CTPT綜合測試儀

　

LYFA3300CTPT綜合測試儀使用范圍與技術指標

1.1 功能與使用場(chang)合

用于電流互感器(qi)的(de)以下試(shi)驗：

1）勵磁特性試驗

2）匝數比(bi)檢(jian)測

3）比差與角差校驗

4）極性校(xiao)驗(yan)

5）二次繞組電阻測量

6）二次負荷測量

7）5%和10%誤差曲線測量

8）CT暫(zan)態(tai)特性測試與分析

9）CT銘牌自動推斷

10）拐點(dian)電壓(ya)/電流、準(zhun)確限(xian)值系(xi)數、儀(yi)表保安系(xi)數、二次時(shi)間常數、剩(sheng)磁系(xi)數、準(zhun)確級、飽(bao)和與不飽(bao)及電感，拐點(dian)電動(dong)勢(shi)，極限(xian)電動(dong)勢(shi)和面積系(xi)數等CT 參(can)數的測量

11）電流互感器鐵(tie)芯(xin)磁滯(zhi)回(hui)線測量

還可(ke)用于電壓互感器的(de)以下試驗：

1）PT匝數比(bi)檢測

2）PT極性校驗

3）PT二次繞組電阻測量

4）PT二次(ci)負荷測量

5) PT勵磁特性測(ce)量

裝(zhuang)置的應(ying)用場合主要有(you)：

1） CT銘牌的參數校驗(yan)

2） CT接入當前負荷時參數校(xiao)驗

3） 分析CT的暫態特性對繼電(dian)保(bao)護裝置的影(ying)響(xiang)。

4） PT的(de)銘牌(pai)參數校(xiao)驗

5） PT二(er)次負荷校驗

1.2 CTPT分析儀技(ji)術指標

1 測(ce)試(shi)標準依據：

IEC60044-1, IEC60044-2, IEC60044-5, IEC60044-6, GB1207, GB1208,GB16847, GBT4703, C57.13

2 輸入電源(yuan)電壓： AC220V±10%，50Hz/60Hz±10%

3 輸(shu)出電壓(ya)： 0.1~180V(AC)

4 輸出(chu)電流： 0.001~5A(RMS)

5 輸出功率：500VA

6 高等效拐點(dian)電(dian)壓(ya)：45KV

7 電流測量： 范圍：0~10A(自動量程0.1/0.4/2/10A)

誤差<±0.1%+0.01%FS

8 電壓測量： 范圍：0~200 V (自動量程1/10/70/200V)

誤差(cha)< ±0.1%+0.01%FS

9 匝(za)數比(bi)測量(liang)： 范圍：1~35000，

1~2000 誤差<0.05%

2000~5000 誤差<0.1%

5000~35000 誤差<0.2%

10 相(xiang)位測(ce)量： 精度(du)：±2min，分(fen)辨率：0.01min

11 二次繞組(zu)電阻測(ce)量范圍： 范圍：0~8KΩ(自動量程2/20/80&Omega;/800&Omega;/8kΩ)

誤差< 0.2%RDG+0.02%FS， 大分辨(bian)率：0.1mΩ

12 溫度(du)測量(liang)：-50~100度(du)， 誤(wu)差<3度(du)

13 CT二次(ci)負荷測量： 0～160ohm(2/20/80ohm/160ohm)

*.2%RDG+0.02%FS大分辨率0.001ohm

14 PT二次負荷(he)測量： 0～80kohm(800ohm/8kohm/80kohm)

*.2%RDG+0.02%FS大分辨率0.1ohm

15 PT匝(za)數(shu)比測(ce)量(liang)： 范圍：1~30000，

1~5000 誤差<0.2%

5000~30000 誤差(cha)<0.5%

16 能夠(gou)按(an)照所(suo)選擇的標準(zhun)，對(dui)測試結果進行自動評(ping)估，判斷(duan)互(hu)感器是否合(he)格

17 能夠同時檢測(ce)額定負荷和操作負荷下電流互感的比差與角差

18 具有自(zi)動生成WORD試驗報(bao)告功能

19 具(ju)備(bei)批量(liang)制作WORD試驗(yan)報告功能，一次可以將選擇的(de)所有試驗(yan)文(wen)件制作成格(ge)式(shi)規范(fan)的(de)WORD報告

20 能(neng)夠將勵磁曲(qu)線(xian)與存儲的歷史曲(qu)線(xian)進行自動對比

21 數據存儲組數：大于1000組

22 工(gong)作條件： 溫度：-10℃～50℃， 濕度：≤90%

23 尺(chi)寸(cun)：485mm×356mm×183mm

24 重量(liang)：15Kg

第二章 LYFA3300CTPT綜合測試儀硬件裝置

2.1 概述(shu)

外(wai)形和(he)各部分的(de)描述如圖2.1所示

2.2電源連接

電(dian)(dian)源輸(shu)入插座在儀器面(mian)板的右側，如(ru)圖(tu)2.2所(suo)示。電(dian)(dian)源輸(shu)入范圍是AC220±10% ，50/60Hz±10%，電(dian)(dian)源插座內部安裝有5A保險(xian)。

2.3輸(shu)入與(yu)輸(shu)出(chu)

測試(shi)接口有3組(zu)：功率輸(shu)(shu)出，CT二次(ci)(ci)側(ce)(ce)/PT一次(ci)(ci)側(ce)(ce)輸(shu)(shu)入(ru)，CT一次(ci)(ci)側(ce)(ce)/PT二次(ci)(ci)側(ce)(ce)輸(shu)(shu)入(ru)。

功率輸(shu)出端子：功率輸(shu)出接(jie)口，輸(shu)出電壓(ya)范圍是AC 0~180V，輸(shu)出電流AC0~5A

CT二次(ci)側/PT一次(ci)側輸入(ru)端(duan)子：

CT二(er)次(ci)繞組(zu)/PT一(yi)次(ci)繞組(zu)電壓測(ce)量輸(shu)入接口，輸(shu)入信(xin)號的電壓范圍是AC0~180V

CT一次側/PT二次側輸(shu)(shu)入(ru)端子：CT一次側/PT二次側繞(rao)組電壓測量輸(shu)(shu)入(ru)接口，輸(shu)(shu)入(ru)信號的電壓范圍(wei)是AC0~5V

2.4硬件(jian)部分原理框圖

結構原理(li)如圖2.3所示，其中的恒壓(ya)恒流(liu)變(bian)頻電(dian)(dian)源(yuan)(yuan)模(mo)塊與(yu)AC220V電(dian)(dian)源(yuan)(yuan)輸入是*隔離(li)的。通過DSP數據采集系統完成對恒壓(ya)恒流(liu)模(mo)塊的控制，可以使電(dian)(dian)源(yuan)(yuan)輸出AC0~180V正弦電(dian)(dian)壓(ya)信號或者AC0~1A的正弦電(dian)(dian)流(liu)信號。

DSP數(shu)(shu)據采(cai)集系(xi)統(tong)的(de)主要(yao)功能是完(wan)成(cheng)對變頻電(dian)源控制(zhi)和(he)試驗過程的(de)數(shu)(shu)據采(cai)集。所有的(de)數(shu)(shu)據分析，存儲和(he)界面顯示都(dou)由工(gong)控機系(xi)統(tong)完(wan)成(cheng)，工(gong)控機內(nei)(nei)置了嵌入式XPE系(xi)統(tong)，并對系(xi)統(tong)的(de)C盤進(jin)行的(de)自恢復保護，這樣可(ke)以(yi)有效的(de)避免軟件系(xi)統(tong)故障和(he)病毒攻(gong)擊。儀(yi)器內(nei)(nei)部存儲空間>6G，大存儲數(shu)(shu)據>1000組。

2.5鍵(jian)盤

面(mian)板帶(dai)有一個16鍵(jian)的(de)小(xiao)鍵(jian)盤用于數據輸入，鍵(jian)盤的(de)外形如(ru)圖2.4所示，其中各(ge)個按(an)鍵(jian)的(de)定義如(ru)下：

1）0~9 數字輸(shu)入鍵

2）∧向(xiang)上(shang)選擇方向(xiang)鍵

3) ∨向下選(xuan)擇方向鍵

4）＜刪除數據鍵(jian)

5）. 小(xiao)數(shu)點輸入鍵

6）ESC 取消選擇鍵

7）確定選擇或輸入鍵(jian)

第三章 LYFA3300試驗連線

3.1 CT二次(ci)負荷(he)

在進行CT二次(ci)負(fu)荷測(ce)量時(shi)請按照圖3.1連接分析儀和被測(ce)CT

具(ju)體接線步驟和說明(ming)如下(xia)：

1）將接地柱連接到(dao)保護地PE

2）將(jiang)按照圖3.1所示，斷開(kai)CT二(er)次(ci)(ci)側(ce)和二(er)次(ci)(ci)回路的連接

3）功率輸(shu)出和CT二次側(ce)/PT一次側(ce)的黑色端(duan)子連接至二次負荷一側(ce)，參(can)見圖3.1

4）功率輸出和CT二次側/PT一次側的(de)(de)紅(hong)色端(duan)子連接至二次負荷的(de)(de)另一側

5）為了(le)消(xiao)除接(jie)觸電阻的影(ying)響，在(zai)連接(jie)端子(zi)時(shi)，CT二次側的連接(jie)端子(zi)應(ying)保持在(zai)功率輸出端子(zi)的內側，如圖3.2。

注意：在進(jin)行(xing)CT二(er)次(ci)負荷測(ce)量時(shi)，必須要斷(duan)開(kai)被(bei)測(ce)CT二(er)次(ci)側與(yu)負載的(de)連(lian)接，否則(ze)測(ce)量的(de)結(jie)果(guo)(guo)將是CT二(er)次(ci)側與(yu)二(er)次(ci)負荷的(de)并聯阻抗，這將導致儀(yi)器獲得(de)錯誤(wu)的(de)試驗(yan)結(jie)果(guo)(guo)。并且在進(jin)行(xing)二(er)次(ci)負荷測(ce)量時(shi)儀(yi)器不進(jin)行(xing)退磁處理(li)，因此如果(guo)(guo)CT二(er)次(ci)側未斷(duan)開(kai)將會(hui)導致CT進(jin)入(ru)飽(bao)和狀態。

3.2 CT分(fen)析(xi)，變比，極性試驗(yan)接線圖

在進(jin)行CT分析，變比或極性試驗(yan)時請按(an)照(zhao)圖(tu)3.3連(lian)接分析儀和被測CT，這三個試驗(yan)項(xiang)目的接線方(fang)式是*的

具體接線步驟和說明如下：

1）斷開(kai)電(dian)力線(xian)與CT一(yi)次側的連(lian)接，未接地的電(dian)力線(xian)較長(chang)，會(hui)給CT一(yi)次側的測量引入(ru)較大干擾(rao)，參見圖3.4。

3）將(jiang)CT一次(ci)側一端連接至分析儀CT一次(ci)側/PT二(er)次(ci)側黑色端子

4）將CT一(yi)次側(ce)另一(yi)端(duan)連接至(zhi)分(fen)析儀CT一(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)紅(hong)色端(duan)子(zi)

5）將分析儀(yi)的(de)接地柱連接到保護(hu)地PE

6）將按照圖3.3所示，斷開(kai)被測CT二(er)次側和(he)二(er)次負荷的連接

7）功率輸出和CT二次側/PT一(yi)次側的黑色端(duan)子連接至CT二次側的一(yi)端(duan)，參(can)見(jian)圖3.3

8）功率輸出和CT二次(ci)側(ce)/PT一次(ci)側(ce)的紅色端子連接(jie)至CT二次(ci)側(ce)另一端

9）為了消除接觸(chu)電阻(zu)對線圈(quan)電阻(zu)測量的(de)影響(xiang)，在(zai)連接分析(xi)儀的(de)端(duan)子時，CT二次側(ce)/PT一次側(ce)的(de)連接端(duan)子應保持在(zai)功率輸(shu)出端(duan)子的(de)內側(ce)，如圖3.4。

注(zhu)意(yi)：在對變(bian)比(bi)值相同的多(duo)繞組電流互感器進行CT分析或CT比(bi)差角差測(ce)試(shi)時，沒有測(ce)試(shi)的二次繞組應全部短接，否則測(ce)試(shi)誤差將會偏大

例如同時(shi)含有測量0.5級(ji)，保(bao)護10P10，暫態TPY三(san)個繞組的(de)2000/1的(de)CT，進(jin)行(xing)0.5級(ji)繞組的(de)比差角(jiao)差測量時(shi)應按照圖3.4.1進(jin)行(xing)接線

3.3 CT線(xian)(xian)圈電阻測(ce)量接線(xian)(xian)圖

在測量CT線圈的直流電(dian)阻時，請按照圖3.5連(lian)接儀器和(he)被測CT。

1）將CTPT分析儀(yi)的接(jie)地柱連(lian)接(jie)到保(bao)護(hu)地PE

2）按照圖3.5所示，斷開被測(ce)CT二次側和二次負荷的連(lian)接(jie)

3）功(gong)率輸出(chu)和CT二次側/PT一(yi)次側的黑色端子連接至CT二次側的一(yi)端，參見圖3.5

4）功率(lv)輸出和CT二次(ci)側(ce)/PT一次(ci)側(ce)的紅色端子連接至CT二次(ci)側(ce)另(ling)一端

5）為(wei)了消除接(jie)觸電(dian)阻(zu)(zu)對線圈(quan)電(dian)阻(zu)(zu)測(ce)量的影響(xiang)，在(zai)連接(jie)分析(xi)儀的端(duan)(duan)子時，CT二次(ci)側(ce)/PT一次(ci)側(ce)的連接(jie)端(duan)(duan)子應保持在(zai)功率輸出端(duan)(duan)子的內側(ce)，如(ru)圖3.4。

3.4 PT二次負荷(he)

在進(jin)行PT二(er)次負荷測量時請按照(zhao)圖3.6連接CTPT分析儀和被測PT

具體(ti)接(jie)線步驟(zou)和說明(ming)如下：

1）接(jie)地柱(zhu)連接(jie)到(dao)保(bao)護地PE

2）將按照圖3.6所(suo)示，斷開(kai)PT二(er)次側和二(er)次回路的連接

3）功率(lv)輸出和(he)CT二次側/PT一次側的黑色端(duan)子連接(jie)至二次負荷的一端(duan)，參見圖3.6

4）將(jiang)CTPT分析功率輸出和CT二次(ci)側/PT一次(ci)側的紅色(se)端(duan)子連接至二次(ci)負荷的另一端(duan)

5）為(wei)了消除(chu)接觸(chu)電阻的(de)影響，在連接端子時，CT二(er)次側/PT一(yi)次側的(de)連接端子應保持在功率輸出端子的(de)內側，如圖(tu)3.2。

3.5 PT線圈電阻測量接線圖

在測量PT線圈的(de)直(zhi)流電阻時(shi)，請按照(zhao)圖3.7連接儀器和(he)被測PT。

1）接地柱(zhu)連(lian)接到保護(hu)地PE

2）按照圖3.7所示，斷開被(bei)測PT二(er)次(ci)側(ce)和(he)二(er)次(ci)負荷的(de)連接(jie)，或是斷開PT一次(ci)側(ce)與PT一次(ci)線路的(de)連接(jie)

3）功率輸出和CT二次(ci)(ci)側/PT一(yi)次(ci)(ci)側的(de)黑色(se)端子連接(jie)至(zhi)PT二次(ci)(ci)側(或PT一(yi)次(ci)(ci)側)的(de)一(yi)端，參見(jian)圖3.7

4）將CTPT分析(xi)功率輸出和CT二(er)次(ci)(ci)(ci)側(ce)/PT一(yi)次(ci)(ci)(ci)側(ce)的紅(hong)色(se)端子連接至PT二(er)次(ci)(ci)(ci)側(ce)（或PT一(yi)次(ci)(ci)(ci)側(ce)）另一(yi)端

5）為了消除接觸(chu)電阻對(dui)線(xian)圈電阻測量(liang)的影響，在連接端(duan)子(zi)時，CT二次側/PT一次側的連接端(duan)子(zi)應保持在功率輸出端(duan)子(zi)的內側，如圖3.4。

3.6 PT匝數(shu)比(bi)，極性試驗接線圖

在進(jin)行PT變比或極性試(shi)驗時(shi)請按(an)照圖3.9連(lian)接CTPT分析儀和被測PT，這兩個試(shi)驗項目的接線方式是*的

具體接線步(bu)驟和說明如下：

1）將PT二(er)次側(ce)(ce)的一(yi)端(duan)連(lian)接至分(fen)析儀CT一(yi)次側(ce)(ce)/PT二(er)次側(ce)(ce)黑(hei)色端(duan)子

2）將(jiang)PT二次(ci)(ci)側(ce)另一(yi)端連接(jie)至分析儀CT一(yi)次(ci)(ci)側(ce)/PT二次(ci)(ci)側(ce)紅色端子

3）接地柱連接到保護地PE

4）將按照圖3.9所示，斷(duan)開(kai)被測PT二(er)次側(ce)和二(er)次負荷的連接

5）功率輸出和CT二次側/PT一次側的(de)黑色端子(zi)連接至PT一次側的(de)一端，參(can)見圖3.9

6）將CTPT分析(xi)功(gong)率輸出和CT二(er)次側(ce)(ce)/PT一(yi)(yi)次側(ce)(ce)的紅色端子連接至PT一(yi)(yi)次側(ce)(ce)另(ling)一(yi)(yi)端

7）為了消除接(jie)觸電阻(zu)對(dui)線圈電阻(zu)測量的(de)影響(xiang)，在連(lian)接(jie)分析儀(yi)的(de)端(duan)(duan)子(zi)時，CT二次側(ce)/PT一次側(ce)的(de)連(lian)接(jie)端(duan)(duan)子(zi)應保持在功率(lv)輸出端(duan)(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如(ru)圖(tu)3.4。

3.7 PT勵磁(ci)試(shi)驗接線圖

在進行PT勵磁(ci)試驗時請按(an)照圖3.10連接分析儀和(he)被測PT。

執行PT勵(li)磁試(shi)驗時，需要外接(jie)PT勵(li)磁試(shi)驗模塊(kuai)，以防止發生(sheng)高頻振蕩(dang)，造成測試(shi)結(jie)果(guo)的電流過大

具(ju)體接線步驟和說明如下：

1）將PT二次側(ce)的一(yi)端連接至CTPT分析儀CT二次側(ce)/PT一(yi)次側(ce)黑色端子

2）將(jiang)PT二次側另一端(duan)連接至CTPT分析儀CT二次側/PT一次側紅色端(duan)子

3）將PT勵磁(ci)模塊的黃(huang)色/黑色線連接至(zhi)分析儀的功率輸出(chu)

4）將PT二次側的(de)(de)一(yi)端連接至(zhi)PT勵磁模(mo)塊的(de)(de)紅色(se)插座

5）將PT二次側的(de)另外一端連接至PT勵磁模(mo)塊的(de)黑色插(cha)座(zuo)

6）接地柱連接到(dao)保護地PE

7）將按照(zhao)圖3.10所示，斷開(kai)被(bei)測PT二次側和二次負荷的(de)連接

8）為了消除接觸電阻對線圈電阻測量的(de)影響，在連接分析儀的(de)端(duan)子時，CT二次(ci)(ci)側/PT一(yi)次(ci)(ci)側的(de)連接端(duan)子應保持在功率輸出端(duan)子的(de)內側，如圖3.4。

注(zhu)意：PT勵磁試驗完成(cheng)后，PT一(yi)次側(ce)可能(neng)有高壓殘(can)留，一(yi)定要對PT一(yi)次側(ce)進行放(fang)電，否則將一(yi)次側(ce)再連接到儀器時，可能(neng)造成(cheng)儀器損耗

第四章 LYFA3300用戶界面

4.1 儀器運(yun)行界面

軟件(jian)系統定義了(le)6種運(yun)行(xing)(xing)狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)，這6種運(yun)行(xing)(xing)狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)分別為(wei)“等待(dai)新建試(shi)驗(yan)(yan)(yan)”，“等待(dai)查(cha)看歷史(shi)結果(guo)(guo)”，“等待(dai)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)”，“運(yun)行(xing)(xing)”，“查(cha)看結果(guo)(guo)”和“查(cha)看歷史(shi)結果(guo)(guo)”。不同的狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)下軟件(jian)顯(xian)示(shi)(shi)界(jie)(jie)面(mian)是不一樣的，但是整個(ge)軟件(jian)界(jie)(jie)面(mian)都(dou)是被劃(hua)分為(wei)5個(ge)區域，其劃(hua)分方(fang)式如圖4.1所示(shi)(shi)，5個(ge)區域分別為(wei)工具欄(lan)(lan)，儀(yi)器主工作(zuo)區（在等待(dai)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)界(jie)(jie)面(mian)顯(xian)示(shi)(shi)為(wei)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)項目選擇和操作(zuo)命令選擇，如圖4.1），儀(yi)器狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)信息欄(lan)(lan)，當前試(shi)驗(yan)(yan)(yan)參(can)數欄(lan)(lan)和試(shi)驗(yan)(yan)(yan)控制欄(lan)(lan)。儀(yi)器處于不同的運(yun)行(xing)(xing)狀(zhuang)(zhuang)態(tai)(tai)時(shi)，僅僅是在主工作(zuo)區對顯(xian)示(shi)(shi)界(jie)(jie)面(mian)進(jin)行(xing)(xing)切換。

4.2 儀器軟件(jian)工具欄

工具欄包含(han)了對儀(yi)器操作的(de)(de)各個(ge)命(ming)令(ling)按鈕，其中包括(kuo)“新建試(shi)驗”，“保存(cun)”，“讀取”，“儀(yi)器設(she)置”，“語(yu)言(yan)選擇”，“互感器設(she)置”，“數據導(dao)出”和“使(shi)用幫助”等，各個(ge)儀(yi)器控制(zhi)命(ming)令(ling)的(de)(de)詳(xiang)細解釋如(ru)下(xia)。

4.2.1新建試驗(yan)

新建試驗是指(zhi)結束當前(qian)的(de)試驗窗(chuang)口，軟(ruan)件返回至“等待新建試驗狀態”，在(zai)該狀態下(xia)圖4.1所(suo)示界面被加載，可以在(zai)該窗(chuang)體中選(xuan)擇將要進(jin)行的(de)試驗項目，該窗(chuang)體中的(de)試驗項目包括“CT分析(xi)”，“CT比(bi)差(cha)角(jiao)差(cha)測量”，“CT二次(ci)負荷”，“CT極(ji)性檢(jian)查”，“CT線圈電(dian)阻測量”， “PT變比(bi)”，“PT二次(ci)負荷”，“PT極(ji)性檢(jian)查”和“PT線圈電(dian)阻”，也可以在(zai)該狀態下(xia)重新啟動軟(ruan)件或是關閉系統。

4.2.2 保(bao)存

保(bao)存按(an)鈕是(shi)在完(wan)成試(shi)驗(yan)以后，保(bao)存儀器試(shi)驗(yan)結果和(he)數據(ju)。在查看歷史結果時，如果用戶修改(gai)當(dang)前(qian)的(de)(de)顯示模式（標準(zhun)或互感器等級改(gai)變），可(ke)以通過此按(an)鈕保(bao)存修改(gai)后的(de)(de)結果。

儀(yi)器(qi)在保存試(shi)驗結果時文件(jian)的名稱(cheng)是按照如(ru)下格式(shi)進行組(zu)織的：

年(nian)-月-日 時：分：秒 互感(gan)器(qi)編號 試(shi)驗名稱.cta

例如 2011-04-08 11：12：30 CT分(fen)析.cta

其中(zhong)時(shi)間部分是取自(zi)(zi)試(shi)(shi)驗(yan)啟動(dong)瞬間的(de)系統時(shi)間，因此(ci)在(zai)查看歷(li)史結果(guo)狀態修改試(shi)(shi)驗(yan)顯(xian)示模式后保(bao)存(cun)試(shi)(shi)驗(yan)結果(guo)，此(ci)時(shi)儀(yi)器將自(zi)(zi)動(dong)覆蓋原來(lai)的(de)文(wen)件，而不會重新(xin)為此(ci)文(wen)件創建一個副(fu)本。

4.2.3讀取(qu)

讀取按鈕(niu)的功能是重新導入(ru)已保存的歷史數據(ju)，當用(yong)戶(hu)點擊讀取按鈕(niu)以后圖4.2所示窗體將會被加(jia)載。

 

在試(shi)驗(yan)讀取(qu)界面(mian)，窗體的(de)(de)左邊(bian)列出了當(dang)(dang)前(qian)儀器(qi)所保存(cun)的(de)(de)所有(you)試(shi)驗(yan)文件(jian)名稱；右(you)邊(bian)是對保存(cun)文件(jian)的(de)(de)操作命令選(xuan)(xuan)擇；右(you)上(shang)角是儀器(qi)當(dang)(dang)前(qian)存(cun)儲的(de)(de)文件(jian)計數(shu)，其內容(rong)包括當(dang)(dang)前(qian)選(xuan)(xuan)擇的(de)(de)文件(jian)索引和(he)當(dang)(dang)前(qian)存(cun)儲的(de)(de)文件(jian)總(zong)數(shu)。

文件讀取窗體中的命令按鈕(niu)包(bao)括

1)“上(shang)一頁” 對文件顯示列表中(zhong)的(de)內容進行向上(shang)翻頁

2)“下一頁” 對文(wen)件顯(xian)示(shi)列(lie)表(biao)中(zhong)的(de)內(nei)容進行(xing)向下翻頁

3)&ldquo;刪除所(suo)有文件”刪除當前存(cun)儲在(zai)儀器中的所(suo)有試驗文件

4)“刪除文件”刪除當前所選擇的文件

5)“取(qu)消”退出文件讀取(qu)窗(chuang)體

6)讀取當前所選擇的文件，儀器進入“查看(kan)歷(li)史結果界面”，

4.2.4 儀器設置

儀(yi)器(qi)設置(zhi)按鈕用于設置(zhi)儀(yi)器(qi)的運行參(can)數，點擊(ji)儀(yi)器(qi)設置(zhi)按鈕圖4.3所示的窗體(ti)會被加(jia)載。

儀器設置(zhi)界面(mian)中的系(xi)統運行參(can)數(shu)只會反映在儀器生成的試驗報(bao)告中，與試驗的流程控(kong)制無(wu)關，其中的各(ge)個(ge)參(can)數(shu)詳細(xi)定義如表4.1

表(biao)4.1 系統(tong)運行參數

參數名(ming)稱	含義
儀器ID	儀(yi)器的出廠(chang)識別號，所有(you)的儀(yi)器都具有(you)*的ID
軟件ID	儀器(qi)的DSP軟件系(xi)統版本號(hao)
操作人員(yuan)	生成WORD試驗報告時，報告中顯示的操(cao)作人員名字
試(shi)驗單(dan)位	生成WORD試驗(yan)報(bao)告時，報(bao)告中顯示的試驗(yan)單位
試驗地點	生成WORD試驗報告(gao)時，報告(gao)中顯(xian)示的試驗地點
報告頁眉	生成(cheng)WORD試驗報告(gao)時，報告(gao)頁(ye)眉部分的內容(rong)
報告頁腳(jiao)	生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告(gao)時，報(bao)告(gao)頁腳部分的內容
生成 報(bao)告(gao)時含(han)磁滯回路(lu)曲線	在(zai)完成(cheng)CT分析試驗后，將(jiang)磁(ci)滯回線(xian)包含(han)在(zai)所(suo)生成(cheng)的WORD報告(gao)中(zhong)
在誤差(cha)曲線中使用整(zheng)數(shu)一次電流倍數(shu)	在生成(cheng)誤差曲線數(shu)據時只顯示一(yi)次電(dian)流整數(shu)倍數(shu)的數(shu)值

其(qi)余參數均與(yu)試驗(yan)過程的控制有關，但是只(zhi)涉及CT測試時(shi)的試驗(yan)流程，與(yu)PT試驗(yan)沒有關系(xi)，其(qi)詳(xiang)細含義(yi)如表4.2所示

參數名稱	含義
自(zi)動評估設置	如果(guo)設為“關閉自(zi)動評估(gu)”，在CT分析試驗結束后(hou)，儀器給(gei)出(chu)各(ge)個參(can)數數值，不會自(zi)動判定當前的(de)試驗結果(guo)是(shi)否符合所選標準的(de)要求(qiu)。 如果(guo)設(she)置(zhi)僅對操作負荷(he)進(jin)行評(ping)估，在CT分析試驗結束后，儀器除給出試驗各參數的(de)數值外，還會依據CT所連接負荷(he)為當前(qian)操作負荷(he)時，自(zi)動判斷各項指標是(shi)否符合所選標準要(yao)求 如(ru)果(guo)設置對(dui)額(e)定和操作(zuo)負(fu)荷進(jin)行評估，在(zai)CT分析試(shi)驗(yan)結束后，儀器除給出試(shi)驗(yan)各參數的(de)數值外，還(huan)會分別對(dui)CT所連接(jie)負(fu)荷為操作(zuo)負(fu)荷和額(e)定負(fu)荷時(shi)，自(zi)動判斷各項指標(biao)是否(fou)符合(he)所選標(biao)準要(yao)求(qiu)
勵(li)磁試驗控制	默認情況下，系(xi)統設(she)置為自動(dong)獲(huo)取系(xi)統的(de)飽和電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)點(dian)，此參數用(yong)于對CT進(jin)行勵磁(ci)(ci)試(shi)(shi)驗(yan)時的(de)流程控制(zhi)，儀器會根(gen)據獲(huo)取的(de)飽和電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)自動(dong)選(xuan)取合適的(de)試(shi)(shi)驗(yan)頻率。如果(guo)選(xuan)擇“自動(dong)獲(huo)取”則儀器在進(jin)行勵磁(ci)(ci)試(shi)(shi)驗(yan)之前會自動(dong)測量所連接CT的(de)飽和電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)，否(fou)則儀器以設(she)定的(de)飽和電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)為準(zhun)進(jin)行勵磁(ci)(ci)試(shi)(shi)驗(yan)。 注意：只有在“自動(dong)獲(huo)取(qu)”無法正(zheng)確獲(huo)得儀(yi)(yi)器的飽和(he)電(dian)壓或者互感器的飽和(he)電(dian)壓大于8KV時才將儀(yi)(yi)器設(she)為人(ren)工(gong)設(she)定模(mo)式，因為人(ren)工(gong)設(she)定模(mo)式可能(neng)會導(dao)致(zhi)不能(neng)獲(huo)得精細(xi)的勵磁曲線
顯(xian)示簡化的勵磁數據(ju)	選中時(shi)勵(li)磁曲(qu)線數(shu)據(ju)(ju)欄(lan)目將(jiang)顯(xian)(xian)示(shi)多(duo)30個數(shu)據(ju)(ju)點(dian)(dian)，分別(bie)為拐(guai)點(dian)(dian)前15個數(shu)據(ju)(ju)點(dian)(dian)和拐(guai)點(dian)(dian)后15個數(shu)據(ju)(ju)點(dian)(dian)，這些數(shu)據(ju)(ju)點(dian)(dian)都(dou)是從(cong)勵(li)磁曲(qu)線上等步長截(jie)取獲得的，顯(xian)(xian)示(shi)簡化數(shu)據(ju)(ju)時(shi)可以加快生成WORD文檔的速度 未選中時儀器(qi)顯(xian)示實際獲取的勵磁數據(ju)點數，通(tong)常會大(da)于(yu)100個點
1A/5A類(lei)型互感(gan)器判斷閾值	此(ci)參數適用(yong)于銘牌自動(dong)推測工(gong)作模(mo)式(shi)，當(dang)用(yong)戶選擇了自動(dong)推測銘牌，并且互感(gan)器二次(ci)額定電流未知時(shi)，儀器以此(ci)閾值來(lai)判斷互感(gan)器類型，線圈電阻小于此(ci)閾值則認為是5A互感(gan)器，否則為1A互感(gan)器
1A互(hu)感器測(ce)量和(he)保(bao)護(hu)類型判斷閾(yu)值(zhi)	此(ci)參數(shu)適(shi)用(yong)于(yu)銘牌自動推測(ce)工作模式，當(dang)用(yong)戶選擇了自動推測(ce)銘牌，并且(qie)互感器(qi)等級未知時，儀器(qi)以此(ci)閾(yu)值(zhi)來(lai)判(pan)斷(duan)1A的(de)互感器(qi)保護和(he)測(ce)量類型(xing)，飽(bao)和(he)電(dian)壓小于(yu)此(ci)閾(yu)值(zhi)則認為是(shi)測(ce)量1A互感器(qi)，否則為保護1A互感器(qi)
5A互(hu)感器測量和(he)保護類型(xing)判(pan)斷閾值	此(ci)參(can)數適用于銘牌(pai)自(zi)動(dong)推測(ce)工作模式，當用戶(hu)選擇了(le)自(zi)動(dong)推測(ce)銘牌(pai)，并且(qie)互(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)等級未知時，儀器(qi)(qi)(qi)以此(ci)閾值來判斷5A的互(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)保護(hu)和測(ce)量類型(xing)，飽和電壓小(xiao)于此(ci)閾值則認為(wei)是測(ce)量5A互(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)，否則為(wei)保護(hu)5A互(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)
勵磁數據查找條件(jian)	設置為通過電壓查找電流時 在勵磁曲線數(shu)據欄目(mu)中，輸入勵磁電壓(ya)數(shu)值儀器自(zi)動查找對應的勵磁電流數(shu)值 位置為通過電(dian)流查(cha)找(zhao)電(dian)壓(ya)時(shi) 在勵磁曲線數據欄(lan)目中(zhong)，輸入(ru)勵磁電流數值(zhi)儀(yi)器自動查找(zhao)對應的勵磁電壓數值(zhi)

4.2.5 語言(yan)選擇

CT分析儀支持漢語和英文兩種語言，此按鈕用于系統語言的選擇和切換。點擊此按鈕后圖4.4所示窗體被加載。選擇簡體中文后儀器的工作語言為中文，選擇English則儀器的工作語言變成英文

4.2.6 CT參數(shu)設置

互感器(qi)設置(zhi)按(an)鈕用于設置(zhi)被測CT銘(ming)牌參數(shu)(shu)和CT分(fen)析(xi)試(shi)驗，變比(bi)試(shi)驗的(de)流程控制參數(shu)(shu)。點擊此按(an)鈕后圖4.5所示窗(chuang)體(ti)被加載。此窗(chuang)體(ti)中各參數(shu)(shu)的(de)詳細(xi)定義請參見(jian)第5.2節參數(shu)(shu)設置(zhi)

4.2.7 數據導出

數據導(dao)出(chu)按鈕(niu)用于導(dao)出(chu)已保存(cun)在儀器上的(de)試驗數據，WORD報告等文件。點擊此按鈕(niu)后圖(tu)4.6所(suo)示的(de)窗體(ti)被加載。

左邊的列(lie)表(biao)框展示(shi)(shi)(shi)的是當前(qian)存(cun)儲在(zai)儀(yi)器(qi)上文(wen)件(jian)列(lie)表(biao)，在(zai)文(wen)件(jian)類(lei)型選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)(ze)下(xia)拉框中選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)(ze)不同(tong)的文(wen)件(jian)類(lei)型，則在(zai)左邊列(lie)表(biao)框中將展示(shi)(shi)(shi)相應(ying)的文(wen)件(jian)，文(wen)件(jian)類(lei)型包括“*.Cta“格式數據(ju)文(wen)件(jian)，WORD試(shi)驗報告文(wen)件(jian)和Jpg圖片文(wen)件(jian)。文(wen)件(jian)索引(yin)和文(wen)件(jian)總(zong)數計數器(qi)展示(shi)(shi)(shi)儀(yi)器(qi)中存(cun)儲的當前(qian)類(lei)型文(wen)件(jian)總(zong)數和現(xian)在(zai)所選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)(ze)的文(wen)件(jian)索引(yin)，通過(guo)鼠標點擊可以同(tong)時選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)(ze)多個文(wen)件(jian)，文(wen)件(jian)被選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)(ze)時顯示(shi)(shi)(shi)為藍(lan)色底(di)色。

數(shu)據導出窗體中的操作(zuo)命令按鈕包括(kuo)：

1)“上一頁(ye)” 對文(wen)件顯示列表中(zhong)的內容進行向上翻頁(ye)

2)“下一(yi)頁” 對文件顯示列表中的內容進(jin)行向下翻頁

3)“清空存(cun)儲器”，指刪除插入(ru)儀器的(de)U盤中&ldquo;試驗數據”目錄下的(de)所有文件

4)“刪除所(suo)有(you)文件”刪除當前存儲(chu)在儀器中(zhong)的(de)所(suo)有(you)試驗(yan)文件

5)“刪除文件(jian)”刪除存(cun)儲在儀器中當前所選(xuan)擇(ze)的文件(jian)

6)“導(dao)出(chu)所(suo)有(you)(you)文(wen)件(jian)(jian)(jian)”，將當(dang)(dang)前左(zuo)邊(bian)窗(chuang)體中的(de)所(suo)有(you)(you)試(shi)(shi)驗(yan)文(wen)件(jian)(jian)(jian)導(dao)出(chu)至U盤(pan)中。如果(guo)當(dang)(dang)前選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)“*.Cta”，則左(zuo)邊(bian)列表(biao)框中的(de)所(suo)有(you)(you)“*.Cta”文(wen)件(jian)(jian)(jian)都會被(bei)導(dao)出(chu)至U盤(pan)的(de)“試(shi)(shi)驗(yan)數(shu)據(ju)儀器試(shi)(shi)驗(yan)數(shu)據(ju)”文(wen)件(jian)(jian)(jian)目(mu)錄(lu)下(xia)，如果(guo)當(dang)(dang)前選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)“.Doc”文(wen)件(jian)(jian)(jian)，則左(zuo)邊(bian)列表(biao)框中的(de)所(suo)有(you)(you)“*.Doc”文(wen)件(jian)(jian)(jian)都會被(bei)導(dao)出(chu)至U盤(pan)的(de)“試(shi)(shi)驗(yan)數(shu)據(ju)WORD試(shi)(shi)驗(yan)報告”目(mu)錄(lu)下(xia)。如果(guo)當(dang)(dang)前選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)“.Jpg”文(wen)件(jian)(jian)(jian)，則左(zuo)邊(bian)列表(biao)框中的(de)所(suo)有(you)(you)“*.Jpg”文(wen)件(jian)(jian)(jian)都會被(bei)導(dao)出(chu)至U盤(pan)的(de)“試(shi)(shi)驗(yan)數(shu)據(ju)Jpg圖形文(wen)件(jian)(jian)(jian)”目(mu)錄(lu)下(xia)

7)&ldquo;導(dao)出文(wen)件(jian)”，將(jiang)當前所選擇的文(wen)件(jian)導(dao)出至U盤對應(ying)的目錄(lu)下。

8)“取消(xiao)”退(tui)出文(wen)件導(dao)出窗體

 

4.2.8 使(shi)用幫助

此按鈕可以打(da)開(kai)儀器的使(shi)(shi)用幫(bang)助(zhu)文檔(dang)，使(shi)(shi)用幫(bang)助(zhu)文檔(dang)以“*.Pdf”的文件格式存儲在儀器中，當用戶點擊此按鈕后使(shi)(shi)用幫(bang)助(zhu)文檔(dang)會被打(da)開(kai)。

4.3 主工作區(qu)

位于軟件中部的所(suo)有區(qu)域是(shi)軟件的主工(gong)作區(qu)，儀(yi)(yi)器處(chu)于不同試驗狀態時(shi)(shi)主工(gong)作區(qu)的內容(rong)會被切換，例如(ru)(ru)當(dang)儀(yi)(yi)器處(chu)于“等(deng)待新(xin)建(jian)試驗狀態”時(shi)(shi)儀(yi)(yi)器主工(gong)作區(qu)顯示(shi)(shi)試驗選擇(ze)按鈕等(deng)如(ru)(ru)圖4.1. 當(dang)儀(yi)(yi)器處(chu)于“查(cha)(cha)看結(jie)果(guo)”或“查(cha)(cha)看歷史結(jie)果(guo)”時(shi)(shi)，并且選擇(ze)了當(dang)前展示(shi)(shi)模式為勵(li)磁(ci)曲線時(shi)(shi)，儀(yi)(yi)器顯示(shi)(shi)如(ru)(ru)圖4.7所(suo)示(shi)(shi)

 

4.4 儀器運(yun)行狀態信息欄(lan)

儀器狀態信息欄展(zhan)示的信息有：

1）儀器的當前運行(xing)狀態，如(ru)“等待新建試(shi)驗(yan)”，“等待試(shi)驗(yan)”，“查看(kan)結(jie)果”，“查看(kan)歷史(shi)結(jie)果”，“運行(xing)”，&ldquo;等待查看(kan)歷史(shi)結(jie)果”等。

2）除了(le)儀器(qi)的(de)運行狀(zhuang)態(tai)外還有對儀器(qi)內部的(de)工(gong)控機(ji)(ji)與DSP之(zhi)間(jian)通信的(de)標識，如果(guo)DSP與工(gong)控機(ji)(ji)之(zhi)間(jian)通信成功則儀器(qi)在(zai)狀(zhuang)態(tai)信息欄顯示(shi)聯機(ji)(ji)，否則儀器(qi)顯示(shi)為(wei)脫機(ji)(ji)狀(zhuang)態(tai)。

3）當(dang)前(qian)試驗項(xiang)目，其內容為當(dang)前(qian)所選擇的試驗項(xiang)目名(ming)稱，如“CT分析”，&ldquo;比差角差測量”等

4）系(xi)統(tong)(tong)日(ri)期和(he)時間，當儀器處(chu)于聯機非運行狀態時，此欄目會顯示(shi)當前的系(xi)統(tong)(tong)日(ri)期，系(xi)統(tong)(tong)時間和(he)當前面(mian)板處(chu)的環境溫度(du)

5）環境(jing)溫度(du)。儀器每(mei)隔2分鐘會更新一(yi)次環境(jing)溫度(du)測(ce)(ce)量，所(suo)測(ce)(ce)得的環境(jing)溫度(du)將(jiang)會被(bei)用(yong)于計算75攝氏度(du)的參考線圈電阻

4.5 試驗(yan)控制欄(lan)

試(shi)(shi)驗(yan)控制(zhi)(zhi)欄里具有“試(shi)(shi)驗(yan)參(can)數(shu)設(she)置”和(he)“開(kai)始試(shi)(shi)驗(yan)”按(an)鈕，當儀器(qi)處于等待(dai)試(shi)(shi)驗(yan)狀(zhuang)態時點擊“試(shi)(shi)驗(yan)參(can)數(shu)設(she)置”按(an)鈕，儀器(qi)將(jiang)會顯示對應(ying)的(de)試(shi)(shi)驗(yan)參(can)數(shu)設(she)置窗體(ti)，在(zai)這(zhe)些窗體(ti)中用戶可以設(she)置當前(qian)試(shi)(shi)驗(yan)的(de)控制(zhi)(zhi)參(can)數(shu)。

“開(kai)始(shi)試驗(yan)”按鈕(niu)用于(yu)啟動(dong)(dong)和停止當前的(de)試驗(yan)，當用戶從“等待試驗(yan)”或“查看結(jie)果(guo)”狀(zhuang)(zhuang)態點擊(ji)“開(kai)始(shi)試驗(yan)”按鈕(niu)后，儀器(qi)進入“運行”狀(zhuang)(zhuang)態，對應(ying)的(de)試驗(yan)會被啟動(dong)(dong)，該(gai)按鈕(niu)的(de)標識變成“停止試驗(yan)”，再(zai)次點擊(ji)該(gai)按鈕(niu)或試驗(yan)自動(dong)(dong)完成后，儀器(qi)進入“查看結(jie)果(guo)”狀(zhuang)(zhuang)態，對應(ying)的(de)結(jie)果(guo)參數被自動(dong)(dong)計算并展(zhan)示。

注(zhu)意：當儀(yi)器處于(yu)“查看歷史結(jie)果(guo)”時，如果(guo)需要運行試(shi)驗(yan)(yan)必須首先點擊新建試(shi)驗(yan)(yan)，讓儀(yi)器進入(ru)到(dao)“等(deng)待試(shi)驗(yan)(yan)界(jie)面”，然后按照(zhao)“等(deng)待新建試(shi)驗(yan)(yan)”->“等(deng)待試(shi)驗(yan)(yan)”->“運行”->&ldquo;查看結(jie)果(guo)”的(de)流程(cheng)完成試(shi)驗(yan)(yan)項目。

4.6 儀器的啟動與關(guan)閉

打開儀(yi)器面板的電源后，儀(yi)器的軟件系統被(bei)自(zi)動加載，儀(yi)器進入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)”狀態，開機過程完(wan)成。

如果要(yao)關閉(bi)儀器(qi)，請(qing)首先(xian)通過軟件界面的“關閉(bi)系統”按(an)鈕關閉(bi)儀器(qi)。等待儀器(qi)顯示(shi)屏上提示(shi)“It is safe to shutdown now”時(shi)再切斷儀器(qi)的電(dian)源(yuan)。

注意：緊急情況時(shi)，請直接(jie)切斷儀器(qi)的供電(dian)(dian)電(dian)(dian)源

第五章 LYFA3300試驗操作

5.1 試驗運行的一般流程(cheng)

如第四章中的(de)(de)描述儀(yi)器(qi)的(de)(de)軟件運行可以分為“等待(dai)新(xin)建試(shi)(shi)驗”，“等待(dai)試(shi)(shi)驗”，“查看(kan)結(jie)果(guo)”，“運行”，“查看(kan)歷(li)史(shi)結(jie)果(guo)”和“等待(dai)查看(kan)歷(li)史(shi)結(jie)果(guo)”6種(zhong)狀態(tai)。軟件運行的(de)(de)幾種(zhong)常見的(de)(de)流程(cheng)如下：

1） 儀器開機以后進入“等待新(xin)建試驗”

“等待新建試驗”->&ldquo;等待試驗”->“運行&rdquo;->“查看結果”

此(ci)(ci)流程的描述為儀器(qi)首(shou)先進入“等待新(xin)建試(shi)驗(yan)”狀(zhuang)態(tai)，用戶在此(ci)(ci)狀(zhuang)態(tai)選(xuan)擇要(yao)進行(xing)的試(shi)驗(yan)，如CT分析，然(ran)后(hou)設置CT分析試(shi)驗(yan)的各(ge)個(ge)參數，儀器(qi)轉而進入“等待試(shi)驗(yan)”狀(zhuang)態(tai)，用戶再點擊“開始試(shi)驗(yan)按鈕”，試(shi)驗(yan)被(bei)啟動，等待試(shi)驗(yan)完(wan)成后(hou)自動停止，儀器(qi)自動計算各(ge)個(ge)參數，并進入“查看結果”狀(zhuang)態(tai)。

2）從(cong)“查(cha)看結果”狀態開始(shi)另一項試驗

“查看結(jie)果(guo)&rdquo;->&ldquo;等(deng)(deng)待新建(jian)試驗”->“等(deng)(deng)待試驗”->“運行”->“查看結(jie)果(guo)”

儀器(qi)在(zai)完成一項試(shi)(shi)驗后需(xu)要進行另外一個試(shi)(shi)驗項目，則此流按(an)照此流程(cheng)進行。在(zai)“查看結果”狀態(tai)(tai)點擊“新建試(shi)(shi)驗”按(an)鈕，儀器(qi)進入(ru)“等待(dai)新建試(shi)(shi)驗狀態(tai)(tai)”，后面(mian)的(de)過程(cheng)同(tong)第1項描述*

重復當前的試驗

“查看結果(guo)”->“運行(xing)”->“查看結果(guo)”

完成一(yi)項(xiang)試驗后，以(yi)相同(tong)的參數重復這一(yi)試驗項(xiang)目，則在“查看結(jie)果”狀態直接點擊“開始試驗”按鈕即可。

5.2 CT分析

5.2.1 CT分析(xi)試驗參數設(she)置(zhi)

CT分析(xi)(xi)試(shi)驗(yan)項(xiang)目的(de)參(can)數(shu)設(she)置(zhi)(zhi)界面如圖5.1所示。CT分析(xi)(xi)試(shi)驗(yan)和比差(cha)角差(cha)試(shi)驗(yan)的(de)參(can)數(shu)設(she)置(zhi)(zhi)界面是*的(de)，比差(cha)角差(cha)試(shi)驗(yan)所有需設(she)置(zhi)(zhi)的(de)參(can)數(shu)項(xiang)目在CT分析(xi)(xi)中也(ye)需要設(she)置(zhi)(zhi)。

CT分(fen)(fen)(fen)析的(de)(de)參數(shu)(shu)設(she)置分(fen)(fen)(fen)為2部分(fen)(fen)(fen)：與(yu)互(hu)感器(qi)等(deng)級(ji)(ji)相關的(de)(de)參數(shu)(shu)和(he)與(yu)互(hu)感器(qi)等(deng)級(ji)(ji)無關的(de)(de)參數(shu)(shu)。其中(zhong)表5.1描述了與(yu)互(hu)感器(qi)等(deng)級(ji)(ji)無關的(de)(de)各參數(shu)(shu)。表5.2至(zhi)表5.8所列出的(de)(de)試驗參數(shu)(shu)，是(shi)針對于不同等(deng)級(ji)(ji)的(de)(de)互(hu)感器(qi)需要額外配置的(de)(de)參數(shu)(shu)。

注意(yi)：當互感器的飽和(he)電壓大于(yu)8KV時，請在系(xi)統參數設置(zhi)界(jie)面(mian)選擇人工設定勵磁試驗(yan)飽和(he)電壓，詳情見系(xi)統參數設置(zhi)

5.2.2 CT分析(xi)試驗流程

進行CT分(fen)析試驗(yan)時，用(yong)戶需(xu)要按照如下步驟進行：

1)在遵循安全規(gui)則的(de)前提(ti)下，按照CT分(fen)析的(de)接線圖(tu)，完成儀器和互(hu)感器的(de)連接

2)在軟件上選擇“CT分析”試驗項目

3)完成互感(gan)器的(de)各種試(shi)驗參(can)數設置

4)啟動(dong)試(shi)驗(yan)，等待試(shi)驗(yan)完成

5)查看(kan)結果

注意：對于飽和電壓很高的(de)(de)互感器，儀(yi)器將會以很低的(de)(de)頻率(lv)檢測互感器的(de)(de)勵磁特性（可能(neng)低至0.25Hz），因此此時(shi)完成(cheng)整(zheng)個(ge)試(shi)驗所需的(de)(de)時(shi)間可能(neng)較(jiao)長(chang)（長(chang)會達到半個(ge)小時(shi)），請(qing)耐(nai)心等待。嚴禁在(zai)試(shi)驗過程中斷開測試(shi)線的(de)(de)連接

在(zai)執行CT分析試(shi)驗時，儀(yi)器會(hui)按照(zhao)如(ru)下過程完成整個試(shi)驗：

線圈電阻檢測(ce)->一(yi)次(ci)消(xiao)磁->二(er)次(ci)消(xiao)磁->精細調壓測(ce)量比差角(jiao)差->粗調測(ce)量比差角(jiao)差->測(ce)量互感器勵(li)磁曲線

1)如果用戶選(xuan)擇(ze)的(de)工(gong)作模(mo)式是非(fei)自動(dong)獲(huo)取飽(bao)和電壓則(ze)一次消磁過(guo)程(cheng)將被跳(tiao)過(guo)

2)如果互感器(qi)的飽和電壓較低，則(ze)粗(cu)調測量比差(cha)角差(cha)的流程將被跳過

在試(shi)驗過程中，左下角會提示當(dang)前儀器(qi)的功率輸出和試(shi)驗運行狀態。

在參(can)數設(she)置界(jie)面，如果選(xuan)擇“快速試(shi)驗(yan)”，儀器(qi)的記錄點數較(jiao)少且(qie)升壓過程(cheng)中電壓步進值較(jiao)大，因此(ci)對(dui)于剩磁(ci)系(xi)數高，且(qie)飽(bao)和電壓低(di)（<250V）的互感器(qi)勵磁(ci)曲線會出現(xian)不平滑現(xian)象，此(ci)時因選(xuan)擇標準試(shi)驗(yan)。

選擇標準試(shi)驗(yan)時(shi)(shi)儀器記(ji)錄的數據(ju)點(dian)多，勵(li)磁曲線以及計算(suan)參數更，但是(shi)選擇標準試(shi)驗(yan)時(shi)(shi)，試(shi)驗(yan)時(shi)(shi)長是(shi)快速試(shi)驗(yan)的2倍以上。

圖5.1 CT分析試(shi)驗參數設置

參數名(ming)稱(cheng)	參(can)數說(shuo)明
是(shi)否(fou)推測(ce)銘牌信息	用于CT分(fen)析(xi)和變比試驗項目控制，如果選擇為(wei)輸入已知銘牌(pai)，則(ze)儀器不會自動推測銘牌(pai)信(xin)息(xi)，如果選擇為(wei)自動猜測銘牌(pai)則(ze)儀器會根(gen)據缺損的(de)信(xin)息(xi)自動推測“額定(ding)一(yi)次(ci)電流(liu)”，“額定(ding)二(er)次(ci)電流(liu)”和“互感器等級”
生產廠家	此項目僅(jin)用于(yu)生成WORD試(shi)驗(yan)報告時對(dui)互感器進行標(biao)識，與試(shi)驗(yan)流程無(wu)關
互感器型號	此項(xiang)目僅用于生成(cheng)WORD試驗報告(gao)時(shi)對互感器進行標(biao)識，與試驗流程無關(guan)
互感器(qi)編號	此項目僅用于生成WORD試(shi)驗報告時對互感器進行標識(shi)和保存(cun)試(shi)驗時組成保存(cun)的文件名稱，與試(shi)驗流程無關
額定(ding)一次電流	設(she)置互感器(qi)的額定(ding)一(yi)(yi)次電流(liu)值(zhi)，如果(guo)選擇了自動推測銘牌(pai)且(qie)額定(ding)一(yi)(yi)次電流(liu)設(she)為(wei)未知，儀器(qi)將自動猜(cai)測額定(ding)一(yi)(yi)次電流(liu)值(zhi)
額定二(er)次電(dian)流	設置(zhi)互感(gan)器的額(e)定二(er)次電(dian)流(liu)值，如(ru)果選(xuan)擇了(le)自(zi)動(dong)(dong)推測銘牌(pai)且(qie)額(e)定二(er)次電(dian)流(liu)設為未知(zhi)，儀(yi)器將自(zi)動(dong)(dong)猜測額(e)定二(er)次電(dian)流(liu)值
額定頻率(lv)	額定(ding)頻(pin)(pin)率(lv)選(xuan)(xuan)項(xiang)用于比差(cha)角差(cha)測(ce)(ce)量試(shi)驗項(xiang)目的控制，如果(guo)選(xuan)(xuan)擇了50Hz，儀器將以50Hz的頻(pin)(pin)率(lv)測(ce)(ce)量互感器的比差(cha)角差(cha)，如果(guo)選(xuan)(xuan)擇60Hz則儀器以60Hz頻(pin)(pin)率(lv)測(ce)(ce)量互感器的比差(cha)和角差(cha)
誤差曲線計(ji)算點	對于IEC60044-1的保護類(lei)型互感器(qi)，儀器(qi)將計算此(ci)點處的誤差曲線
測(ce)試標(biao)準選擇	選擇(ze)不(bu)同(tong)的(de)測試(shi)標準，儀(yi)器(qi)將獲得不(bu)同(tong)的(de)測試(shi)結果(guo)參數，對于(yu)相同(tong)的(de)結果(guo)參數其定義(yi)也(ye)可能(neng)不(bu)一樣，例如拐點電壓和拐點電流
互感器等級	在選(xuan)擇了測(ce)試(shi)標準后(hou)，選(xuan)擇互感器在此標準下(xia)的等級定(ding)義。
二次負荷	CT分析和(he)比差(cha)角差(cha)試驗的計(ji)算參數(shu)(shu)與所接負荷有(you)關，所以不同的負荷值會得到(dao)不同的測(ce)試參數(shu)(shu)，因此儀(yi)器的計(ji)算結果會給出互感器的額定負荷條件和(he)操作(zuo)負荷條件下的兩種結果。 額(e)定負荷(he)：是指互感器(qi)銘牌上所(suo)標識的大允許(xu)負荷(he)值 操作負荷：是互感器當前所接負荷的實(shi)測值 負(fu)荷范圍：0~100.00，功率(lv)因數范圍：0~1.00
75攝氏度線圈電阻	銘(ming)牌上所(suo)標(biao)識的互感器(qi)在75攝氏(shi)度時(shi)線(xian)圈電阻值，電阻范圍0~100.000

圖5.2 IEC60044-1/GB1208計量(liang)類電流互感器的參數定義

名(ming)稱	參數說明
儀器保安(an)系數FS	的(de)儀器保護系(xi)數(shu)，此(ci)參數(shu)影響自動評估的(de)結果，參數(shu)范圍1~300
擴展電(dian)流(liu)計算點Ext	需要(yao)額(e)外(wai)計算(suan)比差角差的電流點，此計算(suan)結果在(zai)比差角差試驗結果中展示，參數(shu)范圍0%~400%

圖(tu)5.3 IEC60044-1/GB1208 ;的5P/10P/5PR/10PR類電流互感器的參數定義

名稱(cheng)	參數說明(ming)
準確限(xian)值系數ALF	的準確限值系(xi)數(shu)，此參數(shu)影響(xiang)自動評(ping)估的結果(guo)，參數(shu)范圍：1~300
大短(duan)路電流(liu)	互感(gan)器(qi)一次側(ce)所在回(hui)路可(ke)能發(fa)生(sheng)的大(da)短(duan)路電流

圖5.4 IEC60044-1/GB1208 的PX類電流互感器的參數(shu)定義

名稱(cheng)	參數說明
準確限值系數ALF	的準確限值系(xi)數(shu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動評估的結果，參(can)數(shu)范(fan)圍：1~300
面積系數(shu)	的面積增大系(xi)數(shu)，此參(can)數(shu)影響自動評估(gu)的結果，參(can)數(shu)范(fan)圍：1~300
準確限制電壓	銘牌標識的(de)準(zhun)確限(xian)制電(dian)壓，此參(can)數影響(xiang)自動評(ping)估(gu)結果，參(can)數范(fan)圍0~10000.00
準(zhun)確限制電流	準確限制電流，此參數影響自動(dong)評(ping)估結果，參數范圍(wei)0~9.9999A

圖(tu)5.5 IEC60044-6 TPS互(hu)感器參數設置

名稱	參數(shu)說(shuo)明
對稱短路電流系數Kssc	的對稱短路電流系數Kssc，此參(can)數影(ying)響結(jie)果參(can)數計算(suan)和自(zi)動(dong)評估結(jie)果，參(can)數范圍：1~300
暫(zan)態面(mian)積系數Ktd	的暫態面積(ji)系數(shu)Ktd，此參數(shu)影響結(jie)果參數(shu)計算和自動評估結(jie)果，參數(shu)范圍：1~300
一次時(shi)間(jian)常數Tp	的一次時間常數(shu)，此參數(shu)影響結果(guo)參數(shu)計算和自動評(ping)估結果(guo)，參數(shu)范圍：0~10000ms
準確限制電壓Val	銘(ming)牌標識的(de)準確限制電壓，此參數(shu)(shu)影響結果參數(shu)(shu)計(ji)算和(he)自動(dong)評估結果，參數(shu)(shu)范圍：0~10000V
準確限(xian)制(zhi)電流Ial	銘牌(pai)標識的(de)準確限制電流，此參數影響結果(guo)參數計算和自動評估結果(guo)，參數范圍：0~9.9999A

圖5.6 IEC60044-6 TPX/TPY互感器參數設置(zhi)

名稱	參數說明
對稱短路電流系(xi)數Kssc	的對稱短路電(dian)流系數(shu)(shu)Kssc，此參(can)數(shu)(shu)影響結果參(can)數(shu)(shu)計算和自動(dong)評(ping)估結果，參(can)數(shu)(shu)范圍(wei)：1~300
暫態面(mian)積系數 Ktd	的暫態面積系數(shu)(shu)(shu)Ktd，此參(can)數(shu)(shu)(shu)影響結果參(can)數(shu)(shu)(shu)計算和自動(dong)評估結果，參(can)數(shu)(shu)(shu)范圍：1~300
一次時間常(chang)數(shu) Tp	的一次(ci)時(shi)間常(chang)數，此(ci)參數影響結果參數計算和自動評估(gu)結果，參數范圍：0~10000ms
二次(ci)時間常數Ts	的(de)(de)二次時(shi)間常(chang)數，此參數影響自(zi)動評估的(de)(de)結(jie)果，參數范圍：0~100000ms
工(gong)作循環選擇	選擇工(gong)作循(xun)環C-O或(huo)C-O-C-O，此參數影響結果(guo)參數計(ji)算和自動評估結果(guo)
*次電流時限 t1	的準確限值在t-al1 時間內(nei)不能達到，范(fan)圍：0～10000ms，此參數影(ying)響結果參數計(ji)算(suan)和自(zi)動評估結果
第二次電流時限 t2	的準確限值(zhi)在t-al2 時間(jian)內(nei)不(bu)能達到，范(fan)圍：0～10000ms，此參(can)數影響結(jie)果參(can)數計算和自動評(ping)估結(jie)果
*次(ci)工(gong)作(zuo)循環的準(zhun)確限值的允許時間 t-al1	范圍：0～10000ms，此參數影響結果參數計算和(he)自動評估(gu)結果
第二(er)次工作(zuo)循環的準確(que)限值的允許(xu)時(shi)間t-al2	范(fan)圍：0～5000ms，此參(can)數影響結(jie)果參(can)數計算(suan)和自動評估結(jie)果
*次打開和重合閘(zha)的延時 tfr	范(fan)圍：0～5000ms，此參數影響結果參數計(ji)算和自(zi)動評估結果

圖5.7 IEC60044-6 TPZ互(hu)感(gan)器(qi)參數設(she)置

名稱(cheng)	參數說明
對稱短路電(dian)流系數Kssc	的對稱短路(lu)電流系數(shu)(shu)Kssc，此參(can)(can)數(shu)(shu)影(ying)響(xiang)結(jie)果(guo)參(can)(can)數(shu)(shu)計算和自(zi)動評估結(jie)果(guo)，參(can)(can)數(shu)(shu)范圍：1~300
暫態面積系(xi)數(shu) Ktd	的暫態面積系數(shu)Ktd，此參(can)(can)數(shu)影響結(jie)果(guo)參(can)(can)數(shu)計算和自(zi)動評估結(jie)果(guo)，參(can)(can)數(shu)范圍：1~300
一次(ci)時間(jian)常(chang)數 Tp	的(de)一次時間常數(shu)，此參數(shu)影響結果(guo)參數(shu)計算和自(zi)動評估結果(guo)，參數(shu)范(fan)圍(wei)：0~10000ms
二次時間常數Ts	的二次(ci)時間常數(shu)，此參(can)數(shu)影響自動評估(gu)的結果，參(can)數(shu)范圍：0~100000ms

圖(tu)5.8 C57.13 互感器參數設置

名(ming)稱	參數說明
額定熱電(dian)流系數RF	銘牌標識的(de)額定(ding)二(er)次熱電(dian)流系數(shu)(shu)，如果(guo)此參(can)數(shu)(shu)不為(wei)0，將計(ji)算(suan)額定(ding)電(dian)流乘以此系數(shu)(shu)后(hou)所得測(ce)量點的(de)比(bi)差和角(jiao)差，此參(can)數(shu)(shu)影(ying)響結果(guo)計(ji)算(suan)和自(zi)動(dong)評估(gu)。參(can)數(shu)(shu)范圍：0~10.00
額定二(er)次端電壓(ya)VB	銘牌標(biao)識(shi)的額定二次端(duan)電壓，此參數(shu)影響參數(shu)計算和自動評估結(jie)果(guo)。參數(shu)范圍(wei)：0~10000.0V

5.2.3 CT分析試(shi)試(shi)驗結(jie)果(guo)

當(dang)CT分(fen)析試驗(yan)完成后(hou)圖4.7所(suo)示的勵磁(ci)曲線(xian)將會被首先顯示，通過圖中(zhong)的試驗(yan)結果(guo)項(xiang)目(mu)切換按鈕(niu)，可以更換當(dang)前的試驗(yan)結果(guo)內容，各個(ge)按鈕(niu)的說明如下：

1 磁滯(zhi)回線與數據(ju)

點(dian)擊(ji)(ji)磁(ci)(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回線(xian)(xian)(xian)按鈕后，被(bei)測(ce)互感器鐵芯(xin)的(de)(de)(de)飽和磁(ci)(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回線(xian)(xian)(xian)將會顯示在屏幕上(shang)如圖5.2.1所(suo)示，該曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)為被(bei)測(ce)互感器在某測(ce)試(shi)頻率(lv)下(xia)所(suo)獲得的(de)(de)(de)飽和磁(ci)(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回路曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)，測(ce)試(shi)頻率(lv)顯示在界面的(de)(de)(de)左(zuo)側，曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)橫(heng)軸為瞬時電流(liu)(liu)，縱軸為該電流(liu)(liu)下(xia)對應的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)通(tong)量（單位是韋(wei)伯），磁(ci)(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回線(xian)(xian)(xian)由上(shang)升(sheng)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)和下(xia)降(jiang)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)組成，點(dian)擊(ji)(ji)“啟動數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)分析”可(ke)以獲取曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)上(shang)某一(yi)電流(liu)(liu)點(dian)對應的(de)(de)(de)上(shang)升(sheng)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)和下(xia)降(jiang)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)(xian)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)，點(dian)擊(ji)(ji)磁(ci)(ci)(ci)滯(zhi)(zhi)回線(xian)(xian)(xian)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)可(ke)以查看所(suo)有(you)測(ce)量點(dian)的(de)(de)(de)電流(liu)(liu)值(zhi)和磁(ci)(ci)(ci)通(tong)量數(shu)(shu)(shu)值(zhi)

2 磁化曲線數據

點(dian)擊磁(ci)化(hua)(hua)(hua)曲(qu)(qu)線數據后，圖5.2所示的(de)(de)界(jie)面將(jiang)會被(bei)加載。磁(ci)化(hua)(hua)(hua)曲(qu)(qu)線所對應的(de)(de)磁(ci)化(hua)(hua)(hua)數據點(dian)將(jiang)在本窗體中(zhong)展現，拖動列(lie)表(biao)框的(de)(de)滑(hua)動條或按鍵盤的(de)(de)方向鍵，可以(yi)瀏覽所有的(de)(de)磁(ci)化(hua)(hua)(hua)曲(qu)(qu)線數據。在界(jie)面的(de)(de)下方是自(zi)動計算(suan)得到的(de)(de)磁(ci)化(hua)(hua)(hua)曲(qu)(qu)線的(de)(de)拐(guai)點(dian)電(dian)(dian)壓(ya)和拐(guai)點(dian)電(dian)(dian)流(liu)(liu)。磁(ci)化(hua)(hua)(hua)曲(qu)(qu)線數顯示界(jie)面還(huan)支持勵(li)磁(ci)電(dian)(dian)流(liu)(liu)查詢功能，只(zhi)要輸入不超過大勵(li)磁(ci)電(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)一個數值(zhi)在勵(li)磁(ci)電(dian)(dian)壓(ya)文本框中(zhong)，分析儀自(zi)動計算(suan)并顯示其對應的(de)(de)勵(li)磁(ci)電(dian)(dian)流(liu)(liu)值(zhi)。

3 磁化曲線

磁(ci)化(hua)曲(qu)線(xian)的界面如圖4.7所(suo)示(shi)，展示(shi)的內容(rong)包括，自(zi)動計算的拐點電壓，拐點電流，磁(ci)化(hua)曲(qu)線(xian)圖，通過“拐點顯(xian)示(shi)”復(fu)選(xuan)框，可以顯(xian)示(shi)和(he)隱(yin)藏拐點在磁(ci)化(hua)曲(qu)線(xian)上(shang)的位置。

在磁(ci)(ci)化曲線(xian)(xian)展示(shi)界面選(xuan)擇“啟動(dong)數據(ju)(ju)分析(xi)”后，可以通(tong)過定位(wei)線(xian)(xian)獲取當前(qian)位(wei)置對應的(de)磁(ci)(ci)化電流和磁(ci)(ci)化電壓值，通(tong)過“<<左移(yi)(yi)”，“>>右移(yi)(yi)”和“鼠標(biao)點(dian)(dian)擊”可以改變定位(wei)線(xian)(xian)的(de)位(wei)置。“鼠標(biao)點(dian)(dian)擊”是指在“啟動(dong)數據(ju)(ju)分析(xi)”后通(tong)過鼠標(biao)或者(zhe)觸摸屏點(dian)(dian)擊磁(ci)(ci)化曲線(xian)(xian)展示(shi)區域，則(ze)定位(wei)線(xian)(xian)會(hui)移(yi)(yi)動(dong)至點(dian)(dian)擊處(chu)的(de)X坐標(biao)。

點擊曲(qu)(qu)線(xian)(xian)對(dui)比，還可以實現當前曲(qu)(qu)線(xian)(xian)和存儲的歷(li)史曲(qu)(qu)線(xian)(xian)對(dui)比，顯示界(jie)面(mian)如(ru)圖5.3所示。曲(qu)(qu)線(xian)(xian)比較功(gong)能可以用來(lai)對(dui)同一(yi)互感器不(bu)同時期的測量曲(qu)(qu)線(xian)(xian)進行對(dui)比，也可以用來(lai)對(dui)三相互感器的勵磁特性(xing)曲(qu)(qu)線(xian)(xian)進行對(dui)比。曲(qu)(qu)線(xian)(xian)對(dui)比窗口(kou)各按鈕的定義如(ru)下(xia)：

讀取(qu)參考(kao)曲線1

從(cong)存儲(chu)的歷史數據(ju)中讀取1條(tiao)參考勵磁曲(qu)線與當(dang)前曲(qu)線進行對比

讀(du)取參考(kao)曲(qu)線(xian)2

從存儲的歷(li)史數(shu)據中讀取1條參考勵(li)磁(ci)曲線與當(dang)前(qian)曲線進(jin)行對比

清除參考曲線

清除(chu)當(dang)前對比窗口(kou)中所有的參考曲線

復制圖像

將當(dang)前對比曲線圖形(xing)窗口復制成(cheng)為JPG文件并(bing)保存，保存的(de)Jpg文件可以通過U盤導出

退出

關閉曲(qu)線(xian)對比窗口

X坐(zuo)標設置

調整曲線對比(bi)圖形窗口的X坐(zuo)標范圍(wei)，此參(can)數可以改變圖形的X軸(zhou)縮放(fang)比(bi)例(li)

Y坐標設(she)置

調整曲線對比圖形窗口(kou)的Y坐標(biao)范(fan)圍，此參數可以改變圖形的Y軸縮放比例

數據分(fen)析

點擊(ji)啟動數(shu)據分析后，示(shi)波(bo)窗口中(zhong)會出(chu)現1條定位(wei)(wei)線，通(tong)過(guo)定位(wei)(wei)線的移動可以讀取對應X軸位(wei)(wei)置的Y坐標值。可以通(tong)過(guo)“左(zuo)移”，“右移”或者鼠標點擊(ji)改變定位(wei)(wei)線的位(wei)(wei)置

 

4 誤(wu)差曲線(xian)數據與誤(wu)差曲線(xian)

當選擇(ze)互感(gan)(gan)器是IEC60044-1的(de)(de)保(bao)護類型時，CT分析試(shi)驗還(huan)會繪制互感(gan)(gan)器的(de)(de)誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)，并列出誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)數據(ju)，誤差(cha)展示方式(shi)如(ru)圖(tu)5.4. 誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)數據(ju)展示如(ru)圖(tu)5.2，但是展示誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)數據(ju)時沒有拐(guai)(guai)點電壓和(he)拐(guai)(guai)點電流(liu)項目顯示，誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)窗口中的(de)(de)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)對比(bi)功(gong)能和(he)磁(ci)化曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)窗口中的(de)(de)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)對比(bi)功(gong)能*，詳細說(shuo)明見磁(ci)化曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)的(de)(de)曲(qu)(qu)(qu)(qu)線(xian)對比(bi)說(shuo)明。

5 比(bi)差角差試驗結果

在CT分析試(shi)驗(yan)完成后，互感器的(de)比(bi)(bi)(bi)差(cha)(cha)，角(jiao)(jiao)差(cha)(cha)，匝數(shu)比(bi)(bi)(bi)，匝數(shu)比(bi)(bi)(bi)誤差(cha)(cha)，極性也會被顯示，點擊“比(bi)(bi)(bi)差(cha)(cha)與角(jiao)(jiao)差(cha)(cha)”，則比(bi)(bi)(bi)差(cha)(cha)與角(jiao)(jiao)差(cha)(cha)的(de)試(shi)驗(yan)結果(guo)顯示如(ru)圖5.5所示。

比差(cha)角差(cha)結(jie)果展示界(jie)面中，各參數定(ding)義如表5.9所(suo)示。

表5.9 CT分析試驗比(bi)差(cha)與(yu)角差(cha)展示

參數	參(can)數說明
額定一次電(dian)流	啟動試驗(yan)前所設(she)置(zhi)的互感器參數，用于匝數比誤差計算
額定二次電流(liu)	啟動試驗前所(suo)設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用于匝數(shu)比誤差(cha)計算
標準	啟動試驗(yan)前所(suo)設(she)置的互感(gan)器(qi)參數(shu)，比差(cha)角差(cha)檢測(ce)是按照此標準(zhun)進行的
頻(pin)率(lv)	啟(qi)動試驗前所設(she)置的互感器參數，比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)結(jie)果在此(ci)頻率下(xia)檢測得到(dao)
匝(za)數比	實測的互感器(qi)匝數(shu)比
匝數比誤差	實測的(de)匝(za)數比(bi)與(yu)額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)比(bi)之間(jian)的(de)誤差(cha)，計算公式為(wei)：（實測匝(za)數比(bi)-額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)比(bi)）/額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)比(bi)。其(qi)中額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)比(bi)為(wei)：（額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)一次電(dian)(dian)流(liu)/額(e)定(ding)(ding)(ding)(ding)二次電(dian)(dian)流(liu)）
極(ji)性	實測的電(dian)流互感器當前接線極性，顯(xian)示為(wei)同極性（即-極性）或反極性（即+極性）
額定負荷	啟動試驗前所設置的互(hu)感器(qi)參(can)數，用(yong)于(yu)比差角差計算
額定功率因數	啟動(dong)試驗前所設(she)置的互感器參(can)數，用(yong)于比差(cha)角(jiao)差(cha)計算
額定負荷(he)比差角(jiao)差	當互(hu)感器連接(jie)負荷(he)為額定負荷(he)時的比差(cha)和(he)角度差(cha)數據(ju)
操作負荷	啟動(dong)試驗前所(suo)設(she)置的(de)互感器參數，用于(yu)比差角差計算
操作功率因(yin)數	啟動試驗前所設(she)置的互(hu)感器參數(shu)，用于比差(cha)角差(cha)計算
操作負荷比差角(jiao)差	當互(hu)感器(qi)連接負荷為操作負荷時的比(bi)差和角度差數據

6 線圈電(dian)阻(zu)

CT分析試驗完成后，點擊(ji)線(xian)圈(quan)(quan)電(dian)阻(zu)按鈕則圖(tu)5.6所示的線(xian)圈(quan)(quan)電(dian)阻(zu)實測參數窗(chuang)體(ti)會(hui)被加載。

7 誤差曲線(xian)數據與誤差曲線(xian)

當選擇互感器是IEC60044-1的保(bao)護類(lei)型時(shi)，CT分析試驗(yan)還會(hui)繪(hui)制互感器的誤(wu)差(cha)(cha)(cha)曲線(xian)(xian)，并(bing)列出誤(wu)差(cha)(cha)(cha)曲線(xian)(xian)數據(ju)(ju)，誤(wu)差(cha)(cha)(cha)曲線(xian)(xian)展(zhan)示方式如圖(tu)5.4. 誤(wu)差(cha)(cha)(cha)曲線(xian)(xian)數據(ju)(ju)展(zhan)示如圖(tu)5.2，但是展(zhan)示誤(wu)差(cha)(cha)(cha)曲線(xian)(xian)數據(ju)(ju)時(shi)沒有拐點電壓(ya)和拐點電流項目顯示。

8 比差角差試驗結果(guo)

在CT分析試(shi)驗完(wan)成后(hou)，互感器的(de)比差(cha)，角(jiao)差(cha)，匝數比，匝數比誤(wu)差(cha)，極性也(ye)會被(bei)顯(xian)示(shi)，點擊“比差(cha)與角(jiao)差(cha)”，則比差(cha)與角(jiao)差(cha)的(de)試(shi)驗結(jie)果顯(xian)示(shi)如圖5.5所示(shi)。

在線圈電阻實(shi)測(ce)參數展(zhan)示界面中(zhong)各(ge)個項目的定(ding)義如表5.10所(suo)示。

圖5.10 線圈電(dian)阻界(jie)面參(can)數說明(ming)

名稱(cheng)	參數說明
測(ce)試電流	測試(shi)時加載到(dao)二次繞組上的(de)實際(ji)電(dian)流值
測(ce)試(shi)溫度	測試時的實際環境溫度值
測(ce)試電壓	測試(shi)時二次繞組上所檢測到的電壓值
線圈電阻	當前環境溫度所(suo)檢測到的線圈電阻值
參考溫(wen)度	按照標準需(xu)要換算到的溫度
線(xian)圈電阻	按照公式所換(huan)算(suan)得到的(de)線圈電(dian)阻值，其中(zhong)Kcopper使用的(de)是銅材料的(de)電(dian)阻溫度系(xi)數

9 勵(li)磁(ci)參(can)數(shu)與測試評估

在CT分析試驗結果(guo)展示界面中點擊(ji)“勵(li)(li)(li)磁參(can)數(shu)(shu)與測(ce)試評估(gu)”結果(guo)按鈕，則根據(ju)勵(li)(li)(li)磁特性所測(ce)量得到的(de)勵(li)(li)(li)磁參(can)數(shu)(shu)和自(zi)動評估(gu)結果(guo)將會以圖5.7的(de)形式展示。勵(li)(li)(li)磁參(can)數(shu)(shu)計(ji)算項目根據(ju)所選互感器等級不(bu)同(tong)而不(bu)同(tong)，詳細的(de)參(can)數(shu)(shu)說明參(can)見第6章自(zi)動評估(gu)與銘牌推(tui)測(ce)。

圖5.7界(jie)面的(de)(de)下方是自(zi)動評(ping)(ping)估結果(guo)，自(zi)動評(ping)(ping)估結果(guo)包(bao)括單項(xiang)(xiang)評(ping)(ping)估項(xiang)(xiang)目，評(ping)(ping)估標準和終評(ping)(ping)估結果(guo)。如(ru)果(guo)單項(xiang)(xiang)評(ping)(ping)估通(tong)過則列表的(de)(de)后(hou)一列顯(xian)(xian)示合格，否則顯(xian)(xian)示不(bu)合格并且該(gai)項(xiang)(xiang)的(de)(de)顏(yan)色會(hui)變成紅色。詳細(xi)的(de)(de)評(ping)(ping)估說明和評(ping)(ping)估條件請參見“第6章自(zi)動評(ping)(ping)估與(yu)銘(ming)牌推測”。

5.3 CT比差角(jiao)差測量

5.3.1 比差角差測(ce)量試驗參數設置

比差(cha)角差(cha)測量試驗的參數設(she)(she)置界(jie)面與(yu)CT分析參數設(she)(she)置界(jie)面和設(she)(she)置項目*，詳(xiang)情請參見5.2.1CT分析參數設(she)(she)置章節

5.3.2比(bi)差角差試驗流程

進行比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)測(ce)量試驗時，試驗的步(bu)驟與CT分析(xi)(xi)*，詳情請參照5.2.2CT分析(xi)(xi)試驗流程章節。CT比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)測(ce)量時典型的試驗流程如下(xia)“

線圈電阻檢(jian)測->一次消(xiao)磁(ci)->二次消(xiao)磁(ci)->精細調壓測量比差(cha)(cha)角(jiao)差(cha)(cha)->粗調測量比差(cha)(cha)角(jiao)差(cha)(cha)

1）如果用戶選擇的(de)工(gong)作模(mo)式(shi)是非自動獲取飽(bao)和電(dian)壓則一(yi)次消磁過程將被(bei)跳過

2）如果互感器的(de)飽和電壓(ya)較低，則粗調測量比差(cha)角(jiao)差(cha)的(de)流程將被跳(tiao)過

在試驗過程中，左下(xia)角會(hui)提示(shi)當前儀(yi)器的(de)功率(lv)輸(shu)出(chu)和(he)試驗運(yun)行(xing)狀(zhuang)態(tai)。

5.3.3 比差(cha)角差(cha)試驗結果(guo)展示

比差(cha)角(jiao)差(cha)試驗結(jie)果(guo)展(zhan)(zhan)示(shi)與(yu)CT分析(xi)試驗結(jie)果(guo)展(zhan)(zhan)示(shi)中的(de)“比差(cha)角(jiao)差(cha)”結(jie)果(guo)展(zhan)(zhan)示(shi)部(bu)分是**的(de)，詳(xiang)情請參見5.2.3 CT分析(xi)試驗結(jie)果(guo)展(zhan)(zhan)示(shi)

5.4 CT線圈電(dian)阻測量

CT線圈電阻(zu)測量試驗只需設置互感器(qi)(qi)(qi)編號。選擇線圈電阻(zu)測量后，儀(yi)器(qi)(qi)(qi)給出試驗的(de)連(lian)線參考圖。啟動試驗，儀(yi)器(qi)(qi)(qi)輸出0.5A直流(liu)電流(liu)對線圈進行(xing)充電，當(dang)線圈電阻(zu)值穩(wen)定以后試驗自動停(ting)止，并記錄停(ting)止時刻(ke)的(de)線圈電阻(zu)值和環境(jing)溫度值（儀(yi)器(qi)(qi)(qi)面板部位帶有溫度傳感器(qi)(qi)(qi)，用于測量當(dang)前(qian)的(de)環境(jing)溫度）。

試(shi)驗結束后儀(yi)器還會(hui)自(zi)動計(ji)算溫度為75攝氏度時(shi)的參考(kao)電阻值。

試驗完成后結果(guo)展示方式與(yu)5.2.3章節中的線圈電阻展示頁面**。

5.5 CT極性(xing)檢(jian)查

CT極性試驗只需設置互感(gan)器(qi)(qi)編(bian)號。選擇(ze)極性檢查試驗后(hou)(hou)，儀器(qi)(qi)給出(chu)試驗的(de)(de)連線參考圖。啟動試驗后(hou)(hou)，儀器(qi)(qi)輸出(chu)交流正(zheng)弦電(dian)壓(ya)至CT二次(ci)(ci)繞組(zu)，并測量CT一(yi)次(ci)(ci)側繞組(zu)的(de)(de)電(dian)壓(ya)，當CT一(yi)次(ci)(ci)繞組(zu)電(dian)壓(ya)超(chao)過(guo)測量閾值(zhi)或CT二次(ci)(ci)電(dian)壓(ya)輸出(chu)至大電(dian)壓(ya)時(shi)(shi)，儀器(qi)(qi)計(ji)算(suan)此時(shi)(shi)的(de)(de)CT極性。儀器(qi)(qi)按照如下(xia)標準來判定(ding)被測CT的(de)(de)極性：

90度>當一次電壓與二次電壓相角差>-90度 時計算結果為同(tong)極性（-極性），否則為反極性（+極性）

極(ji)性檢查(cha)試(shi)驗完(wan)成后(hou)，試(shi)驗結果(guo)如圖5.8所示。

5.6 CT二次負荷測量

5.6.1 CT二次負(fu)荷測量參數設置(zhi)

二(er)次負(fu)荷測量的試驗(yan)參(can)數(shu)設置項(xiang)目包括互感(gan)器編號，測試電(dian)流，測試頻率，選擇二(er)次負(fu)荷測量后圖(tu)5.9所(suo)(suo)示的參(can)數(shu)設置窗體(ti)將會被加載。啟(qi)動二(er)次負(fu)荷試驗(yan)后儀器會根(gen)據所(suo)(suo)選擇的參(can)數(shu)輸出一個恒定的正弦電(dian)流至CT二(er)次負(fu)荷回路。

圖(tu)5.9所示的(de)二次負(fu)荷參(can)數(shu)設置界面中，3個試驗參(can)數(shu)的(de)意義為：

1> CT額定二次電(dian)流

此參數不(bu)影響(xiang)試驗流(liu)(liu)(liu)程，僅用于計(ji)算二次(ci)(ci)回路(lu)的(de)(de)負(fu)荷(he)(he)值(zhi)，例如(ru)測得二次(ci)(ci)回路(lu)的(de)(de)阻(zu)抗為2ohm，如(ru)果選擇額定二次(ci)(ci)電(dian)流(liu)(liu)(liu)為1A，則對(dui)應的(de)(de)二次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)為2VA，如(ru)果選擇的(de)(de)額定二次(ci)(ci)電(dian)流(liu)(liu)(liu)為5A，則對(dui)應的(de)(de)二次(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)為50VA

2> 額定頻率

此參數用于控制輸出電(dian)流(liu)的(de)頻率值(zhi)，如(ru)果選擇50Hz，則輸出電(dian)流(liu)的(de)頻率為(wei)50Hz，否則輸出電(dian)流(liu)頻率為(wei)60Hz

3> 互感器編號(hao)：組成保存試驗文件的名稱

5.6.2 CT二次負荷測量試驗流程

儀器的二次(ci)負荷測量(liang)分為(wei)兩檔(dang)，兩檔(dang)的輸出電流值（RMS）和對(dui)應的量(liang)程為(wei):

1) 測試電流為(wei)0.5A（RMS），測量量程(cheng)為(wei)0~80ohm

2）測試電流為0.25A（RMS），測量量程為0~160ohm

試(shi)驗啟動后儀器首先輸出0.5A(RMS)測試(shi)電(dian)流，如(ru)果發現被測負載超過了量程(cheng)范圍，則儀器自動調整(zheng)輸出電(dian)流值至(zhi)0.25A（RMS），再次進行測量

5.6.3 CT二次(ci)負(fu)荷測量試驗結果

CT二次負(fu)荷的測量結(jie)果如(ru)圖(tu)5.10所(suo)示(shi)。

二次負荷試驗結果(guo)頁面中的各個參數(shu)定義(yi)如表(biao)5.11所示。

表 5.11 二(er)次負荷試驗結(jie)果參數

名稱	參數(shu)說明
額定二次(ci)負(fu)荷	以VA形(xing)式或阻抗(kang)形(xing)式表示的儀器額定(ding)二(er)次負荷值
額定功率(lv)因數	額(e)定二次負荷的功率因數(shu)值
測試(shi)電(dian)流	以有效值表示的(de)實(shi)際測(ce)試電流值
測試電壓(ya)	加載在二次回路上的電壓有效值
測(ce)試(shi)頻率	加載(zai)在二(er)次(ci)回路上的(de)電流有效值
二次(ci)負荷	實測的二次負荷(he)值以VA形式表示(shi)，其值為：額定(ding)二次電流*額定(ding)二次電流*實測二次阻抗(kang)
功率因數	實測二次回路(lu)的功率因數值
二次阻抗	實測二次(ci)回路的阻抗值

5.7 PT線(xian)圈(quan)電阻測(ce)量

選(xuan)擇(ze)PT線(xian)圈電(dian)阻測量后，儀器(qi)給出(chu)試(shi)驗的連線(xian)參考(kao)圖(tu)和測試(shi)電(dian)流選(xuan)擇(ze)界(jie)面如圖(tu)5.11。

啟動(dong)試驗(yan)(yan)，儀(yi)器(qi)輸出0.5A(或(huo)0.05A,0.005A)直流(liu)電流(liu)對(dui)線(xian)圈(quan)(quan)進行充電，當線(xian)圈(quan)(quan)電阻(zu)(zu)值穩(wen)定(ding)以后試驗(yan)(yan)自動(dong)停止(zhi)，并記錄停止(zhi)時刻的線(xian)圈(quan)(quan)電阻(zu)(zu)值和(he)環(huan)境溫度值（儀(yi)器(qi)面板(ban)部位帶有(you)溫度傳感(gan)器(qi)，用(yong)于測量當前(qian)的環(huan)境溫度）。試驗(yan)(yan)完成后結果展示方式與(yu)5.2.3章(zhang)節中的線(xian)圈(quan)(quan)電阻(zu)(zu)展示頁面*但是(shi)PT線(xian)圈(quan)(quan)電阻(zu)(zu)試驗(yan)(yan)沒有(you)計算75攝氏度參(can)考電阻(zu)(zu)值。

對于(yu)電(dian)磁(ci)式PT，一次側(ce)和二次側(ce)線(xian)圈(quan)(quan)電(dian)阻(zu)都可以(yi)通過該項(xiang)目檢測(ce)，對于(yu)CVT式的電(dian)壓互(hu)感器只能檢測(ce)二次線(xian)圈(quan)(quan)的電(dian)阻(zu)值。

5.8 PT極性檢(jian)查

PT極(ji)性試(shi)(shi)(shi)驗(yan)只需設(she)置互感(gan)器(qi)的編號(hao)即可(ke)。選擇極(ji)性檢查試(shi)(shi)(shi)驗(yan)后，儀器(qi)給出試(shi)(shi)(shi)驗(yan)的連線(xian)參考圖。啟動(dong)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)后，儀器(qi)輸出交流正弦電(dian)壓(ya)(ya)至PT一次(ci)繞組(zu)，并測(ce)量(liang)PT二(er)(er)次(ci)側繞組(zu)的電(dian)壓(ya)(ya)，當PT二(er)(er)次(ci)繞組(zu)電(dian)壓(ya)(ya)超過測(ce)量(liang)閾(yu)值(zhi)或PT一次(ci)電(dian)壓(ya)(ya)輸出至大(da)電(dian)壓(ya)(ya)時，儀器(qi)計算(suan)此時的PT極(ji)性。儀器(qi)按照如下標準來判定被測(ce)PT的極(ji)性：

90度>當(dang)一次電壓與二次電壓相角差>-90度 時計算(suan)結果為(wei)同極(ji)性(xing)（-極(ji)性(xing)），否則為(wei)反極(ji)性(xing)（+極(ji)性(xing)）

極性檢查(cha)試驗(yan)完成(cheng)后，試驗(yan)結果與圖(tu)5.8*。

5.9 PT二次負荷測量

5.9.1 PT二次(ci)負荷測量參數(shu)設置(zhi)

PT二(er)(er)次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)(liang)的試驗參(can)數設(she)置(zhi)(zhi)項(xiang)目(mu)包括(kuo)互感(gan)器編號(hao)，測(ce)試電壓，測(ce)試頻率，選擇二(er)(er)次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)(liang)后圖(tu)5.12所(suo)示的參(can)數設(she)置(zhi)(zhi)窗體將會被加載。啟動二(er)(er)次負(fu)荷(he)試驗后儀(yi)器會根據(ju)所(suo)選擇的參(can)數輸出一個恒定的正弦電壓至PT二(er)(er)次負(fu)荷(he)回路。

圖5.12所(suo)示的二(er)次負(fu)荷(he)參數(shu)設置(zhi)界面中，3個試(shi)驗參數(shu)的意義為：

互感器編號

用于(yu)組(zu)成保存試(shi)驗時的文件名稱

2> 額(e)定頻(pin)率(lv)

此參(can)數(shu)用于控制輸出(chu)電壓的(de)頻率(lv)值，如果選擇(ze)50Hz，則輸出(chu)電壓的(de)頻率(lv)為(wei)50Hz，否則輸出(chu)電壓頻率(lv)為(wei)60Hz

PT額定二次(ci)電壓

儀器以此參數來計算大(da)輸(shu)出電(dian)壓(ya)值(zhi)(zhi)(zhi)，試驗被啟動后儀器輸(shu)出幅值(zhi)(zhi)(zhi)為互(hu)感器二次額定值(zhi)(zhi)(zhi)大(da)小的電(dian)壓(ya)至二次回路，并(bing)在此電(dian)壓(ya)下測量二次回路的阻抗，并(bing)依據二次額定電(dian)壓(ya)計算負荷(he)值(zhi)(zhi)(zhi)。

二(er)(er)次(ci)(ci)負荷=（二(er)(er)次(ci)(ci)額(e)定電壓&times;二(er)(er)次(ci)(ci)額(e)定電壓）/二(er)(er)次(ci)(ci)回(hui)路阻抗

5.9.2 PT二次負荷測量試驗流程(cheng)

試(shi)驗啟動后儀器首先輸(shu)出(chu)很(hen)小的測(ce)試(shi)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)至(zhi)二(er)(er)次(ci)回路(lu)，并(bing)逐步升(sheng)壓(ya)(ya)，同時檢測(ce)是否(fou)過(guo)載(zai)，如果(guo)發現輸(shu)出(chu)電(dian)(dian)流過(guo)載(zai)，則儀器停止升(sheng)壓(ya)(ya)，否(fou)則一(yi)直升(sheng)至(zhi)二(er)(er)次(ci)額(e)定電(dian)(dian)壓(ya)(ya)值(zhi)。在高輸(shu)出(chu)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)處測(ce)量二(er)(er)次(ci)回路(lu)的阻(zu)抗值(zhi)，并(bing)依據(ju)額(e)定二(er)(er)次(ci)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)計算(suan)二(er)(er)次(ci)負荷。

5.9.3 PT二次負(fu)荷測量試驗(yan)結果

PT二次(ci)負(fu)荷(he)的(de)展(zhan)示(shi)頁(ye)(ye)面與CT二次(ci)展(zhan)示(shi)頁(ye)(ye)面*，只是在PT二次(ci)負(fu)荷(he)展(zhan)示(shi)頁(ye)(ye)面并沒有額定(ding)負(fu)荷(he)的(de)顯(xian)示(shi)，其參(can)數含義也是一(yi)樣的(de)，詳情(qing)參(can)見5.6.3節

5.10 PT變比

5.10.1 PT變(bian)比(bi)試驗參數設置

PT變比試驗的(de)參數設(she)置界面如(ru)圖5.13，其中需要(yao)設(she)置的(de)參數定義如(ru)表(biao)5.12

圖5.12 PT變比參數設置(zhi)

名稱	參數說明(ming)
生產廠家	此項目僅用于生成WORD試(shi)驗報告時對(dui)互(hu)感器進行標識，與(yu)試(shi)驗流程(cheng)無關
互感器型(xing)號(hao)	此項目(mu)僅用于生成WORD試(shi)驗(yan)報告時對互感器進行標識(shi)，與試(shi)驗(yan)流程無關
互感器編(bian)號	此項目僅用于生成(cheng)WORD試(shi)驗(yan)報告時對(dui)互感器進行(xing)標識和保(bao)存試(shi)驗(yan)時組成(cheng)保(bao)存的文件名稱，與試(shi)驗(yan)流程無關
額定一次電壓(ya)	設置電(dian)壓(ya)互感器的(de)額定一(yi)次(ci)電(dian)壓(ya)值，用于計算額定變(bian)比(bi)
額(e)定二次電壓	設置(zhi)電(dian)(dian)壓互感器的額(e)定二次電(dian)(dian)壓值，用于計算額(e)定變比，互感器額(e)定二次電(dian)(dian)壓由兩(liang)部分(fen)組成，實際(ji)電(dian)(dian)壓是(shi)2部分(fen)相(xiang)乘

5.10.2PT變比試(shi)驗流程(cheng)

進行PT變比試(shi)(shi)驗時，試(shi)(shi)驗流(liu)程如下(xia)：

反接判斷->匝數比和極性(xing)測(ce)量

5.10.3 PT變比結(jie)果展(zhan)示

PT變比試驗結(jie)果顯示(shi)檢測(ce)得到的(de)一次線圈電(dian)阻值，匝數比和連接極性。

5.11 PT勵磁試驗

5.11.1 PT勵磁(ci)試驗參數設置

PT勵磁試驗的參數設置界面(mian)如圖5.14，其(qi)中(zhong)需(xu)要設置的參數定(ding)義(yi)如表(biao)5.13

圖5.13 PT變比參數設(she)置

名稱(cheng)	參數說明
互感器編號	此項目僅用于生成WORD試驗報告時(shi)對(dui)互感器進行標(biao)識和保存(cun)試驗時(shi)組成保存(cun)的(de)文件名(ming)稱(cheng)，與試驗流程無(wu)關
額定一次電壓(ya)	設置電壓(ya)互感器的額定一次電壓(ya)值，此項目僅用于生成WORD試(shi)驗(yan)報告時對互感器進行標識和保(bao)存試(shi)驗(yan)時組成保(bao)存的文件名(ming)稱，與試(shi)驗(yan)流程(cheng)無關
額定(ding)二次電(dian)壓	設(she)置電(dian)(dian)壓(ya)互感器(qi)的額定(ding)二次(ci)電(dian)(dian)壓(ya)值，用(yong)于控制互感器(qi)升壓(ya)過(guo)(guo)程，試驗過(guo)(guo)程儀器(qi)升壓(ya)不(bu)會超過(guo)(guo)互感器(qi)額定(ding)二次(ci)電(dian)(dian)壓(ya)的1.2倍，試驗完成后儀器(qi)根(gen)據此(ci)數值計算(suan)各點的勵(li)磁損耗。額定(ding)二次(ci)電(dian)(dian)壓(ya)由輸入文本(ben)框(kuang)和倍數復(fu)選(xuan)框(kuang)2部分組成。
測(ce)試頻率	選擇互(hu)感(gan)器的額定(ding)工作頻率
一次直(zhi)流(liu)電阻	PT一次繞組直(zhi)流(liu)電阻的實(shi)測值(zhi)，用(yong)于(yu)推算PT比差和(he)角差值(zhi)
二(er)次負荷(he)	PT所連接(jie)二次負荷(he)的阻抗(kang)和功率(lv)因素，用于推算PT比差(cha)和角差(cha)值
PT匝數比	PT匝數(shu)比(bi)，PT變(bian)比(bi)試驗的實測值，用于推算PT比(bi)差(cha)和角差(cha)值

5.11.2 PT勵(li)磁(ci)試驗結果展示(shi)

PT勵(li)磁試驗結果包括PT勵(li)磁曲(qu)線，PT勵(li)磁曲(qu)線數(shu)據，PT二次(ci)線圈電(dian)(dian)阻(zu)，20%，50%，80%，100%和(he)120%額定(ding)二次(ci)電(dian)(dian)壓(ya)位(wei)置所對應的PT二次(ci)勵(li)磁電(dian)(dian)流(liu)，80%，100%和(he)120%額定(ding)電(dian)(dian)壓(ya)位(wei)置處(chu)的比差(cha)和(he)角(jiao)差(cha)值

5.12生成(cheng)試驗(yan)報告

使(shi)用CTPT分析儀的(de)軟(ruan)件(jian)可以自(zi)動生成WORD格(ge)式的(de)試(shi)(shi)驗(yan)報(bao)(bao)告(gao)，試(shi)(shi)驗(yan)報(bao)(bao)告(gao)以MS WORD2003的(de)”*.DOC”格(ge)式保存。試(shi)(shi)驗(yan)完成后在“查看(kan)結果”或查看(kan)歷史結果界面點擊生成按鈕，則儀器會自(zi)動制作(zuo)對應試(shi)(shi)驗(yan)項目的(de)試(shi)(shi)驗(yan)報(bao)(bao)，圖(tu)5.15展示了(le)CT分析試(shi)(shi)驗(yan)報(bao)(bao)告(gao)的(de)首頁。

圖5.15 CT分析試驗報告首(shou)頁

第六章(zhang) 自動(dong)評估與銘牌推測(ce)

6.1 自動(dong)評(ping)估

6.1.1 自動(dong)評估定義(yi)

自動評估是指將實測的(de)(de)參(can)數與當(dang)前所(suo)選(xuan)標準規(gui)(gui)定值進行對(dui)(dui)比，如(ru)果(guo)實測參(can)數全部符(fu)合(he)(he)標準的(de)(de)規(gui)(gui)定則互(hu)感(gan)(gan)器檢(jian)測是合(he)(he)格(ge)的(de)(de)，否則互(hu)感(gan)(gan)器檢(jian)測不合(he)(he)格(ge)。由于(yu)互(hu)感(gan)(gan)器的(de)(de)很多參(can)數與互(hu)感(gan)(gan)器所(suo)連接(jie)的(de)(de)負載有關，因(yin)此儀器的(de)(de)自動評估選(xuan)項有“僅對(dui)(dui)操作(zuo)負荷評估”和“對(dui)(dui)額定和操作(zuo)負荷評估”評估兩種選(xuan)擇。

選(xuan)擇“僅(jin)對(dui)操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)(he)評估(gu)”時(shi)，儀器僅(jin)僅(jin)將操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)(he)條件(jian)(jian)下(xia)計算(suan)的(de)參(can)數(shu)與(yu)標準(zhun)規定(ding)(ding)的(de)值進(jin)行(xing)對(dui)比。如果(guo)選(xuan)擇了“對(dui)額(e)定(ding)(ding)負(fu)荷(he)(he)和操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)(he)評估(gu)”，則(ze)儀器將額(e)定(ding)(ding)負(fu)荷(he)(he)和操(cao)作(zuo)負(fu)荷(he)(he)兩(liang)種條件(jian)(jian)下(xia)計算(suan)得(de)到參(can)數(shu)都與(yu)標準(zhun)規定(ding)(ding)值進(jin)行(xing)對(dui)比，只有(you)兩(liang)種條件(jian)(jian)下(xia)計算(suan)所得(de)的(de)參(can)數(shu)都合格(ge)時(shi)，互感器檢測(ce)才顯(xian)示為合格(ge)

注意：自動評(ping)估和銘牌推(tui)測僅僅是針對與CT分析項目進行，對于其他的試(shi)驗項目無效

6.1.2 自(zi)動(dong)評估項目和合格條(tiao)件

對(dui)于不(bu)同(tong)等級(ji)的互(hu)感器，自動(dong)評(ping)(ping)估(gu)(gu)的項目(mu)是不(bu)一樣的，詳細的評(ping)(ping)估(gu)(gu)項目(mu)和評(ping)(ping)估(gu)(gu)合(he)格條件見表(biao)6.1，~表(biao)6.5

表6.1 IEC60044-1計量類(lei)電流(liu)互感器(qi)的評估項目(mu)和(he)合格條件(jian)

互感器等級	評估項目	評估(gu)合格(ge)條件
0.1級(ji)	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額(e)定負荷(he)和操(cao)作負荷(he)條件下(xia)二(er)次電流(liu)(liu)為5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電流(liu)(liu)時的電流(liu)(liu)比差(cha)角差(cha)	1）實測FS<=FS額定 2）5%額(e)定二次電流比差<=0.4% 20%額定二次電流(liu)比差<=0.2% 100，120%額定二次(ci)電流比差<=0.1% 5%額定二次電(dian)流角差<=15分 20%額(e)定二次電流比差<=8分 100，120%額(e)定二(er)次電流(liu)比差<=5分
0.2級	1） 儀表安保(bao)系數FS 2） 25%，100%額(e)定負(fu)荷和操作負(fu)荷條件下二次(ci)電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電(dian)流(liu)時(shi)的電(dian)流(liu)比差和角差	1）實(shi)測FS<=FS額定 2）5%額定二次(ci)電流比(bi)差(cha)<=0.75% 20%額定二次電流比差<=0.35% 100，120%額定(ding)二次電流比(bi)差(cha)<=0.2% 5%額定二次電流角差<=30分 20%額定二次電流比(bi)差(cha)<=15分 100，120%額定二次電流比差<=10分
0.2S級	1） 儀表安保(bao)系(xi)數(shu)FS 2） 25%，100%額(e)定(ding)(ding)負(fu)荷和操作負(fu)荷條件下二次(ci)電(dian)流(liu)為(wei)1%，5%，20%，50%，100%，120%額(e)定(ding)(ding)電(dian)流(liu)時的電(dian)流(liu)比差和角差	1）實測FS<=FS額定(ding) 2）1%額定二次電流比差<=0.75% 5%額定二次(ci)電流(liu)比(bi)差<=0.35% 20，100，120%額定二次電(dian)流(liu)比差<=0.2% 1%額定二次電流角差<=30分(fen) 5%額定二(er)次電流比差(cha)<=15分 20，100，120%額(e)定二(er)次電(dian)流(liu)比差&lt;=10分(fen)
0.5級	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額定(ding)(ding)負荷和操作負荷條(tiao)件下二(er)次電(dian)(dian)流(liu)(liu)為5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)(liu)時的(de)電(dian)(dian)流(liu)(liu)比差(cha)(cha)和角差(cha)(cha)	1）實測FS<=FS額(e)定 2）5%額定二(er)次(ci)電(dian)流比差<=1.5% 20%額定二次電流比(bi)差<=0.75% 100，120%額(e)定二次電流比差<=0.5% 5%額定二次電流角差<=90分 20%額定二次電(dian)流比差<=45分 100，120%額定二(er)次(ci)電(dian)流比差<=30分
0.5S級	1） 儀表安保系(xi)數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)(fu)荷和操(cao)作(zuo)負(fu)(fu)荷條(tiao)件下(xia)二次(ci)電流(liu)(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電流(liu)(liu)時的電流(liu)(liu)比(bi)差和角差	1）實(shi)測FS<=FS額(e)定(ding) 2）1%額(e)定二次電流比差<=1.5% 5%額定(ding)二次電(dian)流比差<=0.75% 20，100，120%額(e)定(ding)二次(ci)電(dian)流比(bi)差<=0.5% 1%額定二次電流角差<=90分(fen) 5%額定(ding)二次電流比差<45分 20，100，120%額(e)定二次電流比差<30分
1.0級(ji)	1） 儀(yi)表安保系數FS 2） 25%，100%額定負荷和操作負荷條件下二次電流(liu)為5%，20%，50%，100%，120%額定電流(liu)時的(de)電流(liu)比(bi)差和角差	1）實(shi)測FS<=FS額(e)定 2）5%額定二次電流比差<=3% 20%額定二次電流(liu)比差<=1.5% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比(bi)差(cha)<;=1.0% 5%額(e)定(ding)二次電流角差<=180分 20%額定二(er)次電流比差<=90分 100，120%額定(ding)二(er)次電流比差<=60分(fen)
3.0級	1） 儀表安保系數FS 2） 50%，100%額定(ding)(ding)負荷(he)和操作負荷(he)條件下二(er)次電流(liu)為(wei)50%，120%額定(ding)(ding)電流(liu)時的電流(liu)比差	1）實測FS<=FS額定(ding) 2）50%額定二次電(dian)流比(bi)差<=3% 120%額定二次電(dian)流(liu)比差<=3%
5.0級	1） 儀表安保系數(shu)FS 2） 50%，100%額(e)定(ding)負荷(he)(he)和(he)操作負荷(he)(he)條件下二次電(dian)流為50%，120%額(e)定(ding)電(dian)流時的電(dian)流比差	1）實測FS<=FS額定 2）50%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差<=5% 120%額定二次電流比(bi)差(cha)<=5%

表6. SEQ 圖表&nbsp;* ARABIC 2 IEC60044-1 保護類電流(liu)互感器(qi)等(deng)評估項目和評估合(he)格(ge)條件(jian)

互感器(qi)等級(ji)	評估項目	評估(gu)合(he)格條件(jian)
5P	準(zhun)確限(xian)值系數ALF 100%額定電流處(chu)比差 100%額定電流處角(jiao)差	實測ALF>=額(e)定ALF 100%額定電流比(bi)差<=1% 100%額(e)定電流(liu)角(jiao)差<=60分(fen)
10P	準確限值系數ALF 100%額定電(dian)流處比差	實測(ce)ALF>=額定ALF 100%額定電流比差<=3%
5PR	準(zhun)確限(xian)值系數(shu)ALF 2）100%額(e)定電流處(chu)比差 3）100%額定電流處(chu)角差(cha) 4）剩磁系(xi)數Kr	1）實(shi)測ALF>=額定(ding)ALF 2）100%額定電流(liu)比差(cha)<=1% 3）100%額定電流角(jiao)差<=60分 4）Kr<=10%
10PR	準(zhun)確限值系數ALF 2）100%額定(ding)電流處比差 3）剩磁系數Kr	1）實測ALF>=額(e)定ALF 2）100%額定電流比差<=3% 3）Kr<=10%
PX	匝數(shu)比(bi) 準確限制(zhi)電壓Ek 準確限(xian)制電(dian)流Ie 面積系數Kx 75攝(she)氏度線圈電阻	1）匝數比誤差(cha)<=0.25% 2）Ek實測值>=Ek額定(ding)值 3）Ie實測值>=Ie額定值 4）Kx實測值>=額定(ding)Kx值 5）75攝氏(shi)度(du)實測線圈電阻<=額定值

表6.3 IEC60044-6 暫(zan)態(tai)電(dian)流互感器評估項目和評估合(he)格條(tiao)件(jian)

互(hu)感(gan)器等級(ji)	評估項目	評估合格條件
TPS	匝數比 準確(que)限制(zhi)電壓Val 準確(que)限制電流Ial 對稱短(duan)路電流系數Kssc 75攝氏(shi)度線圈電阻	匝數比誤差<=0.25% Val實測值>=Val額定值 Ial實測(ce)值(zhi)<=Ial額定值(zhi) K*Kssc測量>=K*Kssc額定值 5）75攝氏(shi)度實測線(xian)圈電阻<=額定值
TPX	額定(ding)電流(liu)處(chu)比(bi)差 額(e)定電流(liu)處角差(cha) 額定Kssc和實(shi)測Ktd處峰瞬誤(wu)差 Kssc*Ktd額(e)定(ding)值與實測值 75攝(she)氏度線圈電阻	額定電流處比差(cha)<=0.5% 額(e)定電流(liu)處角差<=30分 額定Kssc*實測Ktd處峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實(shi)測值>=(Kssc*Ktd)額(e)定值 75攝氏度(du)實(shi)測(ce)線圈電阻<=額定值(zhi)
TPY	額定電流(liu)處比差 額定電流(liu)處角(jiao)差(cha) 額定Kssc和實測Ktd處(chu)峰瞬誤差 Kssc*Ktd額(e)定值(zhi)與(yu)實(shi)測值(zhi) 二(er)次時間常(chang)數Ts 剩磁系數Kr 7）75攝氏度線(xian)圈電阻(zu)	額(e)定電流(liu)處比差(cha)<=1.0% 額定電(dian)流(liu)處角差<=60分 額定(ding)Kssc*實測Ktd處峰瞬誤(wu)差<=10% (Kssc*Ktd)實測值>=(Kssc*Ktd)額(e)定值 Ts實(shi)測<=30%Ts額定 Kr<=10% 7）75攝氏度實(shi)測線圈電阻<=額定值
TPZ	額定電流處比差 額(e)定電流處角(jiao)差 Kssc*Ktd額定(ding)值與實測值 二(er)次時間常(chang)數Ts 5）75攝氏度線圈電阻	額定電流(liu)處比差(cha)<=1.0% 2）額(e)定電流處角(jiao)差<=180分(fen) 3）(Kssc*Ktd)實測值>=(Kssc*Ktd)額定值 4）Ts實測<=30%Ts額定 5）75攝氏度(du)實(shi)測(ce)線圈電阻<=額定值

表6.4 C57.13計(ji)量類互感器自動評估項目和自動評估條(tiao)件

互(hu)感器(qi)等級(ji)	自動評(ping)估項(xiang)目	自動(dong)評(ping)估合格條件
0.3級(ji)	額定負荷和操作負荷下10%，100%，100%*RF額定二(er)次(ci)電流處的(de)電流比差	10%額定電流(liu)比差<=0.6% 100,100*RF%額定電流比差(cha)<=0.3%
0.6級(ji)	額定(ding)負荷和操作負荷下10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電流(liu)處的(de)電流(liu)比差	10%額定電流比差<=1.2% 100,100*RF%額定(ding)電流比(bi)差(cha)<=0.6%
1.2級	額(e)定負(fu)荷和操作負(fu)荷下10%，100%，100%*RF額(e)定二次電(dian)流(liu)(liu)處(chu)的電(dian)流(liu)(liu)比差	10%額定(ding)電(dian)流比差<=2.4% 100,100*RF%額(e)定電流比(bi)差(cha)<=1.2%

表6.5 C57.13保(bao)護類互感器自動評(ping)估項(xiang)目和自動評(ping)估條件

互感器等(deng)級	自(zi)動評估(gu)項目	自動評估合格(ge)條件
C	1）Vbmax與(yu)VB額定值比較 2）Vbmax處的二(er)次電流Isec 3）20*Isn處的比差 4）Vb額(e)定值處的比(bi)差	1）Vbmax>=Vb額(e)(e)定值(zhi)(如未輸入Vb額(e)(e)定值(zhi)，則自(zi)動設(she)置Vb額(e)(e)定值(zhi)為20Isec額(e)(e)定值(zhi)，額(e)(e)定負荷下的(de)二次端電(dian)壓Vb) 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處電流比差<=10% 4）Vb額定值處電流(liu)比差(cha)<=10%
K	1）Vbmax與VB額定值比較 2）Vbmax處的(de)二次電流Isec 3）拐點電壓(ya) 4）20*Isn處(chu)的(de)比差 5）Vb額定值處的比(bi)差	1）Vbmax>=Vb額(e)定值 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定 3）拐點電壓>=70%Vb額定值 4）20*Isn額定處(chu)電(dian)流比(bi)差<=10% 5）Vb額定值處電流比差<=10%
T	1）Vbmax與VB額定(ding)值比較 2）Vbmax處(chu)的二次電流Isec 3）20*Isn處的比(bi)差 4）Vb額定值處的比差	1）Vbmax>=Vb額定(ding)值 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處電流比差<=10% 4）Vb額(e)定值處(chu)電流比差<=10%

6.2 勵(li)磁參數計算(suan)

在CT分析的試(shi)(shi)驗結(jie)果(guo)展示界面(mian)，有一(yi)頁(ye)為勵(li)磁參數和(he)自(zi)動評估，其(qi)中的勵(li)磁參數計(ji)算項目是由所(suo)選擇(ze)的測(ce)試(shi)(shi)標(biao)準和(he)互感器等(deng)級決(jue)定，其(qi)對應關系(xi)如表(biao)(biao)6.6，表(biao)(biao)6.7和(he)表(biao)(biao)6.8所(suo)示。

表6.6 IEC60044-1 勵磁參數計算項目

參數(shu)名稱	參數說明	IEC60044-1計(ji)量類	IEC60044-1保護類(lei)
V-kn	電壓拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定(ding)義見表6.9	√	√
I-kn	電(dian)流(liu)拐(guai)點，詳細定義(yi)見(jian)表6.9	√	√
Ek	PX級互感器準確限制電(dian)壓		√
Ie	PX級(ji)互(hu)感器(qi)準確限制電流		√
FS	儀(yi)表安保系(xi)數	√
ALF	準確限值系數		√
Kx	PX級互感器(qi)定義的面積系數		√
Ls	飽和電感	√	√
Lu	不飽和電感(gan)	√	√
Ts	二次時(shi)間常數	√	√
Kr	剩(sheng)磁(ci)系數	√	√
Ktd	暫態面(mian)積系數		√

其中(zhong)部分參數的含(han)義如下：

1）Ek 為IEC60041曲線拐點位置(zhi)處的電動勢

2）Ie 為(wei)IEC60041曲線拐點位置處的勵磁電流

3）FS儀(yi)器保(bao)安系(xi)數是CT誤差達到10%時一次電流(liu)對額定電流(liu)的倍數，此參數僅對測量類互(hu)感器有(you)效

4）準(zhun)確限(xian)值系(xi)數(shu)是指CT誤差達(da)到5%或10%時(shi)一次電(dian)(dian)流對額(e)定電(dian)(dian)流的倍數(shu)

5）Kx面積系(xi)數(shu)(shu)是指(zhi)實測準(zhun)確限制系(xi)數(shu)(shu)對額定準(zhun)確限制系(xi)數(shu)(shu)的比值

6）Ls飽和電感(gan)(gan)是指互感(gan)(gan)器在飽和狀態(tai)下二次線圈的等效(xiao)電感(gan)(gan)，用(yong)于(yu)推(tui)算二次回路在飽和狀態(tai)下的時間常數

7）Lu不(bu)飽(bao)和電(dian)感是指互感器在非飽(bao)和情況(kuang)下的二(er)次線圈等效電(dian)感，用于推算(suan)二(er)次回路在非飽(bao)和狀態下的時間常數

8）Kr是指互感器(qi)線(xian)圈勵磁(ci)電流過零時(shi)，鐵芯(xin)中(zhong)剩余的(de)磁(ci)通量

表 6.7 IEC60044-6 勵(li)磁參(can)數計算(suan)項目

參數名(ming)稱	參數(shu)說(shuo)明	TPS	TPX/Y	TPZ
V-Kn	電(dian)壓拐點(dian)，詳細(xi)定義見(jian)表6.9	√	√	√
I-Kn	電(dian)流拐(guai)點，詳細定義見(jian)表6.9	√	√	√
V-al	TPS級(ji)互感器定義的準確限(xian)制電壓	√
I-al	TPS級互感器(qi)定義的(de)準確(que)限(xian)制電流	√
Kssc	實測的(de)對稱短路(lu)電(dian)流(liu)系數
Eerror	電壓Emax處的峰(feng)瞬誤差		√
Emax	大(da)電動勢		√
Ls	飽和電感	√	√	√
Lu	不飽和電感	√	√	√
Ts	二次回路(lu)時間常數(shu)	√	√	√
Kr	剩磁系數	√	√	√
Ktd	實(shi)際計算得到(dao)的(de)暫態(tai)面積系(xi)數		√	√

其中部分參數的含義如下：

1）V-al 按照IEC60046定義的曲線拐點位置處的電動勢

2）I-al 按照IEC60046定義(yi)的(de)曲線拐(guai)點位(wei)置處的(de)勵磁(ci)電流

3）Kssc 互(hu)感器一次回路中大短路電流對額定一次電流的倍數

4）Emax互感器額定極限電動勢，此數值有一次(ci)大短路(lu)電流，線(xian)圈內阻和二(er)次(ci)負荷(he)共同決定

5）Eerror 額定極限電動(dong)勢處對應(ying)的(de)互(hu)感器瞬時值測量誤(wu)差

表6.8 C57.13的勵磁參數(shu)計算項目

參(can)數(shu)名(ming)稱	參(can)數說明	C57.13計量類	C57.13保護類
V-kn	電壓拐點，詳細定義見(jian)表6.10	√	√
I-kn	電流拐點，詳細(xi)定義見表6.10	√	√
FS	儀表安(an)保系數	√
ALF	準(zhun)確限(xian)值系數		√
Kx	PX級互感器定義(yi)的(de)面積系數		√
Ls	飽和電感	√	√
Lu	不飽(bao)和電(dian)感(gan)	√	√
Ts	二次時間常數	√	√
Kr	剩磁系數	√	√

6.3 拐點(dian)和磁化曲線定義(yi)

不(bu)同測試標準的磁化曲(qu)線，拐點電壓和拐點電流(liu)的定(ding)義是(shi)不(bu)一樣的，詳細的定(ding)義說明如表6.9和表6.10所示(shi)。

表6.9 三種測試標準的(de)磁化(hua)曲線(xian)定義

標準名稱	磁化曲線橫坐(zuo)標	磁化曲線縱坐標(biao)
IEC60044-1	二次端電壓有效值	勵磁(ci)電流有效值
IEC60044-6	電(dian)動勢電(dian)壓有效(xiao)值	勵磁(ci)電流峰(feng)值
C57.13	電(dian)動勢(shi)電(dian)壓有效值	勵磁(ci)電(dian)流有效(xiao)值

表6.10 拐點定義(yi)

標準名稱	拐(guai)點(dian)定(ding)義(yi)
IEC60044-1	勵(li)磁曲線(xian)上(shang)二次端電壓上(shang)升(sheng)10%，導致勵(li)磁電流有效值上(shang)升(sheng)超過50%的那個點
IEC60044-6	電(dian)動勢電(dian)壓(ya)上(shang)(shang)升(sheng)10%，導致(zhi)勵磁電(dian)流峰(feng)值上(shang)(shang)升(sheng)超過50%的那個點
C57.13	對于C57.13的(de)ANSI45拐(guai)點是指對于橫(heng)(heng)坐標正切(qie)為45度(du)角的(de)那個(ge)點，對于C57.13的(de)ANSI30拐(guai)點是指對于橫(heng)(heng)坐標正切(qie)為30度(du)角的(de)那個(ge)點

6.4 銘牌推(tui)測邏輯

CT分析儀的銘牌自動推測功能用于在銘牌部分信息未知時猜測銘牌的部分信息，推測的參數包括額定一次電流，額定二次電流和互感器等級。銘牌推測的所使用的順序和判斷條件如下：

1） 如(ru)果額定(ding)(ding)二次(ci)電流未知，則(ze)根據當前所測得的線圈電阻大小與1A/5A判斷(duan)閾(yu)值(zhi)進(jin)行(xing)比較（見系(xi)統參(can)數設置章節），如(ru)果小于(yu)閾(yu)值(zhi)則(ze)將額定(ding)(ding)二次(ci)電流設為5A，否則(ze)設為1A

2）根據實際測(ce)量獲得的匝(za)數比和額定(ding)(ding)二次(ci)電(dian)流值(zhi)，對(dui)照當前所選(xuan)擇標準對(dui)一次(ci)電(dian)流取值(zhi)規(gui)則的規(gui)定(ding)(ding)，猜測(ce)額定(ding)(ding)一次(ci)電(dian)流值(zhi)。

3）互感器等級(ji)的猜(cai)測

為(wei)了猜測互感(gan)器的等級首先需要判斷互感(gan)器鐵(tie)芯(xin)的類(lei)型，根(gen)據1A或5A鐵(tie)芯(xin)判定閾值(zhi)（見系統參數(shu)設置章(zhang)節）獲取當前鐵(tie)芯(xin)類(lei)型，如果飽和電壓(ya)小于閾值(zhi)則為(wei)測量鐵(tie)芯(xin)否則為(wei)保護鐵(tie)芯(xin)。

如果猜測的互感(gan)器鐵芯為測量鐵芯，則儀器按照如下規則推測互感(gan)器等(deng)級。

1）如(ru)果(guo)選(xuan)擇的(de)是IEC60044-1則分(fen)別(bie)對如(ru)下精(jing)度(du)等(deng)(deng)級順序分(fen)進(jin)行自動評(ping)(ping)估，直至(zhi)評(ping)(ping)估合(he)格則為止，*個評(ping)(ping)估合(he)格的(de)等(deng)(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精(jing)度(du)等(deng)(deng)級

0.1->0.2S->0.2->0.5S->0.5->1.0-&gt;3.0->5.0

2）如果選擇的是C57.13則(ze)分別對(dui)如下精度等級(ji)順(shun)序分進(jin)行自動評(ping)估(gu)，直至評(ping)估(gu)合(he)格(ge)則(ze)為止，*個評(ping)估(gu)合(he)格(ge)的等級(ji)就是互感器的精度等級(ji)

0.3->0.6->1.2

如(ru)果猜測(ce)的鐵芯(xin)為(wei)保護鐵芯(xin)，則(ze)儀(yi)器按(an)照如(ru)下(xia)規(gui)則(ze)推測(ce)互感器等級

1）如果選擇的是IEC60044-1，則(ze)(ze)分(fen)別對(dui)如下等(deng)級順序分(fen)進(jin)行自(zi)動評(ping)估(gu)，直至評(ping)估(gu)合格(ge)則(ze)(ze)為(wei)止，*個評(ping)估(gu)合格(ge)的等(deng)級就(jiu)是互感器的精(jing)度(du)等(deng)級

5PR->10PR->PX->5P->10P

2）如果選擇的是IEC60044-6，則分別對(dui)如下等級(ji)順序分進行自(zi)動評(ping)估，直至評(ping)估合格則為止(zhi)，*個評(ping)估合格的等級(ji)就是互(hu)感(gan)器的精度等級(ji)

TPY->TPX->TPZ->TPS

3）如果(guo)選擇的是C57.13，則分別對如下(xia)等級順序分進行自(zi)動(dong)評(ping)估，直至評(ping)估合格(ge)則為止，*個(ge)評(ping)估合格(ge)的等級就是互(hu)感器的精度等級

K->C->T

第七(qi)章 PC數(shu)據分(fen)析軟(ruan)件

7.1 概述

分析(xi)儀的產品(pin)光(guang)盤(pan)中包含2個(ge)PC應用(yong)程(cheng)(cheng)序,數據分析(xi)軟件(jian)“CTPT ANALYZER FOR PC”和批量報告制(zhi)(zhi)作(zuo)工(gong)具“CTPT ANALYZER BULK REPORTS”，這2個(ge)應用(yong)程(cheng)(cheng)序都是(shi)免安(an)裝的綠(lv)色軟件(jian)，使用(yong)時將2個(ge)應用(yong)程(cheng)(cheng)序對應的文件(jian)夾復制(zhi)(zhi)到計算(suan)機(ji)硬盤(pan)即可(ke)。

7.2 數據(ju)分析軟(ruan)件

在分析儀的數據(ju)分析軟件中雙擊“CTPT ANALYZER FOR PC”，出現如圖(tu)7.1所示數據(ju)分析軟件主界面。

分析儀的(de)PC數據分析軟件操作(zuo)與(yu)界(jie)面和儀器應用(yong)軟件基本*，其不同(tong)之處如下：

讀取文件(jian)時PC數據分(fen)析軟件(jian)需要用戶文件(jian)所在位置如圖7.2

保存(cun)文件(jian)時PC數據分(fen)析軟件(jian)需(xu)要用戶文件(jian)存(cun)儲位置如圖7.2

曲線對比窗口中讀取參考曲線時(shi)需要(yao)用戶參考文件所在位置如圖7.2

曲(qu)線對比中復制圖片(pian)時需要用戶文件存儲位置如(ru)圖7.2

生成WORD報告時需要用戶文件存儲位置如圖7.2

 

除(chu)以上所(suo)列不同之處外,數(shu)據(ju)分析(xi)軟件(jian)所(suo)有(you)的操作方(fang)法與儀器(qi)(qi)數(shu)據(ju)處理軟件(jian)**，詳細說明(ming)請參照儀器(qi)(qi)數(shu)據(ju)處理軟件(jian)說明(ming)

7.3 批量報(bao)告制作工具

在(zai)儀(yi)(yi)器版本為V1.27.129以(yi)上的(de)(de)機型中，分(fen)析儀(yi)(yi)的(de)(de)產(chan)品光(guang)盤(pan)提供WORD報(bao)告(gao)批(pi)處(chu)理應用程序(xu)，此程序(xu)可以(yi)實現(xian)一次(ci)性生成多個(ge)WORD報(bao)告(gao)文檔，在(zai)儀(yi)(yi)器產(chan)品光(guang)盤(pan)中雙擊CTPT分(fen)析儀(yi)(yi)批(pi)量(liang)報(bao)告(gao)制(zhi)作工具文件夾下的(de)(de)“CTPT ANALYZER BULK REPORTS”，出現(xian)圖7.3所示窗(chuang)口(kou)。

窗口中各(ge)個按鈕和控件定義如(ru)下：

WORD報告批量生成

點擊WORD報(bao)告批(pi)量生成時(shi)，進入報(bao)告配置窗口如圖7.4所示(shi)，在該窗口中可以添(tian)加，移除需要(yao)制作報(bao)告的試(shi)驗文件(jian)。圖7.4窗口中各個按(an)鈕的定(ding)義如下：

添(tian)加文(wen)件

點擊“添加(jia)文(wen)件”出現圖7.5所示的試(shi)驗(yan)(yan)結果文(wen)件添加(jia)窗口，可以將(jiang)試(shi)驗(yan)(yan)結果文(wen)件添加(jia)到WORD報告待生成(cheng)隊列。

注意：圖7.5所(suo)示窗口中可以通過鼠標同時(shi)選擇多個文(wen)件

移(yi)除文件

點(dian)擊移(yi)除(chu)文件(jian)，將WORD報告待(dai)生成(cheng)隊列中(zhong)選中(zhong)的試驗結果(guo)文件(jian)從隊列中(zhong)移(yi)除(chu)

注意：此(ci)項(xiang)功能僅僅將(jiang)試驗(yan)結果文件從(cong)隊列中移除(chu)，并不會刪除(chu)計(ji)算機中對應的試驗(yan)結果文件

移除所(suo)有文件

點(dian)擊移除所有(you)文件(jian)，清(qing)空WORD報告待生成隊(dui)列中(zhong)所有(you)的試驗結果文件(jian)

注意：此項功能僅(jin)(jin)僅(jin)(jin)將試驗(yan)結(jie)(jie)果文件(jian)從(cong)隊列中(zhong)移除，并不(bu)會刪(shan)除計算機(ji)中(zhong)對應的試驗(yan)結(jie)(jie)果文件(jian)

批量生成(cheng)WORD報告

一(yi)次性生成WORD報告(gao)待生成隊列中所有的(de)試驗結果(guo)文(wen)件(jian)

注意：當待生成隊列中文件(jian)的(de)數(shu)量很(hen)多(duo)時(shi)(shi)，生成過(guo)(guo)程會耗(hao)費很(hen)長的(de)時(shi)(shi)間(jian)，在此過(guo)(guo)程中應用軟件(jian)不能(neng)響應其他(ta)控制命令，如果此時(shi)(shi)需要終止生成過(guo)(guo)程，可以通過(guo)(guo)Ctrl+ALT+DEL關閉此應用程序的(de)進程。

取消

退(tui)出WORD報(bao)告批量生成配置(zhi)窗口(kou)

試驗(yan)報告生成過(guo)程(cheng)控制

生(sheng)成(cheng)WORD報告時包含(han)(han)磁滯回(hui)路(lu)曲(qu)線(xian)(xian)，此項被選(xuan)中(zhong)(zhong)時，在所有的(de)CT分析試驗(yan)結果文件的(de)WORD報告中(zhong)(zhong)會(hui)包含(han)(han)磁滯回(hui)路(lu)曲(qu)線(xian)(xian)及數據，這樣的(de)配置會(hui)消耗較長的(de)生(sheng)成(cheng)WORD報告時間(jian)，否則這些(xie)曲(qu)線(xian)(xian)和數據不會(hui)出(chu)現在這些(xie)生(sheng)成(cheng)的(de)WORD報告中(zhong)(zhong)并且生(sheng)成(cheng)WORD報告時間(jian)較短

誤差曲線中使用整(zheng)數(shu)(shu)(shu)一次電流倍數(shu)(shu)(shu)，此項被選中時，在(zai)所有的(de)IEC60044-1保護類CT的(de)試驗結(jie)果文件中，誤差曲線數(shu)(shu)(shu)據會顯示整(zheng)數(shu)(shu)(shu)一次電流倍數(shu)(shu)(shu)的(de)數(shu)(shu)(shu)值

顯(xian)(xian)示(shi)簡化的(de)勵(li)磁(ci)數據，此項被(bei)選中(zhong)時，在所有的(de)CT分析試(shi)驗結果(guo)文件的(de)WORD報(bao)告中(zhong)顯(xian)(xian)示(shi)的(de)磁(ci)化曲線(xian)為(wei)30個點，這樣可以縮短生成WORD報(bao)告的(de)時間，否則(ze)顯(xian)(xian)示(shi)點數為(wei)實測點并且生成WORD報(bao)告的(de)時間較長。

語言選擇

選(xuan)擇此應用程序的語言(yan)環境，目前版本支持的語言(yan)為(wei)中文(wen)和英文(wen)

進(jin)度條

應用程(cheng)序主(zhu)界(jie)面包(bao)含2個(ge)進(jin)(jin)度(du)條(tiao)指(zhi)示生成(cheng)過(guo)程(cheng)的狀態，位于(yu)主(zhu)程(cheng)序上(shang)部的進(jin)(jin)度(du)條(tiao)是所有試(shi)驗結果(guo)文件WORD報(bao)(bao)告生成(cheng)過(guo)程(cheng)的總進(jin)(jin)度(du)指(zhi)示，位于(yu)主(zhu)程(cheng)序下部的進(jin)(jin)度(du)條(tiao)是單個(ge)試(shi)驗結果(guo)文件WORD報(bao)(bao)告生成(cheng)過(guo)程(cheng)的進(jin)(jin)度(du)指(zhi)示。

 

第八(ba)章 附件(jian)清單

8.1 CTPT分析儀的標準(zhun)配置

CTPT分析儀的標準配置如(ru)表(biao)7.1所示：

名稱	數量	說明
CTPT分析儀主(zhu)機	1
3M雙(shuang)芯帶屏(ping)蔽測試電纜(lan)	2	CT二次和功率輸出連接線，每根(gen)電纜的兩頭都帶有紅色和黑色香蕉頭，線徑大于1.5MM
10M雙芯帶屏(ping)蔽測(ce)試電纜	1	CT一次連接線(xian)，每根(gen)電(dian)纜的兩頭都帶(dai)有(you)紅色和(he)黑(hei)色香蕉頭，線(xian)徑(jing)大于1.5MM
接(jie)地線	1
大號測試鉗	2	紅黑各2個
測試冷壓片	4	紅(hong)黑各(ge)2個(ge)
測試針	4	紅黑各(ge)2個
鱷魚夾	6	紅黑各3個
測試短接線(xian)	1	含6個(ge)連接(jie)頭，用于短接(jie)CT二次的剩余非測試繞組
PT勵磁試驗模塊	1	用于PT勵磁試驗
5A電源保險	3
供電電纜	1
附件包	1	放置測試的各種附件
產品光盤	1	包含產(chan)品說明書和數據分析(xi)軟件(jian)
產品使用說明書	1
產(chan)品出廠(chang)檢測報告	1
合格證	1

附(fu)錄A. 低頻法測(ce)試原(yuan)理(li)

IEC60044-6 標(biao)準（對應(ying)國家標(biao)準GB16847-1997）聲稱，CT 的(de)(de)測試可以在比額定頻率低(di)的(de)(de)情況下進(jin)行(xing)，避免(mian)繞組(zu)和二次端子承受不能容許的(de)(de)電壓。*的(de)(de)要(yao)求(qiu)就(jiu)是，在鐵心上產生(sheng)同樣(yang)大(da)小(xiao)的(de)(de)磁(ci)通(tong)。

IEC60044-6 標準中給出(chu)的磁通計算(suan)公(gong)式：

其中，

R CT ：二次繞組(zu)電(dian)阻

U CT ：二(er)次繞組端電(dian)壓

I CT ：二次電(dian)流(liu)

Ψ0  ：初(chu)始交鏈(lian)磁通

Ψ(t)：t 時刻的(de)交鏈磁通

定(ding)義鐵心電壓：

當(dang)鐵(tie)心電壓U C (t) 為正弦信號時，有：

其中：

f ：為正弦(xian)信(xin)號頻(pin)率

可(ke)以看出，在相同的(de)(de)大(da)交(jiao)鏈磁(ci)通(tong)Ψm 下(xia)，鐵(tie)心(xin)電(dian)壓(ya)與頻率成正比(bi)。因(yin)此(ci)，只(zhi)要在鐵(tie)心(xin)上產(chan)生同樣(yang)大(da)小的(de)(de)磁(ci)通(tong)，那(nei)么CT的(de)(de)測(ce)試(shi)便(bian)可(ke)以在比(bi)額定(ding)頻率低的(de)(de)情況下(xia)進(jin)(jin)行，此(ci)時所需的(de)(de)鐵(tie)心(xin)電(dian)壓(ya)幅(fu)值要求也降低，二次繞組測(ce)試(shi)所需的(de)(de)端(duan)電(dian)壓(ya)也相應降低。對低頻測(ce)試(shi)結果(guo)進(jin)(jin)行頻率折(zhe)算后可(ke)以得(de)到額定(ding)頻率下(xia)的(de)(de)CT測(ce)試(shi)結果(guo)。

附錄B.10%誤差曲線計(ji)算(suan)

電流互(hu)感器的誤(wu)差主要是由(you)于勵磁電流I0的存在，它使二次(ci)電流I2與換算到二次(ci)側后(hou)的一次(ci)電流I1′不(bu)但在數值上不(bu)相(xiang)(xiang)等，而且(qie)相(xiang)(xiang)位也(ye)不(bu)相(xiang)(xiang)同(tong)，這(zhe)就造(zao)成了電流互(hu)感器的誤(wu)差。

繼電(dian)保護要求電(dian)流互感器(qi)的一次(ci)電(dian)流I1等于(yu)大短路電(dian)流時(shi)(shi)，其比值(zhi)差小于(yu)或等于(yu)10％。在比值(zhi)差等于(yu)10％時(shi)(shi)，二(er)(er)次(ci)電(dian)流I2 與換算到(dao)二(er)(er)次(ci)側后的一次(ci)電(dian)流I1′以及勵磁電(dian)流I0  之間滿足(zu)下述關(guan)系：

定(ding)義(yi)M 為(wei)一次(ci)側大短(duan)路電流(liu)倍數，K 為(wei)電流(liu)互感器的變(bian)比，則有

?

其中(zhong)：

Z2  為電流互(hu)感(gan)器二次繞組(zu)阻抗

E0 &nbsp;為(wei)電流(liu)互感(gan)器二次繞組感(gan)應電動(dong)勢(shi)E0和I0的(de)關系由(you)勵磁特(te)性曲線描述(shu)。

根據上(shang)述算(suan)式，后可(ke)以得到用大(da)短路電(dian)流倍數M 和(he)允許(xu)的大(da)負荷(he)阻(zu)抗ZB描述的10％誤差曲

5%誤(wu)差曲(qu)(qu)線的(de)計(ji)算(suan)方式與10%誤(wu)差曲(qu)(qu)線計(ji)算(suan)方式*，只是誤(wu)差點從10%變成了5%。對于(yu)5P/5PR的(de)電流(liu)互感器通(tong)常(chang)計(ji)算(suan)5%誤(wu)差曲(qu)(qu)線，對于(yu)10P/10PR的(de)保護(hu)類電流(liu)互感器通(tong)常(chang)計(ji)算(suan)10%誤(wu)差曲(qu)(qu)線。