觸摸屏電導鹽密測試儀

一、LYYMD-2000觸摸屏電導鹽密測試儀產(chan)品簡介

用于電力(li)系(xi)統(tong)防污閃檢測(ce)，是測(ce)量絕緣(yuan)子表面等值附鹽密(mi)(mi)度(du)(du)（以(yi)下簡稱“鹽密(mi)(mi)”）的測(ce)量儀(yi)器，同時還可(ke)以(yi)測(ce)量溶液的電導率(lv)和溫度(du)(du)。整機以(yi)其測(ce)量精度(du)(du)高、測(ce)量范圍(wei)大、使用方便(bian)等特點廣泛(fan)地應用于電力(li)、教學、科研及其它相關行(xing)業。

污穢(hui)(hui)等(deng)(deng)(deng)級的劃(hua)分和污穢(hui)(hui)等(deng)(deng)(deng)級分布圖的繪制是(shi)(shi)(shi)防污閃(shan)工作(zuo)的基礎(chu)，準(zhun)確的污穢(hui)(hui)等(deng)(deng)(deng)級分布圖是(shi)(shi)(shi)選擇輸、變電(dian)(dian)設備電(dian)(dian)瓷(ci)外絕(jue)緣(yuan)爬距的依(yi)據。絕(jue)緣(yuan)子表面等(deng)(deng)(deng)值(zhi)附鹽密(mi)度值(zhi)是(shi)(shi)(shi)判斷電(dian)(dian)瓷(ci)外絕(jue)緣(yuan)污穢(hui)(hui)狀況嚴(yan)重(zhong)(zhong)程度的定量數據，是(shi)(shi)(shi)劃(hua)分污穢(hui)(hui)等(deng)(deng)(deng)級和繪制污區圖的重(zhong)(zhong)要依(yi)據之一。因此鹽密(mi)測量工作(zuo)對電(dian)(dian)力系統安全運(yun)行有著重(zhong)(zhong)要的意義。

參(can)照(zhao)標準(zhun)：

GB/T16434–1996《高壓架空線路和發電(dian)(dian)廠(chang)、變電(dian)(dian)所(suo)環境(jing)污穢分級及外絕緣選(xuan)擇標準》

GB/T16434-200X《污穢條件下高壓絕緣子的選擇(ze)和尺寸確(que)定第(di)1部分：定義、信息和一般原(yuan)則》

Q/GDW152-2006《高壓架空線路和發電廠、變電所(suo)環(huan)境污區(qu)分級及外(wai)絕緣選擇標準》

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相關術語：

參照盤形懸式絕(jue)緣子reference cap and pin insulator

XP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普(pu)通(tong)盤(pan)形懸式絕(jue)緣子(zi)（根據GB/T 7253），通(tong)常7~9片(pian)組成一串(chuan)用來(lai)測量現場(chang)污穢度。

爬電距離creepage distance

在兩個導電部分之間，沿絕(jue)緣體表面的(de)*短距離(li)。

注：水(shui)泥(ni)或其(qi)他非絕(jue)緣(yuan)膠合(he)材料表面不(bu)認(ren)(ren)為(wei)是爬(pa)電距(ju)離的(de)(de)構(gou)成(cheng)部分(fen)。如果絕(jue)緣(yuan)子的(de)(de)絕(jue)緣(yuan)件的(de)(de)某些部分(fen)覆蓋有(you)高電阻層(ceng)，則該(gai)部分(fen)應(ying)認(ren)(ren)為(wei)是有(you)效絕(jue)緣(yuan)表面并且沿其(qi)上面的(de)(de)距(ju)離應(ying)包括在爬(pa)電距(ju)離內。

統一爬(pa)電比距unified specific creepage distance（USCD）

絕緣子的(de)爬(pa)電距(ju)離與其兩端承擔(dan)的(de)*高運行電壓(ya)（對于交(jiao)流系統，為(wei)額定相電壓(ya)的(de)1.1倍(bei)）之(zhi)比，mm/kV。

附鹽密度(du)salt deposit density（SDD）

人工涂覆于給定絕(jue)緣子表(biao)面(mian)（不包括金屬部件(jian)和裝配材料）上(shang)氯化鈉總量除(chu)以表(biao)面(mian)積(ji)，mg/cm²。

等值(zhi)附鹽密度(du)equivalent salt deposit density（ESDD）

絕緣(yuan)(yuan)子單位絕緣(yuan)(yuan)表面上的等值附鹽量，mg/cm²。

不溶物密度（簡稱灰(hui)密）non soluble deposit density（NSDD）

絕緣(yuan)子單(dan)位絕緣(yuan)表(biao)面(mian)(mian)上清(qing)洗(xi)的非可溶(rong)殘留(liu)物(wu)總量除以表(biao)面(mian)(mian)積，mg/cm²。

現場等值(zhi)鹽度site equivalent salinity（SES）

根據GB/T 4585進行鹽(yan)霧試驗時的(de)鹽(yan)度。用該鹽(yan)度試驗，在相同(tong)絕緣子和相同(tong)電壓下(xia)，產生(sheng)的(de)泄露(lu)電流峰值(zhi)與現場(chang)自然污穢條件下(xia)的(de)泄露(lu)電流基本相同(tong)。

現場污(wu)穢度site pollution severity（SPS）

在適當的時(shi)間段(duan)內(nei)測量(liang)到的污穢(hui)嚴(yan)重(zhong)程度ESDD/NSDD或SES的*大值。

現場污穢度等(deng)級site pollution severity class

將(jiang)污穢嚴重程度從非常輕到非常嚴重按SPS的分(fen)級。

帶電系數K1 energy coefficient K1

同(tong)形式絕緣子帶(dai)電所測(ce)ESDD/NSDD（SES）值(zhi)與(yu)非帶(dai)電所測(ce)ESDD/NSDD（SES）值(zhi)之比，K1一般為1.1~1.5。

二、LYYMD-2000觸摸屏電導鹽密測試儀功能特(te)點

1)具有量程自動切(qie)換功能，測(ce)量速度快（2.5s/次）。

2)測量(liang)范圍大，鹽密范圍0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2。

3)中(zhong)英文界面可自主切(qie)換。

4)采用480*272彩色觸摸液晶屏幕。

5)可直接顯(xian)示(shi)并打印鹽密度、電導率、溫度、污穢(hui)等級、統一爬電比距。

6)自動進(jin)行溫度補(bu)償，直接顯(xian)示20℃時(shi)的(de)標準電導率和等值(zhi)附鹽（ESDD）。

7)具(ju)有原溶液含鹽量去皮的功(gong)能，降低了對(dui)清洗液的要求。

8)自動將(jiang)不(bu)帶(dai)(dai)電(dian)(dian)測量的鹽密度（ESDD）轉換為帶(dai)(dai)電(dian)(dian)測量的鹽密度（ESDD）。

9)可(ke)(ke)存儲10萬組(zu)記錄(lu)，并可(ke)(ke)將記錄(lu)導出至U盤或通過打印機打印。

10)可查閱、刪除、導出單條(tiao)記錄，也可刪除所(suo)有記錄。

11)內置(zhi)大容量充電鋰電池（2600mAh），適合野外現場使用。

三(san)、產品參數

3.1測量范(fan)圍：

鹽(yan)密(mi)：0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2（按X-4.5型絕緣子為準）

測(ce)量溫度：0℃～100℃

測量電導率：0～200000μs/cm

3.2基(ji)本誤差：

測量鹽密：分辨率0.0001 mg/cm2

滿量程精(jing)度：±2%

測量溫度(du)(du)：分辨率0.1℃，精度(du)(du)±0.5℃

測量電(dian)導率：分辨率0.01μs/cm

3.3環境溫(wen)度：0℃～60℃。

3.4環境濕度：<90%RH。

3.5體積(ji)與重量

整(zheng)機機箱尺寸：長355mm*寬260mm*高(gao)130mm。

整機重量(liang)：約2.5Kg。

四、使用說明

4.1主(zhu)機外觀與功能

4.2測試步驟

4.2.1配置溶(rong)劑

溶(rong)劑選擇：建議使用去離子水或蒸(zheng)餾水。也(ye)可以使用質量(liang)合格的(de)飲用純(chun)凈水，但以電導(dao)率小于10us/cm的(de)水為宜(yi)。如果使用飲用純(chun)凈水，則需要修改“參數(shu)”--“基準值”，將原始溶(rong)液的(de)含鹽(yan)量(liang)作為測(ce)量(liang)數(shu)據的(de)基準值。（詳(xiang)細操作見(jian)功能說明--參數(shu)）

溶劑用(yong)量(liang)：標(biao)準普通型絕(jue)緣子(zi)每(mei)片用(yong)水量(liang)為300ml。但是當被測絕(jue)緣子(zi)的(de)表(biao)面積(ji)與普通絕(jue)緣子(zi)不同時，可參照下表(biao)，根據絕(jue)緣子(zi)表(biao)面積(ji)大小(xiao)按比例適當增減用(yong)水量(liang)。

絕緣(yuan)子表面積與(yu)鹽(yan)密測量(liang)用水量(liang)關系表

請使(shi)用燒杯等玻璃容器(qi)盛裝溶劑，嚴(yan)禁使(shi)用金(jin)屬容器(qi)。金(jin)屬容器(qi)會嚴(yan)重影(ying)響測(ce)量(liang)結果。

4.2.2擦拭取樣

絕(jue)緣子取(qu)樣選擇：普通(tong)懸(xuan)式絕(jue)緣子串選取(qu)上(shang)數(shu)(shu)第2片、中間1片、下數(shu)(shu)第2片。將三(san)片測量(liang)的結(jie)果(guo)求平均值(zhi)作(zuo)為測量(liang)結(jie)果(guo)。

擦拭(shi)方法(fa)：單手(shou)戴上一次性乳膠(jiao)手(shou)套，取(qu)一片(pian)紗(sha)巾放(fang)在溶劑（蒸餾(liu)水）中浸濕(shi)。用(yong)濕(shi)紗(sha)巾將單片(pian)絕緣子的上下表面擦拭(shi)干凈(jing)，將污穢物連(lian)同紗(sha)巾放(fang)入水中攪拌溶解。在擦拭(shi)絕緣子表面時(shi)不要流(liu)失(shi)水分(fen)。

補充(chong)：取樣污穢物(wu)的成(cheng)分分為兩類，一(yi)類為可(ke)溶(rong)(rong)解物(wu)質稱(cheng)為鹽，另一(yi)類為非可(ke)溶(rong)(rong)物(wu)質稱(cheng)為灰。鹽溶(rong)(rong)解于水后成(cheng)為導電離(li)子，儀器(qi)通(tong)過離(li)子濃度來衡量(liang)ESDD。灰在水中為懸(xuan)著物(wu)和沉降物(wu)，沒(mei)有導電性，不影(ying)響ESDD測(ce)量(liang)結(jie)果。測(ce)量(liang)鹽密度ESDD請(qing)使用本儀器(qi)，測(ce)量(liang)灰密度NSDD請(qing)使用絕緣(yuan)子灰密度測(ce)試儀（成(cheng)套裝置(zhi)）。

4.2.3測試

根據實際溶(rong)液(ye)(ye)體積(ji)和(he)絕緣子表面積(ji)修改相關參數。將(jiang)電極頭浸入(ru)被測溶(rong)液(ye)(ye)中，即可讀取鹽密度(du)ESDD、溶(rong)液(ye)(ye)電導率、溶(rong)液(ye)(ye)溫度(du)、污(wu)穢(hui)等(deng)級、統一爬電比距等(deng)結果。

補充：標配電(dian)極(ji)(ji)常數K=1.0的(de)電(dian)極(ji)(ji)，用(yong)(yong)于絕緣子(zi)鹽密度ESDD的(de)測(ce)量。當使用(yong)(yong)鹽密儀用(yong)(yong)作其它用(yong)(yong)途，如測(ce)量工業廢水的(de)電(dian)導(dao)(dao)率，且測(ce)量范圍(wei)在10000～100000us/cm，應換(huan)用(yong)(yong)電(dian)極(ji)(ji)常數K=10的(de)鉑(bo)黑電(dian)極(ji)(ji)。如測(ce)量特殊(shu)化學溶劑(ji)的(de)電(dian)導(dao)(dao)率，其范圍(wei)在1～50us/cm，且需要(yao)高測(ce)量精度時(shi)應換(huan)用(yong)(yong)電(dian)極(ji)(ji)常數K=0.1的(de)鉑(bo)電(dian)極(ji)(ji)。K=10和K=0.1的(de)電(dian)極(ji)(ji)不是標配電(dian)極(ji)(ji)，如需要(yao)請在購置(zhi)時(shi)配置(zhi)。

五、功能說(shuo)明

5.1主(zhu)界面

按鍵詳解(jie):

5.2測量界(jie)面

按下(xia)開始測量按鍵，儀器(qi)進(jin)入測量模式(shi)。如未插電極，儀器(qi)提示“請接入電極”。測試完成后(hou)按“保存結(jie)果”鍵保存結(jie)果或“打印(yin)結(jie)果”鍵打印(yin)。界面如下(xia):

數據詳解：

按鍵詳解:

5.3(1)參(can)數界面(界面1)

觸屏按對應條目選擇修(xiu)改對象，字(zi)體(ti)背景(jing)色為黑色。按“更改參(can)(can)數設置(zhi)”鍵進入修(xiu)改狀(zhuang)態(界(jie)面(mian)2)。參(can)(can)數設置(zhi)完后選“恢(hui)復(fu)出廠(chang)(chang)”會(hui)設定成默(mo)認參(can)(can)數。注意,參(can)(can)數一(yi)旦設定完成,下(xia)次開(kai)機時參(can)(can)數即為設定值(zhi)(不再是默(mo)認值(zhi),除非恢(hui)復(fu)出廠(chang)(chang))。

參數詳細說(shuo)明:

按鍵詳(xiang)解(jie):

(2)更改界面(mian)(界面(mian)2)

當(dang)前選(xuan)中項為紅色背景,通過鍵(jian)盤輸(shu)入數據來更改參數大小。

5.4記(ji)錄(lu)界面

記錄(lu)界面如下:

按鍵詳解:

按“查(cha)看當(dang)前”進入詳(xiang)細記錄界面(mian),在詳(xiang)細記錄界面(mian)中,所有的操作只針對當(dang)前記錄,可以打(da)印單條,導出單條記錄至U盤(pan),刪除(chu)一條記錄,具體界面(mian)如下:

按鍵(jian)詳(xiang)解:

5.5本機界(jie)面

本機界面如下:

功能詳解(jie):

六、維護保養

a)電導電極(ji)在(zai)使用(yong)前應用(yong)蒸(zheng)(zheng)餾水(shui)或(huo)去離子水(shui)浸(jin)泡(pao)，祛除電極(ji)表面的污(wu)物。用(yong)后也(ye)要用(yong)蒸(zheng)(zheng)餾水(shui)清洗干(gan)凈，干(gan)后收藏。要保(bao)持電導電極(ji)的清潔。

b)電(dian)導電(dian)極的電(dian)極頭容易敲碎(sui)。測(ce)量時，小(xiao)心(xin)勿碰撞(zhuang)容器，以免損壞。

c)長(chang)時間(jian)不用時,請將電池電量充(chong)滿(man)后存(cun)放。

七(qi)、配置清單

八、售后(hou)服務

a)儀器(qi)自售出之(zhi)日起一個月(yue)內(nei)，如有質(zhi)量問題，由我公司(si)免費更換新儀器(qi)。

b)儀器一年內(nei)凡質(zhi)量(liang)問題由我公(gong)司免(mian)費維(wei)修。

c)儀器(qi)使用超過一年(nian)，我公司負責(ze)長期維修，適當收取材料費(fei)。

d)若儀器出現故障(zhang)，應寄回本(ben)公(gong)司修理，不(bu)得自行拆開(kai)儀表，否則造(zao)成的自損我(wo)公(gong)司概不(bu)負(fu)責。

e)如購銷合(he)同另有約定的，以合(he)同為(wei)準。

注(zhu)：由于電極為易損物件，不在保(bao)修范圍(wei)內。

附錄A

GB/T16434–1996對(dui)污穢等(deng)級的劃分如下(xia)表(biao)

表1線路和發電(dian)廠(chang)、變電(dian)所污穢(hui)等級

附(fu)錄(lu)B

Q/GDW 152-2006對污(wu)穢等(deng)級(ji)的(de)劃(hua)分如下圖(tu)：

圖1普通盤形絕緣(yuan)子現場污(wu)穢(hui)度與(yu)等值鹽密(mi)/灰密(mi)的關系

注1：E1～E7對應表1中的7種(zhong)典型(xing)污(wu)穢示例(li)，a-b、b-c、c-d、d-e為各級污(wu)區的分界(jie)線；

注2：三(san)條直線分別為(wei)(wei)灰(hui)密鹽密比(bi)值(zhi)為(wei)(wei)10:1、5:1、2:1的(de)等(deng)灰(hui)鹽比(bi)線。

附錄C

GB/T16434–1996污穢(hui)等級與(yu)爬電(dian)比距(ju)的關系如下(xia)表：

標注：

1、表(biao)中爬電(dian)比距計(ji)(ji)算(suan)時取系(xi)統*高線電(dian)壓(ya)（1.1倍額定(ding)線電(dian)壓(ya)），上表(biao)（）內數字為按額定(ding)線電(dian)壓(ya)計(ji)(ji)算(suan)值；

2、計算各污(wu)級下的(de)絕緣強(qiang)度時(shi)仍(reng)用幾何(he)爬電距(ju)離(li)。由于絕緣子(zi)爬電距(ju)離(li)的(de)有效系數需(xu)根據大(da)量的(de)人(ren)工與自然污(wu)穢試驗的(de)結果確(que)定(ding)，目前難以一一列出，見參考件3；

3、對電站設備0級(ji)（220kv及以下爬(pa)電比距為(wei)1.48cm/kv、330kv及以上(shang)爬(pa)電比距為(wei)1.55cm/kv），目(mu)前保留作為(wei)過渡(du)時(shi)期的污級(ji)。

Q/GDW 152-2006統一爬電(dian)比距和現場污穢度的相互關系如下圖(tu)

圖2統一爬電比距和(he)現場(chang)污穢度(du)的(de)相互關系

標注：

Q/GDW 152-2006中(zhong)統一爬電(dian)(dian)比距為(wei)絕(jue)緣子爬電(dian)(dian)距離與絕(jue)緣子兩端*高(gao)運(yun)行電(dian)(dian)壓(ya)（1.1倍額定相電(dian)(dian)壓(ya)）之比。

爬(pa)電(dian)比距和統一爬(pa)電(dian)比距的對(dui)應關系如下表：

附錄(lu)D

常用絕緣子表(biao)面(mian)積及(ji)泄露(lu)距離(li)一覽(lan)表(biao)

補充型號(hao)：

常用(yong)直流絕緣(yuan)子表面積一覽(lan)表