示

比(bi)差(cha)(cha)(cha)角差(cha)(cha)(cha)試驗(yan)結(jie)(jie)果(guo)(guo)展(zhan)示(shi)與(yu)CT分析試驗(yan)結(jie)(jie)果(guo)(guo)展(zhan)示(shi)中的“比(bi)差(cha)(cha)(cha)角差(cha)(cha)(cha)”結(jie)(jie)果(guo)(guo)展(zhan)示(shi)部分是**的，詳情請參見5.2.3 CT分析試驗(yan)結(jie)(jie)果(guo)(guo)展(zhan)示(shi)

5.4 CT線圈電阻測量(liang)

CT線(xian)圈(quan)(quan)(quan)電(dian)(dian)阻測量(liang)試(shi)驗只需設置互感器(qi)編號。選(xuan)擇線(xian)圈(quan)(quan)(quan)電(dian)(dian)阻測量(liang)后，儀(yi)器(qi)給(gei)出(chu)試(shi)驗的連線(xian)參考圖。啟動(dong)試(shi)驗，儀(yi)器(qi)輸出(chu)0.5A直流電(dian)(dian)流對線(xian)圈(quan)(quan)(quan)進(jin)行充(chong)電(dian)(dian)，當線(xian)圈(quan)(quan)(quan)電(dian)(dian)阻值穩(wen)定以(yi)后試(shi)驗自動(dong)停(ting)止，并記錄停(ting)止時(shi)刻(ke)的線(xian)圈(quan)(quan)(quan)電(dian)(dian)阻值和環境(jing)溫度(du)值（儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)部(bu)位帶有溫度(du)傳感器(qi)，用于測量(liang)當前的環境(jing)溫度(du)）。

試驗結束后儀器(qi)還會自動計算溫度為75攝氏度時的(de)參考電阻值。

試驗完成后(hou)結(jie)果展(zhan)示(shi)方式與5.2.3章節中的線圈電阻展(zhan)示(shi)頁面**。

5.5 CT極性檢查

CT極(ji)性(xing)試(shi)(shi)驗只需設置互感器編號。選擇(ze)極(ji)性(xing)檢(jian)查試(shi)(shi)驗后，儀器給出試(shi)(shi)驗的連(lian)線(xian)參考圖。啟(qi)動試(shi)(shi)驗后，儀器輸(shu)出交流正弦電壓至CT二次(ci)繞組(zu)，并測(ce)(ce)量CT一(yi)(yi)次(ci)側(ce)繞組(zu)的電壓，當CT一(yi)(yi)次(ci)繞組(zu)電壓超過測(ce)(ce)量閾值或CT二次(ci)電壓輸(shu)出至大電壓時(shi)，儀器計算此時(shi)的CT極(ji)性(xing)。儀器按(an)照如下(xia)標準(zhun)來判定被測(ce)(ce)CT的極(ji)性(xing)：

90度>當(dang)一次(ci)電(dian)(dian)壓與二次(ci)電(dian)(dian)壓相角差>-90度 時(shi)計算結果(guo)為同極(ji)(ji)性（-極(ji)(ji)性），否(fou)則為反極(ji)(ji)性（+極(ji)(ji)性）

極(ji)性檢查試(shi)驗完成后，試(shi)驗結(jie)果(guo)如(ru)圖(tu)5.8所示(shi)。

5.6 CT二次(ci)負荷測(ce)量

5.6.1 CT二次(ci)負荷測量參數(shu)設置

二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷測量(liang)(liang)的(de)試驗參(can)數設置項目(mu)包括互感器編號，測試電(dian)流，測試頻率(lv)，選擇二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷測量(liang)(liang)后(hou)圖5.9所示的(de)參(can)數設置窗(chuang)體將(jiang)會(hui)被加載(zai)。啟(qi)動二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷試驗后(hou)儀器會(hui)根據所選擇的(de)參(can)數輸出一個(ge)恒定的(de)正弦(xian)電(dian)流至CT二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷回路。

圖5.9所示(shi)的二次負荷參數設置(zhi)界面中，3個試驗參數的意義為：

1> CT額定二(er)次(ci)電流

此參數不影(ying)響試驗流程，僅用(yong)于計算二(er)(er)次回(hui)路(lu)的負荷(he)值，例如測(ce)得二(er)(er)次回(hui)路(lu)的阻抗為(wei)(wei)2ohm，如果選擇額定(ding)二(er)(er)次電(dian)流為(wei)(wei)1A，則對應(ying)的二(er)(er)次負荷(he)為(wei)(wei)2VA，如果選擇的額定(ding)二(er)(er)次電(dian)流為(wei)(wei)5A，則對應(ying)的二(er)(er)次負荷(he)為(wei)(wei)50VA

2> 額定頻(pin)率(lv)

此參數用于控制輸(shu)出(chu)(chu)電(dian)流的頻(pin)率值，如果選(xuan)擇(ze)50Hz，則輸(shu)出(chu)(chu)電(dian)流的頻(pin)率為(wei)50Hz，否則輸(shu)出(chu)(chu)電(dian)流頻(pin)率為(wei)60Hz

3> 互感器編號：組成(cheng)保存(cun)試(shi)驗文件的名稱

5.6.2 CT二次負荷(he)測量(liang)試驗流程(cheng)

儀(yi)器(qi)的二(er)次負(fu)荷測量分為兩(liang)檔，兩(liang)檔的輸出電流(liu)值（RMS）和對應的量程為:

1) 測試電流為(wei)0.5A（RMS），測量(liang)量(liang)程為(wei)0~80ohm

2）測(ce)試電流為(wei)0.25A（RMS），測(ce)量量程為(wei)0~160ohm

試驗啟動(dong)后儀器首先輸(shu)出(chu)0.5A(RMS)測(ce)試電流(liu)，如果發現被(bei)測(ce)負載超(chao)過了量程范圍，則(ze)儀器自動(dong)調整(zheng)輸(shu)出(chu)電流(liu)值至0.25A（RMS），再次進行(xing)測(ce)量

5.6.3 CT二次負荷(he)測量試驗結果

CT二(er)次負荷的測量結果如(ru)圖5.10所(suo)示。

二次負荷試驗結果頁(ye)面中的(de)各(ge)個(ge)參數定義如表5.11所示(shi)。

表 5.11 二(er)次負(fu)荷試驗結(jie)果參(can)數

名稱	參數說明
額(e)定二次負荷(he)	以VA形式或阻抗形式表示的儀器額定二(er)次負荷(he)值
額(e)定功(gong)率因數	額定二次負荷(he)的(de)功率因數值
測試電(dian)流	以(yi)有效值(zhi)表(biao)示的實際測試電流(liu)值(zhi)
測(ce)試電壓	加載在(zai)二次回路上的電(dian)壓有效(xiao)值
測試頻率	加載在二次回路(lu)上(shang)的電流有(you)效值(zhi)
二次(ci)負荷	實測(ce)的二(er)(er)次(ci)負荷值以VA形式(shi)表示(shi)，其值為：額(e)定二(er)(er)次(ci)電流*額(e)定二(er)(er)次(ci)電流*實測(ce)二(er)(er)次(ci)阻抗(kang)
功率因數(shu)	實測二次回路的功(gong)率因(yin)數(shu)值
二次阻(zu)抗	實(shi)測(ce)二次回(hui)路的阻抗值

5.7 PT線圈電阻(zu)測(ce)量

選(xuan)(xuan)擇PT線(xian)圈電(dian)阻測量后，儀器(qi)給出試驗的連(lian)線(xian)參考圖(tu)和測試電(dian)流選(xuan)(xuan)擇界(jie)面如圖(tu)5.11。

啟(qi)動試(shi)驗，儀器輸出(chu)0.5A(或0.05A,0.005A)直(zhi)流電(dian)流對(dui)線(xian)圈(quan)(quan)進行(xing)充電(dian)，當(dang)線(xian)圈(quan)(quan)電(dian)阻值(zhi)(zhi)穩定以后試(shi)驗自動停(ting)止，并記錄(lu)停(ting)止時刻的線(xian)圈(quan)(quan)電(dian)阻值(zhi)(zhi)和環境溫(wen)度(du)(du)值(zhi)(zhi)（儀器面板(ban)部位帶有溫(wen)度(du)(du)傳感器，用(yong)于(yu)測(ce)量當(dang)前的環境溫(wen)度(du)(du)）。試(shi)驗完成(cheng)后結(jie)果展示(shi)方式與(yu)5.2.3章節中的線(xian)圈(quan)(quan)電(dian)阻展示(shi)頁(ye)面*但是(shi)PT線(xian)圈(quan)(quan)電(dian)阻試(shi)驗沒有計(ji)算75攝氏度(du)(du)參考電(dian)阻值(zhi)(zhi)。

對于電磁式PT，一次側和二次側線圈(quan)電阻都可以(yi)通過該(gai)項目檢(jian)測(ce)，對于CVT式的電壓互感器只能檢(jian)測(ce)二次線圈(quan)的電阻值。

5.8 PT極性(xing)檢查(cha)

PT極(ji)性試(shi)驗(yan)(yan)只(zhi)需設置互感器(qi)(qi)的(de)編號(hao)即可。選擇極(ji)性檢查試(shi)驗(yan)(yan)后(hou)，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)給出(chu)試(shi)驗(yan)(yan)的(de)連線參考圖。啟動試(shi)驗(yan)(yan)后(hou)，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)輸(shu)出(chu)交流正弦電壓(ya)(ya)至PT一(yi)次(ci)繞(rao)組，并測量PT二(er)(er)次(ci)側繞(rao)組的(de)電壓(ya)(ya)，當PT二(er)(er)次(ci)繞(rao)組電壓(ya)(ya)超(chao)過(guo)測量閾(yu)值或PT一(yi)次(ci)電壓(ya)(ya)輸(shu)出(chu)至大電壓(ya)(ya)時，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)計算此時的(de)PT極(ji)性。儀(yi)(yi)器(qi)(qi)按照如下(xia)標準來判定被測PT的(de)極(ji)性：

90度(du)>當(dang)一次(ci)電壓與二(er)次(ci)電壓相角差>-90度(du) 時計算結果(guo)為同(tong)極(ji)性(xing)（-極(ji)性(xing)），否(fou)則為反極(ji)性(xing)（+極(ji)性(xing)）

極性檢查試(shi)驗(yan)完成后(hou)，試(shi)驗(yan)結果與(yu)圖5.8*。

5.9 PT二次負荷測量

5.9.1 PT二次負荷測量參(can)數設置

PT二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)測量(liang)的試(shi)(shi)驗參(can)數設置項目(mu)包括(kuo)互感器編號，測試(shi)(shi)電(dian)壓(ya)，測試(shi)(shi)頻率，選擇(ze)二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)測量(liang)后圖(tu)5.12所示的參(can)數設置窗體將會被加載。啟動二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)試(shi)(shi)驗后儀(yi)器會根(gen)據(ju)所選擇(ze)的參(can)數輸出(chu)一個(ge)恒定的正弦電(dian)壓(ya)至(zhi)PT二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)回路(lu)。

圖5.12所(suo)示的二次(ci)負荷參(can)數設置界面中，3個試驗參(can)數的意義為：

互感器編號

用(yong)于組成保(bao)存試驗時的文件名稱

2> 額(e)定(ding)頻率

此參數用于控制輸出(chu)電(dian)壓(ya)的(de)(de)頻率(lv)值，如果(guo)選擇50Hz，則(ze)輸出(chu)電(dian)壓(ya)的(de)(de)頻率(lv)為50Hz，否則(ze)輸出(chu)電(dian)壓(ya)頻率(lv)為60Hz

PT額定二次電壓

儀器(qi)(qi)以此參數來(lai)計算大輸出電(dian)(dian)壓值(zhi)(zhi)，試驗被啟動(dong)后(hou)儀器(qi)(qi)輸出幅值(zhi)(zhi)為互感器(qi)(qi)二(er)次(ci)額定值(zhi)(zhi)大小的電(dian)(dian)壓至二(er)次(ci)回(hui)路，并在(zai)此電(dian)(dian)壓下測量二(er)次(ci)回(hui)路的阻抗(kang)，并依據二(er)次(ci)額定電(dian)(dian)壓計算負荷值(zhi)(zhi)。

二(er)次(ci)負(fu)荷=（二(er)次(ci)額(e)定電壓×二(er)次(ci)額(e)定電壓）/二(er)次(ci)回路阻抗(kang)

5.9.2 PT二次負荷測(ce)量試(shi)驗流(liu)程

試(shi)驗啟動后(hou)儀(yi)(yi)器首(shou)先輸(shu)出(chu)很(hen)小的測試(shi)電(dian)(dian)壓至二(er)次(ci)(ci)回路(lu)，并逐步升(sheng)(sheng)壓，同(tong)時檢測是否過載，如果發現(xian)輸(shu)出(chu)電(dian)(dian)流過載，則儀(yi)(yi)器停(ting)止(zhi)升(sheng)(sheng)壓，否則一直升(sheng)(sheng)至二(er)次(ci)(ci)額(e)定(ding)電(dian)(dian)壓值(zhi)。在高輸(shu)出(chu)電(dian)(dian)壓處測量二(er)次(ci)(ci)回路(lu)的阻(zu)抗值(zhi)，并依據額(e)定(ding)二(er)次(ci)(ci)電(dian)(dian)壓計算二(er)次(ci)(ci)負荷。

5.9.3 PT二次(ci)負(fu)荷測量(liang)試(shi)驗結果

PT二(er)次負荷的(de)展示(shi)頁(ye)(ye)面(mian)與CT二(er)次展示(shi)頁(ye)(ye)面(mian)*，只是在(zai)PT二(er)次負荷展示(shi)頁(ye)(ye)面(mian)并沒(mei)有額定負荷的(de)顯(xian)示(shi)，其參(can)數(shu)含義(yi)也(ye)是一樣的(de)，詳情參(can)見5.6.3節

5.10 PT變比(bi)

5.10.1 PT變(bian)比試(shi)驗參數設(she)置

PT變比試驗的參(can)數(shu)設置界(jie)面如(ru)圖5.13，其中需要(yao)設置的參(can)數(shu)定(ding)義(yi)如(ru)表5.12

圖5.12 PT變比參數設(she)置

名稱	參數說明
生產(chan)廠家	此項(xiang)目僅用于(yu)生成WORD試(shi)驗(yan)(yan)報告時對互(hu)感器進行標識(shi)，與試(shi)驗(yan)(yan)流程無關
互感器型號	此項目(mu)僅用于生(sheng)成WORD試驗報(bao)告(gao)時(shi)對互感器進行(xing)標識(shi)，與試驗流程無關
互感器編號	此項目僅(jin)用(yong)于生成(cheng)WORD試(shi)驗報告時對互感(gan)器(qi)進行(xing)標識和保(bao)存(cun)(cun)試(shi)驗時組(zu)成(cheng)保(bao)存(cun)(cun)的文件名(ming)稱，與試(shi)驗流程無關
額(e)定一次電壓	設置電(dian)壓互(hu)感器的額定一(yi)次電(dian)壓值，用(yong)于計算額定變(bian)比
額(e)定二次電壓	設(she)置電壓(ya)互感(gan)器(qi)的額(e)定(ding)二次電壓(ya)值(zhi)，用于計算額(e)定(ding)變(bian)比，互感(gan)器(qi)額(e)定(ding)二次電壓(ya)由(you)兩部分組成，實(shi)際(ji)電壓(ya)是2部分相乘(cheng)

5.10.2PT變比試驗流(liu)程

進行PT變(bian)比試驗時，試驗流程如(ru)下：

反接判斷->匝數比和(he)極性測量

5.10.3 PT變比結果展示(shi)

PT變比試驗結果顯示(shi)檢測得到的一次線圈電阻(zu)值，匝數比和連接極性。

5.11 PT勵磁試(shi)驗

5.11.1 PT勵磁試驗參(can)數(shu)設(she)置

PT勵磁試(shi)驗的參數設置界面(mian)如(ru)圖5.14，其中需要設置的參數定義如(ru)表5.13

圖5.13 PT變比(bi)參數設置(zhi)

名稱	參數說明
互感器編號	此項目僅用于生成WORD試驗報告時(shi)對互感器進行標識和保(bao)存試驗時(shi)組成保(bao)存的(de)文件名稱，與試驗流程無關
額定一次電(dian)壓(ya)	設置電壓(ya)互感器的額(e)定一(yi)次電壓(ya)值，此項目(mu)僅用于生(sheng)成WORD試驗報告時(shi)對互感器進行標(biao)識和(he)保存試驗時(shi)組成保存的文(wen)件(jian)名稱，與試驗流程無關
額定(ding)二次電(dian)壓	設(she)置(zhi)電壓(ya)(ya)互感器(qi)的額定二次(ci)電壓(ya)(ya)值，用(yong)于控制互感器(qi)升壓(ya)(ya)過(guo)程，試驗(yan)過(guo)程儀(yi)器(qi)升壓(ya)(ya)不會超過(guo)互感器(qi)額定二次(ci)電壓(ya)(ya)的1.2倍，試驗(yan)完成后儀(yi)器(qi)根據此數值計算(suan)各點的勵磁損耗。額定二次(ci)電壓(ya)(ya)由輸(shu)入文本框和倍數復選框2部分組(zu)成。
測試(shi)頻(pin)率	選擇互感器(qi)的額定工作頻率
一(yi)次(ci)直流(liu)電阻	PT一次繞組直流(liu)電阻的實測值，用于推(tui)算PT比差和角(jiao)差值
二次(ci)負荷	PT所連(lian)接二次負荷的阻抗(kang)和(he)功率因素(su)，用于推(tui)算(suan)PT比(bi)差和(he)角差值
PT匝數比	PT匝數(shu)比，PT變比試驗的實測值，用于推算PT比差(cha)和角差(cha)值

5.11.2 PT勵磁試驗(yan)結果(guo)展示

PT勵磁(ci)試(shi)驗結果包括PT勵磁(ci)曲(qu)線，PT勵磁(ci)曲(qu)線數據，PT二(er)次(ci)線圈電阻(zu)，20%，50%，80%，100%和(he)120%額(e)定二(er)次(ci)電壓位置(zhi)所對應的PT二(er)次(ci)勵磁(ci)電流，80%，100%和(he)120%額(e)定電壓位置(zhi)處的比差和(he)角(jiao)差值(zhi)

5.12生成試驗(yan)報告

使用CTPT分析儀的(de)軟件可以自動(dong)(dong)生成(cheng)WORD格式的(de)試(shi)驗報(bao)(bao)告(gao)，試(shi)驗報(bao)(bao)告(gao)以MS WORD2003的(de)”*.DOC”格式保(bao)存。試(shi)驗完成(cheng)后在“查看結(jie)果”或查看歷史結(jie)果界面點擊生成(cheng)按鈕，則儀器會(hui)自動(dong)(dong)制(zhi)作對(dui)應試(shi)驗項目的(de)試(shi)驗報(bao)(bao)，圖5.15展(zhan)示了CT分析試(shi)驗報(bao)(bao)告(gao)的(de)首(shou)頁。

圖5.15 CT分析(xi)試驗報告首頁

第六章 自動(dong)評(ping)估與銘牌推測

6.1 自動(dong)評估

6.1.1 自動評(ping)估定義

自(zi)動(dong)評(ping)(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)是指將實測(ce)的(de)參(can)(can)數與當前所選標準(zhun)(zhun)規定(ding)(ding)值進(jin)行對比，如果實測(ce)參(can)(can)數全部(bu)符合標準(zhun)(zhun)的(de)規定(ding)(ding)則(ze)互感(gan)(gan)器(qi)檢測(ce)是合格的(de)，否(fou)則(ze)互感(gan)(gan)器(qi)檢測(ce)不合格。由于互感(gan)(gan)器(qi)的(de)很多參(can)(can)數與互感(gan)(gan)器(qi)所連接的(de)負載(zai)有關，因此儀器(qi)的(de)自(zi)動(dong)評(ping)(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)選項(xiang)有“僅對操作負荷評(ping)(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)”和“對額定(ding)(ding)和操作負荷評(ping)(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)”評(ping)(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)兩種(zhong)選擇。

選(xuan)擇“僅對(dui)(dui)操作(zuo)(zuo)負荷(he)評估”時，儀(yi)器(qi)僅僅將(jiang)操作(zuo)(zuo)負荷(he)條(tiao)件(jian)下(xia)計算(suan)的(de)(de)參數與(yu)標準規定(ding)(ding)的(de)(de)值(zhi)進(jin)行對(dui)(dui)比。如果選(xuan)擇了(le)“對(dui)(dui)額定(ding)(ding)負荷(he)和(he)操作(zuo)(zuo)負荷(he)評估&rdquo;，則儀(yi)器(qi)將(jiang)額定(ding)(ding)負荷(he)和(he)操作(zuo)(zuo)負荷(he)兩(liang)種條(tiao)件(jian)下(xia)計算(suan)得到(dao)參數都(dou)與(yu)標準規定(ding)(ding)值(zhi)進(jin)行對(dui)(dui)比，只有(you)兩(liang)種條(tiao)件(jian)下(xia)計算(suan)所(suo)得的(de)(de)參數都(dou)合(he)格時，互感器(qi)檢測才顯示為合(he)格

注意：自動(dong)評估(gu)和銘牌推測僅僅是針對(dui)與CT分析項目進(jin)行(xing)，對(dui)于其他(ta)的(de)試(shi)驗項目無效

6.1.2 自動(dong)評估項目和合格(ge)條件(jian)

對于(yu)不同(tong)等級的(de)(de)互感器，自動評(ping)(ping)估(gu)的(de)(de)項(xiang)目是不一(yi)樣的(de)(de)，詳細的(de)(de)評(ping)(ping)估(gu)項(xiang)目和(he)評(ping)(ping)估(gu)合格條件見表(biao)6.1，~表(biao)6.5

表6.1 IEC60044-1計量(liang)類電流互感器的評估項目(mu)和合(he)格條件

互感器等(deng)級	評估項目	評(ping)估合格條件
0.1級(ji)	1） 儀表安(an)保系數FS 2） 25%，100%額(e)定負(fu)荷和操作負(fu)荷條件下(xia)二次(ci)電(dian)流為5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電(dian)流時的電(dian)流比差(cha)角(jiao)差(cha)	1）實(shi)測FS<=FS額定 2）5%額(e)定二次(ci)電流比差<=0.4% 20%額定二次電流比差(cha)<=0.2% 100，120%額定二次電流比差<=0.1% 5%額定二次電流角差<=15分 20%額定二次(ci)電流(liu)比差<=8分 100，120%額定二次電(dian)流比差(cha)<=5分
0.2級	1） 儀表(biao)安保系數FS 2） ;25%，100%額定負荷和(he)操作負荷條(tiao)件(jian)下二次電(dian)流為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定電(dian)流時(shi)的電(dian)流比差和(he)角差	1）實測FS<=FS額(e)定 2）5%額(e)定二(er)次電流比差<=0.75% 20%額定(ding)二(er)次電流比(bi)差<=0.35% 100，120%額定(ding)二(er)次電流比(bi)差<=0.2% 5%額定二(er)次電流角差<=30分 20%額(e)定二(er)次電流比差<=15分 100，120%額定二次(ci)電流比差<=10分
0.2S級	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額(e)定負荷和操作負荷條(tiao)件(jian)下二(er)次電(dian)流(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差和角差	1）實測FS<=FS額定 2）1%額定二次電流(liu)比(bi)差<=0.75% 5%額定二次(ci)電流(liu)比差<=0.35% 20，100，120%額定二(er)次電流比差<=0.2% 1%額定二次(ci)電流(liu)角差(cha)<=30分(fen) 5%額定二次電流比差<=15分 20，100，120%額定二次電流比差(cha)<=10分
0.5級	1） 儀表安(an)保系數FS 2） 25%，100%額定(ding)負荷和(he)操(cao)作負荷條件(jian)下二次電流為5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電流時(shi)的電流比差和(he)角差	1）實測FS<=FS額(e)定 2）5%額定二次電流比(bi)差<=1.5% 20%額定(ding)二次電流比差<=0.75% 100，120%額定二次電流比差<=0.5% 5%額定二次(ci)電流角差<=90分 20%額定二次電流比差<=45分 100，120%額定二次電(dian)流(liu)比差<=30分
0.5S級	1） 儀(yi)表(biao)安保系數FS 2） 25%，100%額(e)定負荷(he)(he)和(he)操作負荷(he)(he)條件(jian)下二次電(dian)流(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電(dian)流(liu)時(shi)的電(dian)流(liu)比差和(he)角差	1）實測(ce)FS<=FS額(e)定(ding) 2）1%額定二(er)次電流(liu)比差<=1.5% 5%額定二次電流比差<=0.75% 20，100，120%額定(ding)二(er)次電流比(bi)差(cha)<=0.5% 1%額定二次電流角差(cha)<=90分 5%額定二(er)次電流比(bi)差<45分 20，100，120%額定二次電流比差(cha)<30分
1.0級	1） 儀表安保系數(shu)FS 2） 25%，100%額(e)定(ding)負荷和操(cao)作負荷條件下二次電流(liu)(liu)為5%，20%，50%，100%，120%額(e)定(ding)電流(liu)(liu)時的電流(liu)(liu)比差和角(jiao)差	1）實測FS<=FS額定 2）5%額定二次電流比差<=3% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差<=1.5% 100，120%額(e)定二次電流比差<=1.0% 5%額定二(er)次電流(liu)角(jiao)差<=180分 20%額定二次電(dian)流比差<=90分 100，120%額定二次電流比差<=60分
3.0級	1） 儀表(biao)安保系數FS 2） 50%，100%額(e)定(ding)(ding)負荷和操作(zuo)負荷條件下二(er)次電(dian)流(liu)為50%，120%額(e)定(ding)(ding)電(dian)流(liu)時(shi)的電(dian)流(liu)比差	1）實測FS<=FS額定 2）50%額定二次(ci)電流比(bi)差<=3% 120%額(e)定二次(ci)電(dian)流比差<=3%
5.0級	1） 儀表(biao)安保系數FS 2） 50%，100%額定負荷(he)和操作(zuo)負荷(he)條件(jian)下二次電流為50%，120%額定電流時的電流比差(cha)	1）實測FS<=FS額定 2）50%額定(ding)二次(ci)電流比差<=5% 120%額(e)定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=5%

表6. SEQ 圖表 * ARABIC 2 IEC60044-1 保護類電流(liu)互感器等評估(gu)項目和評估(gu)合格(ge)條件

互感器等級	評(ping)估項目	評估(gu)合格條件
5P	準(zhun)確限值(zhi)系數ALF 100%額(e)定電流處比差 100%額定電流(liu)處角(jiao)差	實測ALF>=額定ALF 100%額(e)定(ding)電(dian)流比差<=1% 100%額(e)定電流角差<=60分
10P	準(zhun)確限(xian)值系數ALF 100%額定電流處(chu)比差	實(shi)測ALF>=額定ALF 100%額定電流(liu)比(bi)差<=3%
5PR	準確限值系數ALF 2）100%額定電(dian)流處比(bi)差 3）100%額定電流處(chu)角(jiao)差 4）剩磁系數Kr	1）實測ALF>=額定ALF 2）100%額定電流比差<=1% 3）100%額定電(dian)流角(jiao)差(cha)<=60分 4）Kr<=10%
10PR	準確(que)限(xian)值系(xi)數ALF 2）100%額定電流處比差(cha) 3）剩磁系數Kr	1）實測ALF>=額(e)定ALF 2）100%額定電流(liu)比(bi)差<=3% 3）Kr<=10%
PX	匝數比 準確限(xian)制電壓Ek 準確限制電流(liu)Ie 面積系(xi)數Kx 75攝氏(shi)度(du)線(xian)圈電阻	1）匝數比誤差<=0.25% 2）Ek實測值>=Ek額定(ding)值 3）Ie實測值>=Ie額定(ding)值 4）Kx實(shi)測(ce)值(zhi)>=額定Kx值(zhi) 5）75攝氏度實測線圈(quan)電阻<=額定值(zhi)

表6.3 IEC60044-6 暫態電流互感器評估項目和評估合格條件

互感器(qi)等級(ji)	評估項目(mu)	評(ping)估合格條件
TPS	匝數比 準確(que)限制電壓Val 準(zhun)確限制電流Ial 對稱短(duan)路電流系數Kssc 75攝(she)氏度線圈電(dian)阻	匝數比誤差<=0.25% Val實測值(zhi)>=Val額定值(zhi) Ial實測值(zhi)<=Ial額定值(zhi) K*Kssc測(ce)量>=K*Kssc額定(ding)值 5）75攝氏度(du)實測線圈電阻<=額(e)定值(zhi)
TPX	額定電流處比差 額定電(dian)流處(chu)角差(cha) 額定Kssc和(he)實測Ktd處峰(feng)瞬誤差 Kssc*Ktd額定值與實測值 75攝氏度線圈電阻	額定(ding)電流處比差(cha)<=0.5% 額(e)定電流處角差(cha)<=30分 額(e)定Kssc*實測Ktd處峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實測(ce)值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定值(zhi) 75攝氏(shi)度實測線圈電阻<=額(e)定值
TPY	額(e)定電流處比差 額定電流(liu)處角(jiao)差(cha) 額定Kssc和實測(ce)Ktd處峰瞬(shun)誤差 Kssc*Ktd額(e)定(ding)值(zhi)與實測值(zhi) 二次時間常數(shu)Ts 剩磁系數Kr 7）75攝氏度(du)線圈電阻	額定電流處(chu)比差<=1.0% 額定(ding)電流處角差<=60分 額(e)定Kssc*實測Ktd處峰瞬(shun)誤差<=10% (Kssc*Ktd)實測值>=(Kssc*Ktd)額(e)定值 Ts實測<=30%Ts額定 Kr<=10% 7）75攝氏度實測線圈電阻<=額定值
TPZ	額定電流處比(bi)差(cha) 額定(ding)電流處角差 Kssc*Ktd額(e)定值與實(shi)測值 二次時間常數Ts 5）75攝(she)氏度線圈(quan)電阻	額(e)定電(dian)流處比差<=1.0% 2）額(e)定(ding)電(dian)流處角差<=180分 3）(Kssc*Ktd)實(shi)測值>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值 4）Ts實測(ce)<=30%Ts額定(ding) 5）75攝氏度實測線(xian)圈電阻(zu)<=額(e)定值

表(biao)6.4 C57.13計量類互(hu)感器(qi)自動評估項目和自動評估條件

互感器等(deng)級	自動評估項目	自動評估合格條(tiao)件
0.3級(ji)	額(e)定負荷和操作負荷下10%，100%，100%*RF額(e)定二次電流處(chu)的電流比差(cha)	10%額定電流比差<=0.6% 100,100*RF%額定電流比差<=0.3%
0.6級	額(e)定負荷和(he)操作負荷下10%，100%，100%*RF額(e)定二次電(dian)流(liu)處的電(dian)流(liu)比差	10%額定電流(liu)比差<=1.2% 100,100*RF%額定電流(liu)比差<=0.6%
1.2級	額定負(fu)荷(he)和操作負(fu)荷(he)下10%，100%，100%*RF額定二次(ci)電(dian)流(liu)處(chu)的電(dian)流(liu)比(bi)差	10%額定電(dian)流比差(cha)<=2.4% 100,100*RF%額定(ding)電流比差<=1.2%

表6.5 C57.13保護(hu)類互感器自動評估(gu)項目和自動評估(gu)條件

互感器等級	自動評估項目	自動評估合格條件
C	1）Vbmax與VB額定值比較 2）Vbmax處的(de)二(er)次電(dian)流Isec 3）20*Isn處的比差(cha) 4）Vb額(e)定值處的比差	1）Vbmax>=Vb額(e)(e)定(ding)值(如未(wei)輸(shu)入Vb額(e)(e)定(ding)值，則自動(dong)設置Vb額(e)(e)定(ding)值為20Isec額(e)(e)定(ding)值，額(e)(e)定(ding)負荷下的二(er)次端電壓Vb) 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處電流比差(cha)<=10% 4）Vb額定值處電流比差<=10%
K	1）Vbmax與VB額定(ding)值比較 2）Vbmax處的二次電(dian)流Isec 3）拐點電壓 4）20*Isn處(chu)的比(bi)差(cha) 5）Vb額定(ding)值處的比差	1）Vbmax>=Vb額定值 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）拐點電(dian)壓(ya)>=70%Vb額定值(zhi) 4）20*Isn額(e)定處電流比差<=10% 5）Vb額(e)定值處電流(liu)比差<=10%
T	1）Vbmax與(yu)VB額定(ding)值比較 2）Vbmax處(chu)的二次電流Isec 3）20*Isn處的比差 4）Vb額定值(zhi)處(chu)的(de)比(bi)差	1）Vbmax>=Vb額定值 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額(e)定 3）20*Isn額(e)定處電流比差<=10% 4）Vb額(e)定值處電流比差<=10%

6.2 勵磁參數計算

在CT分析(xi)的(de)試驗(yan)結果展示界面(mian)，有一頁為勵(li)磁參(can)數(shu)(shu)和(he)(he)自(zi)動(dong)評估，其中的(de)勵(li)磁參(can)數(shu)(shu)計(ji)算項目(mu)是由所選擇(ze)的(de)測試標(biao)準和(he)(he)互(hu)感器(qi)等(deng)級決(jue)定，其對應關系如表6.6，表6.7和(he)(he)表6.8所示。

表(biao)6.6 IEC60044-1 勵磁參數(shu)計算項目

參數名稱	參數說(shuo)明	IEC60044-1計(ji)量(liang)類	IEC60044-1保護(hu)類
V-kn	電壓拐點，詳細定義見表6.9	√	√
I-kn	電流拐點，詳(xiang)細(xi)定義見表(biao)6.9	√	√
Ek	PX級互感器準確限制(zhi)電壓		√
Ie	PX級(ji)互感器準確限制電流		√
FS	儀表安保系數	√
ALF	準確限值(zhi)系數(shu)		√
Kx	PX級(ji)互(hu)感(gan)器(qi)定義的面積(ji)系數		√
Ls	飽和電感	√	√
Lu	不(bu)飽和電感	√	√
Ts	二(er)次(ci)時間(jian)常數	√	√
Kr	剩磁系(xi)數	√	√
Ktd	暫態面(mian)積系數		√

其中部分參數的含義如下：

1）Ek 為IEC60041曲線拐點(dian)位置處的(de)電動(dong)勢(shi)

2）Ie 為IEC60041曲線拐點(dian)位置(zhi)處的勵磁電流(liu)

3）FS儀(yi)器(qi)保安系數(shu)是CT誤差達(da)到10%時一次電流(liu)對額定電流(liu)的倍數(shu)，此(ci)參數(shu)僅對測量類(lei)互感器(qi)有效(xiao)

4）準確限(xian)值系數(shu)是指CT誤差達到5%或10%時一(yi)次電流對額定電流的倍數(shu)

5）Kx面積系數是(shi)指實測準確限制系數對額定準確限制系數的比值

6）Ls飽(bao)和電感(gan)(gan)是指互感(gan)(gan)器(qi)在(zai)飽(bao)和狀態下二次(ci)線圈的(de)等效電感(gan)(gan)，用于(yu)推算(suan)二次(ci)回(hui)路在(zai)飽(bao)和狀態下的(de)時間常(chang)數

7）Lu不飽和(he)(he)電感(gan)是(shi)指互感(gan)器在(zai)非飽和(he)(he)情況下的二次線圈等(deng)效電感(gan)，用于推(tui)算二次回路在(zai)非飽和(he)(he)狀態(tai)下的時(shi)間(jian)常(chang)數

8）Kr是(shi)指互感器線圈勵磁電流(liu)過零時，鐵(tie)芯中剩余的磁通量

表(biao) 6.7 IEC60044-6 勵磁參數計算項目(mu)

參數(shu)名稱(cheng)	參數說明	TPS	TPX/Y	TPZ
V-Kn	電壓(ya)拐點，詳細(xi)定(ding)義見表6.9	√	√	√
I-Kn	電流拐點，詳細定義見表6.9	√	√	√
V-al	TPS級互感器(qi)定(ding)義的(de)準確限(xian)制電壓	√
I-al	TPS級互(hu)感器(qi)定義的準確限制電流	√
Kssc	實測(ce)的對稱(cheng)短路電(dian)流(liu)系(xi)數
Eerror	電壓Emax處的(de)峰瞬誤差		√
Emax	大電動勢		√
Ls	飽和電感	√	√	√
Lu	不(bu)飽和電(dian)感	√	√	√
Ts	二次回路(lu)時間常數	√	√	√
Kr	剩磁系數(shu)	√	√	√
Ktd	實(shi)際計算得到的暫態面積系數		√	√

其中部分參數的含義如(ru)下：

1）V-al 按(an)照(zhao)IEC60046定義的曲線拐點位(wei)置處的電動勢

2）I-al 按照IEC60046定義的曲(qu)線拐點位置處的勵磁電流

3）Kssc ;互感器一次回路中大短路電流(liu)(liu)對額(e)定一次電流(liu)(liu)的(de)倍數(shu)

4）Emax互感(gan)器額定極限(xian)電動勢(shi)，此數值有一次大短路(lu)電流，線圈內阻和(he)二次負荷(he)共(gong)同決定

5）Eerror 額定極限電(dian)動(dong)勢處(chu)對應的互感器(qi)瞬時值(zhi)測(ce)量(liang)誤差

表(biao)6.8 C57.13的勵磁參數(shu)計算項目

參數名(ming)稱	參數說明	C57.13計量類	C57.13保護類
V-kn	電(dian)壓拐點，詳細(xi)定(ding)義見表(biao)6.10	√	√
I-kn	電流拐點，詳細(xi)定義見表6.10	√	√
FS	儀表(biao)安(an)保系數(shu)	√
ALF	準確限(xian)值(zhi)系數		√
Kx	PX級互感器定義的面積系數		√
Ls	飽(bao)和電感	√	√
Lu	不飽(bao)和電感	√	√
Ts	二次(ci)時間(jian)常數(shu)	√	√
Kr	剩磁系數	√	√

6.3 拐點和磁化曲線定義

不(bu)(bu)同測(ce)試(shi)標準的(de)磁化曲線(xian)，拐點(dian)(dian)電壓和拐點(dian)(dian)電流(liu)的(de)定(ding)義(yi)是不(bu)(bu)一(yi)樣的(de)，詳細的(de)定(ding)義(yi)說明如表6.9和表6.10所示。

表6.9 三種(zhong)測試標(biao)準的磁化曲線定義

標準名稱	磁化(hua)曲線(xian)橫坐標(biao)	磁(ci)化曲線(xian)縱坐標
IEC60044-1	二次端電壓有效值	勵磁電流有效值
IEC60044-6	電(dian)動勢電(dian)壓(ya)有效(xiao)值	勵磁電流(liu)峰值
C57.13	電動勢電壓(ya)有(you)效(xiao)值	勵磁電流有效值

表6.10 拐點(dian)定義

標準(zhun)名稱	拐點定義
IEC60044-1	勵磁曲(qu)線(xian)上(shang)(shang)二次端(duan)電壓(ya)上(shang)(shang)升10%，導致勵磁電流有效值上(shang)(shang)升超(chao)過50%的那個點
IEC60044-6	電(dian)動勢電(dian)壓上升10%，導致勵磁電(dian)流峰(feng)值上升超過50%的那個點
C57.13	對于C57.13的(de)(de)ANSI45拐(guai)點(dian)(dian)是指對于橫(heng)坐標正(zheng)切為45度角的(de)(de)那個點(dian)(dian)，對于C57.13的(de)(de)ANSI30拐(guai)點(dian)(dian)是指對于橫(heng)坐標正(zheng)切為30度角的(de)(de)那個點(dian)(dian)

6.4 銘牌推(tui)測邏輯(ji)

CT分析儀的銘牌自動推測功能用于在銘牌部分信息未知時猜測銘牌的部分信息，推測的參數包括額定一次電流，額定二次電流和互感器等級。銘牌推測的所使用的順序和判斷條件如下：

1） 如(ru)果額定二次電流(liu)未(wei)知，則根據(ju)當前(qian)所測得(de)的(de)線圈電阻大小(xiao)與(yu)1A/5A判斷閾(yu)值(zhi)進(jin)行比較（見系統參數設(she)置章節），如(ru)果小(xiao)于閾(yu)值(zhi)則將額定二次電流(liu)設(she)為5A，否則設(she)為1A

2）根據實(shi)際測量獲得的(de)匝數比和額定二次電流(liu)(liu)值(zhi)，對(dui)照當(dang)前(qian)所選擇標準對(dui)一(yi)次電流(liu)(liu)取值(zhi)規(gui)則的(de)規(gui)定，猜測額定一(yi)次電流(liu)(liu)值(zhi)。

3）互感器等級(ji)的猜測(ce)

為(wei)了猜(cai)測互感器(qi)(qi)的(de)等級首先需要(yao)判斷互感器(qi)(qi)鐵(tie)芯(xin)的(de)類(lei)型，根據1A或5A鐵(tie)芯(xin)判定(ding)閾值（見(jian)系(xi)統參數(shu)設置(zhi)章節）獲取當前鐵(tie)芯(xin)類(lei)型，如果飽和電壓小于(yu)閾值則為(wei)測量(liang)鐵(tie)芯(xin)否(fou)則為(wei)保護鐵(tie)芯(xin)。

如(ru)果猜測的互(hu)感器鐵芯為測量鐵芯，則儀器按照如(ru)下規則推測互(hu)感器等(deng)級(ji)。

1）如(ru)果選擇的(de)是IEC60044-1則分(fen)別對如(ru)下(xia)精度等(deng)級(ji)順序分(fen)進(jin)行自動評估，直至評估合(he)(he)格則為止，*個評估合(he)(he)格的(de)等(deng)級(ji)就(jiu)是互(hu)感器的(de)精度等(deng)級(ji)

0.1->0.2S->0.2->0.5S->0.5-&gt;1.0->3.0->5.0

2）如果選擇的是C57.13則分別對如下精度等級順序分進行自動評估，直至(zhi)評估合格則為止，*個評估合格的等級就是互感器的精度等級

0.3->0.6->1.2

如(ru)果(guo)猜測(ce)的鐵(tie)芯為保(bao)護鐵(tie)芯，則儀器(qi)按照如(ru)下規則推測(ce)互(hu)感器(qi)等級

1）如果選擇的是(shi)IEC60044-1，則分別對如下等(deng)級(ji)順序分進行自動評估，直至評估合格則為止(zhi)，*個評估合格的等(deng)級(ji)就是(shi)互感(gan)器的精(jing)度等(deng)級(ji)

5PR->10PR->PX->5P->10P

2）如(ru)果選擇(ze)的(de)(de)是IEC60044-6，則(ze)分別(bie)對(dui)如(ru)下(xia)等級(ji)順序分進行自動評(ping)估，直至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止，*個評(ping)估合格(ge)的(de)(de)等級(ji)就是互感器(qi)的(de)(de)精度(du)等級(ji)

TPY->TPX->TPZ->TPS

3）如果(guo)選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)C57.13，則分別對(dui)如下等級(ji)順序分進(jin)行自(zi)動評(ping)估，直至評(ping)估合(he)格(ge)則為(wei)止，*個評(ping)估合(he)格(ge)的(de)等級(ji)就是(shi)互感器的(de)精度等級(ji)

K->C->T

第七章 PC數據分析軟件

7.1 概述

分(fen)析儀的(de)(de)產品光(guang)盤中包(bao)含2個PC應用程(cheng)(cheng)序,數據分(fen)析軟(ruan)件(jian)“CTPT ANALYZER FOR PC”和批量報告制作工具“CTPT ANALYZER BULK REPORTS”，這2個應用程(cheng)(cheng)序都(dou)是(shi)免安裝的(de)(de)綠色軟(ruan)件(jian)，使用時將2個應用程(cheng)(cheng)序對應的(de)(de)文件(jian)夾復制到計(ji)算機(ji)硬盤即可(ke)。

7.2 數據分析(xi)軟件

在分(fen)析(xi)儀的(de)數據分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)中雙(shuang)擊“CTPT ANALYZER FOR PC”，出現如圖(tu)7.1所示數據分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)主界(jie)面。

分(fen)析儀的PC數(shu)據分(fen)析軟(ruan)件操作(zuo)與界面和儀器應用軟(ruan)件基本*，其(qi)不(bu)同(tong)之處(chu)如下：

讀取(qu)文件時PC數據分(fen)析軟件需要用戶文件所在(zai)位置如(ru)圖7.2

保存文(wen)件(jian)時PC數(shu)據分析軟件(jian)需要用戶文(wen)件(jian)存儲位(wei)置如圖7.2

曲(qu)線對比窗口(kou)中(zhong)讀(du)取參(can)考(kao)曲(qu)線時(shi)需要用戶參(can)考(kao)文件所(suo)在位置(zhi)如圖7.2

曲線對(dui)比中復制圖(tu)片時需要用戶文(wen)件(jian)存(cun)儲位(wei)置(zhi)如(ru)圖(tu)7.2

生成WORD報告時需要用戶文件存儲位置如圖7.2

除以(yi)上所列不同之處(chu)外,數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟件(jian)所有的操作方法與儀器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理軟件(jian)**，詳細說(shuo)明請參照(zhao)儀器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理軟件(jian)說(shuo)明

7.3 批量報告(gao)制作工具

在儀(yi)器版本為V1.27.129以上(shang)的(de)(de)機型中，分析(xi)儀(yi)的(de)(de)產品光盤提(ti)供WORD報告(gao)批處理應用程(cheng)序(xu)(xu)，此程(cheng)序(xu)(xu)可(ke)以實現(xian)(xian)一次性生(sheng)成多個(ge)WORD報告(gao)文檔，在儀(yi)器產品光盤中雙擊(ji)CTPT分析(xi)儀(yi)批量報告(gao)制作工(gong)具(ju)文件夾(jia)下的(de)(de)“CTPT ANALYZER BULK REPORTS”，出(chu)現(xian)(xian)圖7.3所示窗(chuang)口。

窗口(kou)中各個按鈕和控件定(ding)義如下：

WORD報告批量生(sheng)成

點擊WORD報(bao)(bao)告(gao)批(pi)量生成時，進入報(bao)(bao)告(gao)配置窗口(kou)(kou)如圖(tu)7.4所示，在該窗口(kou)(kou)中可以(yi)添加，移除需要制作(zuo)報(bao)(bao)告(gao)的試驗(yan)文件(jian)。圖(tu)7.4窗口(kou)(kou)中各個按鈕的定(ding)義(yi)如下：

添加文件

點擊(ji)“添加(jia)文件(jian)”出(chu)現圖(tu)7.5所示的試(shi)(shi)驗(yan)結果文件(jian)添加(jia)窗口，可以(yi)將試(shi)(shi)驗(yan)結果文件(jian)添加(jia)到WORD報告待生(sheng)成隊(dui)列。

注意：圖(tu)7.5所示窗口中(zhong)可以(yi)通(tong)過(guo)鼠標同(tong)時選擇多個文(wen)件

移除文件

點擊移除文件，將WORD報告(gao)待生成(cheng)隊列(lie)中選中的試驗結果文件從(cong)隊列(lie)中移除

注意：此項功能僅僅將試驗結果文(wen)件(jian)從(cong)隊列(lie)中(zhong)移除，并不會(hui)刪(shan)除計算機中(zhong)對應的試驗結果文(wen)件(jian)

移除所有文件

點擊移除所有(you)文(wen)件，清空(kong)WORD報告(gao)待生成(cheng)隊列中所有(you)的試驗結(jie)果文(wen)件

注意(yi)：此項功能僅(jin)僅(jin)將試驗(yan)結果文件(jian)從隊(dui)列中移除，并不會刪除計算機中對應的試驗(yan)結果文件(jian)

批量(liang)生成WORD報告

一次(ci)性生成WORD報(bao)告待生成隊列中所有的試驗結果文件(jian)

注意(yi)：當待生(sheng)成隊列中文件的(de)數量很(hen)多時(shi)(shi)，生(sheng)成過(guo)(guo)程(cheng)會耗費很(hen)長的(de)時(shi)(shi)間，在此過(guo)(guo)程(cheng)中應(ying)用(yong)軟件不能響(xiang)應(ying)其他控制命令，如果此時(shi)(shi)需要終(zhong)止生(sheng)成過(guo)(guo)程(cheng)，可以通過(guo)(guo)Ctrl+ALT+DEL關閉此應(ying)用(yong)程(cheng)序的(de)進(jin)程(cheng)。

取(qu)消

退出WORD報告(gao)批(pi)量生(sheng)成配(pei)置窗口(kou)

試驗報告生成過程(cheng)控制

生(sheng)成(cheng)WORD報告時包(bao)含磁滯回(hui)路(lu)曲(qu)(qu)線，此項被選中時，在(zai)所有的(de)CT分(fen)析試驗結果文件的(de)WORD報告中會(hui)包(bao)含磁滯回(hui)路(lu)曲(qu)(qu)線及數據(ju)，這(zhe)(zhe)樣(yang)的(de)配(pei)置會(hui)消耗較(jiao)長的(de)生(sheng)成(cheng)WORD報告時間，否則這(zhe)(zhe)些曲(qu)(qu)線和數據(ju)不會(hui)出現在(zai)這(zhe)(zhe)些生(sheng)成(cheng)的(de)WORD報告中并且(qie)生(sheng)成(cheng)WORD報告時間較(jiao)短

誤(wu)(wu)差(cha)曲線中使用整數(shu)一(yi)次(ci)電流(liu)倍數(shu)，此項(xiang)被選中時，在所(suo)有的IEC60044-1保護類CT的試驗結(jie)果文件中，誤(wu)(wu)差(cha)曲線數(shu)據會顯示整數(shu)一(yi)次(ci)電流(liu)倍數(shu)的數(shu)值

顯示簡化的勵磁數據，此項(xiang)被選中時(shi)，在所有(you)的CT分析試驗(yan)結果文(wen)件的WORD報告中顯示的磁化曲線為30個點(dian)(dian)，這(zhe)樣可以縮短生(sheng)成(cheng)WORD報告的時(shi)間(jian)，否則(ze)顯示點(dian)(dian)數為實測點(dian)(dian)并且生(sheng)成(cheng)WORD報告的時(shi)間(jian)較長。

語言選(xuan)擇(ze)

選(xuan)擇此應用程序(xu)的語言環境，目前版本(ben)支持的語言為中文(wen)和(he)英文(wen)

進度條

應用程(cheng)(cheng)序(xu)(xu)主界(jie)面包含(han)2個進(jin)(jin)度(du)(du)(du)條(tiao)指(zhi)示(shi)生(sheng)成過程(cheng)(cheng)的狀態，位于主程(cheng)(cheng)序(xu)(xu)上部的進(jin)(jin)度(du)(du)(du)條(tiao)是(shi)所有試(shi)驗(yan)結果文(wen)件WORD報告(gao)生(sheng)成過程(cheng)(cheng)的總進(jin)(jin)度(du)(du)(du)指(zhi)示(shi)，位于主程(cheng)(cheng)序(xu)(xu)下部的進(jin)(jin)度(du)(du)(du)條(tiao)是(shi)單(dan)個試(shi)驗(yan)結果文(wen)件WORD報告(gao)生(sheng)成過程(cheng)(cheng)的進(jin)(jin)度(du)(du)(du)指(zhi)示(shi)。

第八章 附件清單

8.1 CTPT分析儀的標(biao)準配(pei)置

CTPT分(fen)析儀(yi)的標準配(pei)置如表7.1所示：

名稱	數量	說明
CTPT分析儀(yi)主機(ji)	1
3M雙芯帶屏蔽測試電纜	2	CT二次和功(gong)率(lv)輸出(chu)連接線(xian)，每根電纜的(de)兩頭都帶有紅色和黑色香(xiang)蕉頭，線(xian)徑大于1.5MM
10M雙芯帶屏蔽測試電纜	1	CT一次連(lian)接(jie)線(xian)，每根(gen)電纜的(de)兩頭都帶有紅(hong)色和黑色香蕉頭，線(xian)徑大于1.5MM
接地線	1
大號(hao)測試鉗	2	紅黑各2個(ge)
測試冷壓片	4	紅黑各2個
測試針	4	紅黑各2個
鱷魚(yu)夾	6	紅(hong)黑(hei)各3個
測試短(duan)接線(xian)	1	含(han)6個連接(jie)頭，用于短(duan)接(jie)CT二(er)次(ci)的(de)剩余(yu)非測試(shi)繞組
PT勵(li)磁(ci)試驗模(mo)塊	1	用于PT勵磁試驗
5A電(dian)源保險	3
供電電纜(lan)	1
附(fu)件(jian)包	1	放(fang)置測(ce)試的各(ge)種(zhong)附(fu)件
產品光盤	1	包含(han)產品(pin)說明書(shu)和數據分析軟(ruan)件
產(chan)品使用說明(ming)書	1
產品(pin)出(chu)廠檢測報告(gao)	1
合格證	1

附錄A. 低頻法測試原理

IEC60044-6 標準（對應(ying)國家標準GB16847-1997）聲稱，CT 的(de)(de)測(ce)試可以在(zai)比額定頻率低的(de)(de)情況下進行，避免(mian)繞組和二次端子承受不能容許的(de)(de)電壓。*的(de)(de)要求就是，在(zai)鐵心上產生同樣大小的(de)(de)磁通。

IEC60044-6 標準中給出的磁通計算公式：

其中，

R CT ：二次繞(rao)組(zu)電阻

U CT ：二次繞組端電(dian)壓

I CT ：二(er)次電流

Ψ0  ：初始交鏈(lian)磁(ci)通

Ψ(t)：t 時刻的交(jiao)鏈磁通

定義鐵心(xin)電壓(ya)：

當鐵心電壓U C (t) 為正(zheng)弦信號(hao)時，有：

其中(zhong)：

f ：為正弦(xian)信號頻率

可(ke)以看出，在(zai)相同(tong)的大交鏈磁(ci)通Ψm 下(xia)，鐵(tie)(tie)心電壓(ya)與(yu)頻(pin)(pin)(pin)率成正(zheng)比(bi)。因此，只要(yao)在(zai)鐵(tie)(tie)心上產生同(tong)樣大小的磁(ci)通，那么CT的測(ce)(ce)試(shi)便可(ke)以在(zai)比(bi)額定頻(pin)(pin)(pin)率低的情況(kuang)下(xia)進(jin)行(xing)，此時所需的鐵(tie)(tie)心電壓(ya)幅值要(yao)求也(ye)降(jiang)(jiang)低，二(er)次繞組測(ce)(ce)試(shi)所需的端電壓(ya)也(ye)相應降(jiang)(jiang)低。對低頻(pin)(pin)(pin)測(ce)(ce)試(shi)結果進(jin)行(xing)頻(pin)(pin)(pin)率折算后可(ke)以得到額定頻(pin)(pin)(pin)率下(xia)的CT測(ce)(ce)試(shi)結果。

附錄B.10%誤差曲線計算

電(dian)流互感器(qi)的誤差主要是由于勵磁電(dian)流I0的存在，它(ta)使(shi)二次(ci)電(dian)流I2與換算到(dao)二次(ci)側(ce)后(hou)的一(yi)次(ci)電(dian)流I1′不(bu)但在數值上(shang)不(bu)相(xiang)等，而且相(xiang)位(wei)也(ye)不(bu)相(xiang)同(tong)，這就造(zao)成了電(dian)流互感器(qi)的誤差。

繼電(dian)(dian)保護要求電(dian)(dian)流(liu)互感器的一次(ci)電(dian)(dian)流(liu)I1等于大短路電(dian)(dian)流(liu)時，其(qi)比值差小于或等于10％。在比值差等于10％時，二(er)次(ci)電(dian)(dian)流(liu)I2 與換算到二(er)次(ci)側后的一次(ci)電(dian)(dian)流(liu)I1′以及勵磁(ci)電(dian)(dian)流(liu)I0  之間(jian)滿足下述關系：

定義M 為(wei)一次側(ce)大短路電(dian)流(liu)倍數，K 為(wei)電(dian)流(liu)互(hu)感器的變比，則有

?

其中(zhong)：

Z2  為(wei)電(dian)流互感器二次繞組阻抗

E0  為電(dian)流互(hu)感(gan)器二次繞組(zu)感(gan)應電(dian)動(dong)勢E0和I0的關(guan)系由(you)勵磁(ci)特性曲線描述。

根據上述(shu)算(suan)式，后可以得到(dao)用大短路電流(liu)倍數M 和允許的(de)(de)大負(fu)荷阻抗ZB描(miao)述(shu)的(de)(de)10％誤(wu)差曲

5%誤(wu)(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)(xian)的(de)計(ji)算(suan)(suan)方式與10%誤(wu)(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)(xian)計(ji)算(suan)(suan)方式*，只是(shi)誤(wu)(wu)(wu)差(cha)點從10%變成(cheng)了5%。對(dui)于5P/5PR的(de)電(dian)流互感器通(tong)常(chang)計(ji)算(suan)(suan)5%誤(wu)(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)(xian)，對(dui)于10P/10PR的(de)保護類(lei)電(dian)流互感器通(tong)常(chang)計(ji)算(suan)(suan)10%誤(wu)(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)(xian)。